Вторично-ионная масс-спектрометрия

Взаимодействие ионов с веществом. Принцип действия установок. Глубинные профили концентрации. Влияние ионно-матричных эффектов на разрешение по глубине при измерении профилей концентрации. Масс-спектрометрический анализ нейтральных распыленных частиц.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.