Многофункциональный рентгеновский рефлектометр для контроля параметров наноструктур

Описание измерительного комплекса для исследования наноструктур на базе рентгеновского рефлектометра. Спектр аналитических возможностей измерительного комплекса. Проведение рефлектометрического исследования многослойной периодической наноструктуры.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.