Методика оценки интенсивности отказов функциональных узлов интегральных схем
Проблема прогнозирования надежности радиоэлектронной аппаратуры. Анализ модели прогнозирования интенсивности отказов микросхем с точки зрения возможности разделения интенсивности отказов микросхемы на сумму напряженностей отречений кристалла и корпуса.
Подобные документы
- 76. Исследование зависимости вероятности дефолта банков и интенсивности поисковых запросов пользователей
Влияние интенсивности поисковых запросов пользователей с наименованием банка в системе Google на вероятность дефолта российских банков. Взаимосвязь статистики поисковых запросов с потенциальным количеством клиентов банка и спросом на банковские услуги.
статья, добавлен 18.07.2020 Использование оребренного канала как упрощенной модели для анализа тепловых режимов радиоэлектронной аппаратуры кассетного типа с высоким удельным тепловыделением при принудительном воздушном охлаждении. Тепловые характеристики оребренного канала.
статья, добавлен 01.03.2017Модель радиационно-индуцированных токов утечки, обусловленных захваченным зарядом в толстых слоях краевой изоляции. Методы физических и схемотехнических расчетов одиночных радиационных эффектов. Расчет интенсивности сбоев в цифровых элементах памяти.
автореферат, добавлен 08.02.2018Расчет параметров надежности и массы узлов по типу резервирования. Анализ обработки результатов расчета по критериям оптимизации – минимизации массы и максимальному значению вероятности безотказной работы. Польза применения данной математической модели.
статья, добавлен 03.12.2018Сущность способов контроля и диагностика радиоэлектронной аппаратуры. Выявление технологических операций регулировки и настройки. Описание и отличительные черты испытаний радиоэлектронной аппаратуры. Способы поиска неисправностей, ремонт и отладка плат.
статья, добавлен 15.11.2018Анализ маршрутных технологических процессов производства типовых интегральных микросхем. Разработка структурной схемы технологического процесса. Толстопленочные проводники и резисторы. Производство толстопленочных гибридных больших интегральных схем.
курсовая работа, добавлен 10.01.2013Методы преобразованной и сопряженной модели: понятие, преимущества. Применение аппарата теории чувствительности в процессе автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры. Функции параметрической чувствительности механических характеристик.
статья, добавлен 02.11.2018Исследование параметров схемы при изменении номинала конденсатора С1, С2 и С3. Моделирование отказов (короткого замыкания и обрыва) всех электрорадиоэлементов схемы. Назначение элементов управления, выбор параметров диагностики и считывания информации.
курсовая работа, добавлен 01.10.2017Современный процесс по организации производства радиоэлектронной аппаратуры, формы специализации цехов. Основные понятия технологии производства аппаратуры и ее технологические особенности. Основные задачи планирования технологической подготовки.
статья, добавлен 15.11.2018Проект модели устройства реализующего метод ввода по сечениям. Разработка принципиальной схемы и выбор элементной базы. Проектирование модели модуля сжатия и функциональных схем отдельных узлов. Расчет надежности устройства и выбор блока питания.
курсовая работа, добавлен 01.11.2012Моделирование работы схем в программе Electronics Workbench 5.12. Оценка опорного выходного сигнала. Влияние дискретных элементов на отклик схемы. Моделирование отказов. Виртуальная аппаратура в проводимых экспериментах с подробным описанием приборов.
курсовая работа, добавлен 12.11.2017Рассмотрение схем, реализованных на стандартных интегральных микросхемах. Характеристика интегральных микросхем преобразователей кодов, шифраторов и дешифраторов. Исследование принципа действия мультиплексора и демультиплексора и их обобщенной схемы.
реферат, добавлен 21.02.2015Метод диэлектрической изоляции. Комбинированная изоляция элементов интегральной микросхемы. Последовательность операций технологического процесса производства биполярных полупроводниковых интегральной микросхемы с диэлектрической изоляцией элементов.
лабораторная работа, добавлен 14.11.2013Изучение возможных механизмов, вызывающих деградацию и катастрофические отказы микросхем в полях мощного радиоизлучения. Обзор моделей, используемых для анализа механизмов повреждения современных интегральных микросхем при воздействии радиоизлучения.
статья, добавлен 30.10.2018Микроэлектроника как комплекс конструкторских, технологических и схемотехнических вопросов проектирования и изготовления радиоэлектронных приборов с использованием интегральных микросхем, имеющих малые габариты, массу и повышенную механическую прочность.
реферат, добавлен 20.11.2012Теоретические сведения об основных элементах радиоэлектронной аппаратуры. Расчет и схема фильтра Чебышева. Ключевые характеристики конденсаторов, рабочие параметры резисторов, разновидности катушек индуктивности, технические особенности их применения.
курсовая работа, добавлен 14.01.2016- 92. Применение метода токовых графов для схемотехнического проектирования цифровых интегральных схем
Исследование методики схемного проектирования цифровых интегральных схем с применением токовых графов. Преобразование логических функций. Токовый граф логического устройства и его электрическая принципиальная схема. Расчет напряжения питания микросхемы.
контрольная работа, добавлен 22.11.2010 Определение причин отказов радиоэлектронных средств и способов их устранения при помощи автоматизированной подсистемы синтеза и анализа конструкций РЭС на базе АСОНИКА-ТМ. Причины появления механических нагрузок при эксплуатации радиоэлектронных средств.
статья, добавлен 29.11.2016Конструкционные сведения о Зеемановском лазерном гироскопе. Теоретические основы оценки надежности авиационной электроники. Способы повышения отказоустойчивости бортовой аппаратуры. Оценка надежности блока стабилизации тока лазерного гироскопа.
дипломная работа, добавлен 14.07.2020Обзор роли тонкопленочной технологии в производстве интегральных схем. Тонкопленочная металлизация полупроводниковых приборов и интегральных схем. Факторы, влияющие на свойства тонких пленок. Тонкопленочные конденсаторы, пленки тантала и его соединений.
реферат, добавлен 08.12.2012Выбор метода разработки конструкции микросхемы и технологического маршрута ее производства. Определение размеров кристалла полупроводниковой схемы, количество контактных площадок платы. Принципы проектирования резисторов, расчет пленочного конденсатора.
курсовая работа, добавлен 25.05.2015Функции, механические свойства и технические требования к подложкам интегральных микросхем. Определение суммарного припуска на механическую обработку и коэффициента использования материала. Ломка подложек на платы. Сущность процесса скрайбирования.
курсовая работа, добавлен 03.12.2010Анализ метода прогнозирования временных рядов на основе интеграции нечёткой логики и теории хаоса. Особенности применения теории хаоса для повышения точности прогнозирования за счёт определения оптимальной структуры нейро-нечёткой модели прогнозирования.
статья, добавлен 28.02.2017Базовые технологические операции изготовления интегральных микросхем. Операция наращивания на подложке монокристаллического слоя. Получение эпитаксиальных пленок. Использование светочувствительных материалов. Ионное легирование и термическое окисление.
доклад, добавлен 22.05.2016Исследование и характеристика процессов технического обслуживания и ремонта сложных объектов радиоэлектронной техники. Ознакомление с разнотипностью комплектующих элементов: радиоэлектронными, механическими, электромеханическими и гидравлическими.
статья, добавлен 20.02.2016