Исследование морфологии наночастиц SiO2 в полирующих суспензиях методами АСМ (атомно-силовой микроскопии) и СЭМ (сканирующей электронной микроскопии)

Методика получения морфологии наночастиц в концентрированых водных суспензиях на основе пирогенного диоксида кремния, а также силикатного золя, полученного ионообменной технологией. Механизм химико-механической полировка полупроводниковых материалов.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.