Измерение цифровых интегральных схем
Измерение динамических электрических параметров микросхем. Примеры существующих измерительных установок для проверки цифровых интегральных схем. Особенности практической реализации блока коммутации измерительной установки измерительной системы.
Подобные документы
Увеличение размеров рабочей зоны и улучшение чувствительности информационно-измерительной системы радиолокационного комплекса. Разработка алгоритмов математической коррекции технического несовершенства элементов передающего тракта измерительной камеры.
автореферат, добавлен 01.09.2018Исследование электронных ключей на биполярных транзисторах и интегральных логических микросхем. Мультивибраторы на логических элементах. Триггерные структуры на интегральных микросхемах. Принцип действия реверсивного двоичного счетчика импульсов.
методичка, добавлен 18.04.2014Особенность исследования уровня надежности микроэлектронных систем. Анализ отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изучение устойчивости компонентов электронных схем. Основные составляющие исправности программного обеспечения.
лекция, добавлен 22.03.2018Функциональная схема аналогово-цифровых преобразователей. Принципиальные схемы входных и выходных цепей основных серий цифровых микросхем. Описание логических сигналов компаратора микросхем. Инверторы и их применение. Назначение и классификация триггеров.
контрольная работа, добавлен 28.06.2015- 105. Восстановление сигналов при пространственно-временном развертывающем аналого-цифровом преобразовании
Обмен данных в цифровых системах сбора и обработки измерительной информации. Обеспечение пространственно-временного развертывающего преобразования аналого-цифровых сигналов. Восстановление первичных данных с заданной точностью по формуле Лагранжа.
статья, добавлен 30.07.2017 Разработка структурной, функциональной и электрической принципиальной схем цифрового устройства, алгоритм его работы. Выбор и обоснование критериев подбора интегральных микросхем, их сравнительная оценка. Проектирование генератора тактовых импульсов.
курсовая работа, добавлен 24.09.2011Описание модулей для каналов разрабатываемого ядра электроэнцефалограмы информационно-измерительной системы. Синтез основных функций в составе модели ядра. Особенности порядка передачи информации от входного измерительного блока к последующим блокам.
статья, добавлен 30.05.2017Понятие интегральной микросхемы, разработка элементов совместимости материалов. Монтаж активных компонентов гибридной схемы, ее классификация в зависимости от процесса формирования пассивных элементов. Базовая технология создания полупроводниковых схем.
реферат, добавлен 01.02.2011Защита телекоммуникационного оборудования от влияния окружающей среды. Сквозной ток при переключении цифровых микросхем: механизм образования и влияние на помехи в системе питания. Базовые конструкции многослойных плат. Основные способы задания графов.
лекция, добавлен 20.03.2011Диагностика механизма привода лазерного проигрывателя, характеристика схем обработки цифровых сигналов. Последствия нарушений работы ограничительного диода и системы автофокусировки. Выявление неисправностей схем отслеживания, устранение проблем.
реферат, добавлен 25.01.2015Широкое применение интегральных микросхем в цифровой электронике. Разработка структурной схемы устройства автоматизации, управляющего нагревательным элементом печи. Выбор серии интегральных микросхем, датчиков, источников питания, устройства согласования.
курсовая работа, добавлен 25.03.2015Функциональные группы комбинационных микросхем. Функции шифраторов и дешифраторов. Комбинационные логические структуры, преобразующие код числа. Совокупность схем совпадений, формирующих рабочий (управляющий) сигнал. Примеры микросхем дешифраторов.
реферат, добавлен 12.06.2009Арифметические и логические основы цифровой техники. Правила оформления схем цифровых устройств. Принципы построения цифровых устройств. Технико-экономическое обоснование выбора элементной базы. Технологический процесс изготовления печатных плат.
отчет по практике, добавлен 15.03.2023Характеристика экспансии и следствия закона Мура. Анализ нового технологического процесса, представленного корпорацией Intel. Сущность традиционного планарного транзистора. Формирование емкости на затворе. Особенность бесконтактной диагностики микросхем.
контрольная работа, добавлен 11.12.2014Анализ классификации блоков электропитания, разработка их электрических схем. Определение условий эксплуатации блока питания. Выбор вариантов установки элементов на печатную плату. Создание конструкторской документации для печатного узла блока питания.
курсовая работа, добавлен 16.06.2015Транзисторно-транзисторная логика (ТТЛ) со сложным инвертором. Планарная технология производства микросхем. Расчет параметров элементов и топология схемы ТТЛ, расчеты входных и выходных характеристик биполярного транзистора с помощью программы LTSpice.
курсовая работа, добавлен 27.11.2012Описание принципов работы блоков памяти. Разработка электрических схем блоков, селектора адреса. Расчет электрических параметров для высокого и низкого уровней сигнала. Определение суммы средних мощностей, потребляемых микросхемами памяти и логики.
курсовая работа, добавлен 18.05.2014Методика исследования с помощью обобщенных сигнальных графов влияния электромагнитных помех, возникающих в линиях соединения параметрического дифференциального датчика с измерительной цепью. Рекомендации по топологии ИЦ, минимизирующих влияние помех.
статья, добавлен 28.01.2020- 119. Основы электроники
Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий. Принцип действия биполярного и полевого транзисторов. Понятие о классах и режимах усиления. Изучение свойств гетероперехода. Элементы интегральных схем.
презентация, добавлен 13.02.2015 Калибровка преобразователя "напряжение-частота". Расчет коэффициентов для полинома 1-го порядка. Проверка решения с помощью упрощённого критерия Фишера. Получение практических данных, которые проверены методом Кочрена (на равноточность измерений).
лабораторная работа, добавлен 18.12.2016Проблема прогнозирования надежности радиоэлектронной аппаратуры. Анализ модели прогнозирования интенсивности отказов микросхем с точки зрения возможности разделения интенсивности отказов микросхемы на сумму напряженностей отречений кристалла и корпуса.
статья, добавлен 08.12.2018Общая характеристика ошибок при дискретизации по времени и квантованию по уровню сигналов. Подготовка измерительной информации для передачи по каналу связи с использованием двоичной фазовой модуляции. Восстановление сигнала измерительной информации.
курсовая работа, добавлен 15.12.2019Понятие, внутреннее устройство дешифратора, расширение его разрядности, применение и функциональные особенности. Моделирование схем дешифратора и шифратора, элементы их программной среды. Измерительные приборы, источники питания, устройства визуализации.
курсовая работа, добавлен 01.01.2018Анализ модели распределенной информационно-измерительной системы. Стабилизация частоты генераторов при условии задержки между моментами формирования сигнала и оценивание его частотно-временных параметров. Отклонение частоты устройств обработки сигналов.
статья, добавлен 02.04.2019Классификация понижающих конверторов, их особенности и основные трудности реализации в СВЧ и КВЧ диапазонах. Исследование гибридной технологии многослойных интегральных схем на основе керамики с низкой температурой обжига — КНТО, ее использование.
статья, добавлен 27.02.2019