Электрические методы измерения параметров полупроводниковых структур

Определение сущности электронно-дырочного перехода, который является основным элементом большинства полупроводниковых приборов. Рассмотрение и анализ зонной диаграммы гетероперехода. Характеристика особенностей границ раздела "полупроводник–диэлектрик".

Подобные документы

  • Температурная зависимость подвижности и проводимости носителей заряда. Характеристики основных электрофизических свойств полупроводников Ge и Si. Мелкие акцепторные и донорные уровни. Спектральный диапазон оптической прозрачности чистого кремния.

    курсовая работа, добавлен 10.04.2015

  • Определение подвижности носителей заряда в системе, состоящей из органической матрицы на основе поливинилкарбазола, легированной сферическими нанокристаллами (СНК). Исследование фотолюминесценции СНК CdSe/CdS, помещенных в трехмерный фотонный кристалл.

    автореферат, добавлен 18.11.2018

  • Рассмотрение классификации цветных металлов. Определение особенностей их применения и технологии обработки. Приведение основных сплавов алюминия, а так же их свойств, различных магнитных, полупроводниковых и проводниковых материалов из цветных металлов.

    реферат, добавлен 05.05.2016

  • Классификация методов и приборов для измерения температуры. Контактный, бесконтактный и люминесцентный методы измерения. Прямое и косвенное измерение физических параметров, зависящих от температуры. Температурные шкалы Цельсия, Кельвина, Фаренгейта.

    контрольная работа, добавлен 04.04.2018

  • Описание лабораторной установки для исследования температурной зависимости фототока полупроводниковых фоторезисторов. Результаты измерений времени жизни неосновных носителей фототока проводимости в зависимости от температуры и частоты волн облучения.

    статья, добавлен 29.04.2019

  • Изучение терминов "элементная база", "электронные приборы". Достоинства и недостатки полупроводников. История развития техники электронных приборов. Особенности конструкции диффузионно-сплавного транзистора. Общие свойства электронно-дырочных переходов.

    шпаргалка, добавлен 01.04.2017

  • Исследование конструкции и принципов работы полупроводниковых диодов, их классификация и разновидности, а также структура и компоненты. Изучение их основных параметров. Наблюдение изменения параметров стабилитронов от внешних факторов (температуры).

    лабораторная работа, добавлен 25.06.2015

  • Рассмотрение способов измерения электрических величин с помощью технических средств. Исследование устройства и классификации электроизмерительных приборов. Определение методов преобразования физических величин в один из параметров электрических.

    курс лекций, добавлен 10.08.2015

  • Распределение концентрации носителей при монополярной диффузии в кремниевом и германиевом полупроводниках. График распределения Ферми-Дирака, построение диаграмм для перехода из германия. Потенциалы Ферми для дырочного и электронного полупроводников.

    контрольная работа, добавлен 21.10.2018

  • Дискретная структура энергетического спектра электронов в атоме. Энергетические зоны кристалла. Проводники и диэлектрики в свете зонной теории твердых тел. Различие между собственными и примесными полупроводниками. Функция плотности квантовых состояний.

    лекция, добавлен 04.12.2018

  • Ключевые задачи по проблемам хемосорбции молекул кислорода и воды на поверхности полупроводниковых оксидов металлов (ПОМ), их каталитической активности. Механизмы взаимодействия газов с ПОМ. Проблемы сенсорной диагностики, которые требуют решения.

    автореферат, добавлен 02.03.2018

  • Системы электроизмерительных приборов: магнитоэлектрическая, электромагнитная, электродинамическая, индукционная, их основные преимущества и недостатки. Измерение магнитной индукции в сердечнике. Условные обозначения электроизмерительных приборов.

    лекция, добавлен 10.10.2013

  • Определение ширины запрещенной зоны полупроводников по краю собственного поглощения. Правила измерения интенсивности поглощенного излучения. Вычисление температурной зависимости электропроводности полупроводников и металлов. Расчет энергии упругости.

    лабораторная работа, добавлен 19.12.2015

  • Энергетическая структура полупроводников. Квантовые точки, нити и ямы. Определение ширины запрещенной зоны из температурной зависимости электропроводности полупроводников. Исследование спектральной зависимости фоточувствительности полупроводников.

    реферат, добавлен 26.10.2015

  • Выбор силовых полупроводниковых приборов по току и напряжению и проверка их по перегрузочной способности. Расчет и построение внешней и регулировочной характеристик преобразователя. Характеристика типов линейных и цифровых интегральных микросхем.

    курсовая работа, добавлен 10.01.2017

  • Расчет угла открывания тиристора, выбор элементов пассивной защиты силовых полупроводниковых приборов от аварийных токов и перенапряжений. Построение внешних показателей выпрямителя, регулировочная характеристика системы импульсно-фазового управления.

    курсовая работа, добавлен 10.01.2017

  • Закономерности дефектообразования в легированных и нелегированных полупроводниковых материалах методами просвечивающей электронной микроскопии. Расчет энергии дефекта упаковки. Контроль стойкости полупроводниковых материалов к образованию дефектов.

    автореферат, добавлен 26.07.2018

  • Понятие, сущность, принцип работы, устройство и области применения полупроводниковых лазеров. Особенности создания инверсной населенности в полупроводниках. Анализ параметров и структуры лазерного диода. Характеристика основных свойств лазерного луча.

    курсовая работа, добавлен 23.07.2010

  • Определение сущности метрологии - науки об измерениях физических величин. Ознакомление с устройством магнитоэлектрического логометра. Изучение схемы электродинамического прибора, который употребляют для измерения силы тока. Анализ особенностей ваттметра.

    контрольная работа, добавлен 20.03.2015

  • Средства измерения электрических величин. Классификация электроизмерительных приборов. Систематическая погрешность при повторных измерениях одной и той же величины одним и тем же прибором. Основные знаки и символы, наносимые на лицевой панели прибора.

    методичка, добавлен 04.11.2021

  • Характеристика основных элементов электронных систем. Анализ параметров полупроводникового диода. Устройство и основные физические процессы биполярных транзисторов. Исследование оптоэлектронных приборов. Классификация и основные параметры усилителей.

    учебное пособие, добавлен 25.02.2014

  • Особенности и режимы работы силовых приборов, применяемых в устройствах преобразовательной техники, входящих в состав современных электротехнических и электроэнергетических систем. Применение полупроводниковых диодов, тиристоров и транзисторов.

    учебное пособие, добавлен 06.09.2016

  • Светодиод или светоизлучающий диод как полупроводниковый прибор, излучающий некогерентный свет при пропускании через него электрический ток. История разработки и усовершенствования электронно-дырочного перехода. Долговечность и надежность светодиода.

    реферат, добавлен 29.08.2015

  • Исследование характеристик полупроводниковых диодов, устройств на их основе. Определение параметров биполярного транзистора. Изучение схем на основе операционного усилителя. Характеристики аналоговых компараторов напряжения. Исследование цифровых систем.

    методичка, добавлен 25.12.2012

  • Исследование типов электропроводности. Описания полупроводниковых веществ. Электронно-дырочный переход в электрическом поле, его образование. Параметры туннельного диода. Свойства обращенных диодов. Зависимость емкости варикапа от обратного напряжения.

    презентация, добавлен 23.06.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.