Методы и приборы для исследования фотонных кристаллов
Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
Подобные документы
Описание конструкции и принципа работы электронно-лучевого осциллографа. Способ и схема измерения сопротивления заземлителя. Конструкция, принцип работы и область применения электрического преобразователя электролитического типа, его главные функции.
контрольная работа, добавлен 13.01.2011Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Особенность компьютерного моделирования и расчета освещенности в сложных сценах с использованием фотонных карт. Обеспечение эффективной и физически аккуратной модели распространения света. Использование метода, основанного на лучевом методе расчетов.
статья, добавлен 07.12.2018Методы и приборы измерения температуры, электрического сопротивления, массы, плотности и давления. Характеристики, свойства и применение дилатометра, дифференциально сканирующего калориметра, весов с приставкой, универсальной разрывной машины, автоклава.
отчет по практике, добавлен 22.11.2015- 55. Жидкие кристаллы
Обзор свойств и практического применения жидких кристаллов. Очерк научных исследований состояния текучего жидкокристаллического вещества. Анализ упругости, энергии и гидродинамики кристаллов. Оптические свойства вещества в результате действия света.
курсовая работа, добавлен 28.09.2013 - 56. Твердые тела
Изучение структуры твердых тел. Исследования электрических свойств полупроводников. Симметрия и классификация кристаллов. Кристаллическая структура и дифракция. Закономерности построения кристаллов, характеристика сил, которые удерживают в них атомы.
реферат, добавлен 10.12.2014 Приборы с четырехслойной структурой как подвид семейства полупроводниковых приборов. Устройство, принцип работы, обозначения диодных и триодных тиристоров, их вольтамперные характеристики. Включение триодных тиристоров постоянным и импульсным токами.
контрольная работа, добавлен 11.09.2013Влияние закалки на термолюминесценцию кристаллов фтористого натрия чистого и с примесью церия. Связь между радиационными центрами и пиками термолюминесценции. Легирование кристаллов и их закалка, образование в них центров окраски в большем количестве.
статья, добавлен 20.05.2018Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Исследование влияния эффектов радиационного повреждения сцинтилляционных кристаллов на параметры детекторов каскадных ливней. Анализ методов восстановления оптического пропускания кристаллов на основе оптического облучения и низкотемпературного отжига.
автореферат, добавлен 29.03.2018Термоэлектрические преобразователи: принцип действия, применяемые материалы. Уравнение теплового баланса. Напряжение на выходе термопары. Погрешности и поправки измерений термопарой. Методы контактных электроизмерений средних и высоких температур.
реферат, добавлен 17.06.2013Электроизмерительные приборы магнитно-электрической системы. Классификация электроизмерительных приборов (вольтметр, амперметр, омметр, ваттметр, частотомер, мультиметры, электрические счетчики), их принцип действия, конструкция и способ применения.
презентация, добавлен 06.05.2013Современная Международная температурная шкала. Устройства для измерения температур. Контактные методы измерения (термометры расширения, жидкостные, биметаллические, дилатометрические, манометрические). Общие сведения о термометрах сопротивления.
контрольная работа, добавлен 11.05.2018История открытия рентгеновских лучей и первые рентгеноскопические исследования. Возникновение и свойства рентгеновского излучения. Модели структур кристаллов по У. Брэггу. Сущность способов рентгеновской микроскопии: контактный и диффракционный.
реферат, добавлен 08.04.2013Схема системы управления и конструкция теплового узла лабораторной установки для выращивания галоидных кристаллов методом направленной кристаллизации в гарнисаже. Применение кристаллических материалов. Спектр поглощения и пропускания образцов кристаллов.
статья, добавлен 29.01.2016Основы метрологического обеспечения. Особенности электрических измерений. Виды, средства и методы определения физической величины. Основные классы погрешностей измерений и обработка результатов. Электроизмерительные приборы непосредственной оценки.
курс лекций, добавлен 26.10.2012Устройство и порядок работы электронного осциллографа. Принцип отображения формы исследуемого напряжения на экране электронно-лучевой трубки. Группы и схемы соединения обмоток трансформатора. Меры защиты при аварийном состоянии электроустановок.
шпаргалка, добавлен 20.01.2010Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Исследование физической сущности линз и сферических зеркал. Изучение особенностей количественных измерений энергетических характеристик поля излучения. Анализ специфики функционирования оптических приборов. Выяснение ограничений на увеличение микроскопа.
лекция, добавлен 10.10.2014Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Сферы применения оптики. Методы контроля на этапе изготовления детали. Техника для измерения радиуса кривизны оптических стекол. Характеристика интерференционного изучения стекол. Определение радиуса кривизны с помощью автоколлимационного микроскопа.
презентация, добавлен 28.12.2015Сущность полярографического и кулонометрического методов исследования: приборы и оборудование, достоинства и недостатки, среда использования. Схема полярографа системы Гейровского, принцип его действия. Проблема побочных реакций на электродах.
реферат, добавлен 19.12.2014Проведение исследования фотоориентации жидких кристаллов с помощью бензальдегидсодержащих фотополимеров. Существенная особенность изучения возможности создания управляемых дифракционных элементов, формирующих сингулярные и бесселевые световые пучки.
статья, добавлен 07.12.2018Приборы, измеряющие температуру, датчики температуры на летательных аппаратах для получения информации о тепловом режиме работы двигателя. Методы измерения температуры: объемный, манометрический, терморезисторный, термоэлектрический и пирометрический.
реферат, добавлен 28.06.2011Характеристика заданной физической величины и её применение. Способы, датчики и приборы используемые для измерения заданной величины. Измерение активных сопротивлений способом вольтметра и амперметра. Мосты Уитстона, электронные омметры, их назначение.
реферат, добавлен 07.01.2020