Надежность и радиационная стойкость микроэлектронных приборов и систем

Временная и дозовая кинетика туннельной релаксации неравновесных приграничных заряженных дефектов в изоляторах. Описание логарифмической туннельной релаксации как интеграла свертки по профилю мощности дозы с точной импульсной функцией линейного отклика.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.