Метод просвечивающей электронной микроскопии
Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
Подобные документы
Изучение структуры и элементного состава одно- и двухслойных конденсатов на основе высокотемпературных сверхпроводящих материалов, полученных из абляционной плазмы, инициированной импульсным лазерным воздействием. Метод растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 30.10.2010Краткие сведения о тонких пленках и основные процессы, происходящие при их формировании. Методы получения тонких пленок и сравнительные характеристики этих методов. Принципы действия и конструкции установок для магнетронного нанесения тонких пленок.
учебное пособие, добавлен 13.03.2016Особенности разработки клистронов. Предложен отказ от модели одномерного движения электронов и использование нового 3D принципа образования электронных сгущений в неоднородном магнитном поле без предварительной модуляции продольной скорости электронов.
статья, добавлен 03.11.2018Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Атомная структура и физические свойства углеродных нанотрубок. Анализ структуры нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения и электронной дифракции. Положение гексагонов на электронной дифрактограмме хиральной одностенной нанотрубки.
статья, добавлен 30.05.2017Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Анализ способа улучшения качества радиотепловых изображений, использующего априорную информацию о статистических характеристиках спектров объектов аналогичного класса. Рассмотрение вида типичного пространственного амплитудного спектра изображения.
статья, добавлен 30.10.2018Физический процесс, приводящий к экспериментально-наблюдаемой картине дифракции электронов. Уравнение для длины волны. Экспериментальная установка для изучения дифракции электронов на кристаллических структурах. Изображение электронно-лучевой трубки.
лабораторная работа, добавлен 01.09.2020Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Механические гармонические колебания. Изображение предметов с помощью линз. Дифракция сферических и плоских волн. Универсальная функция Кирхгофа. Применение уравнения Шредингера для свободной частицы. Прохождение частицы сквозь потенциальный барьер.
курс лекций, добавлен 14.10.2012Модель пучковой системы, позволяющая с малыми погрешностями рассчитывать характеристики процессов для малых и больших разбросов энергии электронов в пучке. Зависимость времени развития неустойчивости от ширины спектра релятивистского электронного пучка.
статья, добавлен 27.07.2016Описание взаимодействия электромагнитного излучения с мелкой неоднородной сферической частицей с использованием кинетической теории электронов в металлах. Расчет электрической проводимости для тонких металлических проволок различных форм сечения.
автореферат, добавлен 02.03.2018Ознакомление с примером идентификации структуры индивидуальной углеродной нанотрубки. Рассмотрение результатов экспериментов по резонансной спектроскопии. Исследование и анализ данных электронной микроскопии, электронной дифракции и спектроскопии.
статья, добавлен 29.06.2017Метод определения спиновой поляризации электронов проводимости ферромагнитного металла с помощью туннельного контакта, другой электрод которого является тонкой сверхпроводящей пленкой. Отличие неравновесного от равновесного распределения Ферми-Дирака.
статья, добавлен 26.06.2016Анализ влияния внедрения физических и химических методов на развитие экспериментальной биологии. Физические основы растровой электронной микроскопии. Оптическая спектроскопия. Метод изотопных индикаторов. Наблюдение спектральных линий в твердых телах.
реферат, добавлен 05.06.2015Характеристика устройств магнитоэлектрического и электронного осциллографов. Область их применения и принципы работ. Обоснование физических процессов, способствующих выводу изображения на экране ЭЛТ. Структура измерения амплитуды и частоты сигнала.
лабораторная работа, добавлен 02.08.2013Понятия вероятности, плотности вероятности. Законы распределения случайных величин. Описание методик измерений распределения электронов в электронной радиолампе по скоростям. Расчет наиболее вероятной скорости электронов и температуры электронного газа.
методичка, добавлен 16.03.2015Изучение радиальных относительно ядра атома групп электронов с одинаковым значением орбитального квантового числа и одинаковой очередностью появления на подоболочках. Установление орбитального принципа запрета, регулирующего распределение электронов.
статья, добавлен 29.04.2017Явление эмиссии оже-электронов при возбуждении внутренних электронных уровней первичным пучком. Зависимость вероятности проявления эффекта от атомного номера исследуемого элемента. Главный анализ обоснования необходимости наличия сверх высокого вакуума.
контрольная работа, добавлен 20.10.2014Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Общее понятие об электрическом заряде. Дискретный ряд разрешенных энергий, с которыми могут существовать электроны в атоме. Заряженные частицы в твердом теле. Функция распределения Ферми-Дирака. Определение концентрации электронов в зоне проводимости.
лекция, добавлен 27.09.2017Линза - оптически прозрачное тело, ограниченное сферическими поверхностями. Применение их свойств для нахождения изображения графическим методом. Фокус как точка, в которой лучи после преломления собираются. Ход пучков света через рассеивающую линзу.
конспект урока, добавлен 05.03.2014Изучение зависимости параметров тока пучка и его распределение вдоль длины колец от амплитуды магнитного поля вдоль оси системы и градиента спада поля. Исследование режима формирования сгустков электронного тока. Параметры радиального и осевого токов.
статья, добавлен 01.03.2017