Аналитическая оценка масштабируемости параллельных методов моделирования цифровых устройств с неисправностями

Аналитические оценки методов параллельного моделирования с неисправностями цифровых устройств на логическом уровне представления. Оценка времени моделирования в зависимости от числа вычислительных ядер. Параметры масштабируемости разработанных методов.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.