Исследование точности позиционирования объектов при оптической микроскопии с управлением через интернет
Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
Подобные документы
- 51. Основы оптики
Определение оптической разности хода световых волн, возникающих при отражении монохроматического света от тонкой пленки. Условия максимального усиления света. Определение минимальной толщины пленки. Расчет оптической длины пути пройденного светом.
задача, добавлен 03.07.2015 Понятие и структура (плоские зеркала, отражающие призмы) центрированной оптической системы. Построение хода луча произвольного направления в тонкой собирающей линзе и изображения предметов. Определение фокусного расстояния и оптической силы линзы.
доклад, добавлен 12.03.2012Определение погрешности равноточных измерений. Проверка вольтметра на соответствие классу точности. Оценка погрешности прямого однократного измерения напряжения. Расчет падения напряжения на резисторах. Определение линейной функции преобразования.
практическая работа, добавлен 13.11.2016Исследование прибора для измерения температуры на основе терморезистивного преобразователя (термометра сопротивления). Методические погрешности контактных методов. Измерительные цепи термометров сопротивления. Погрешности, обусловленные терморезистором.
методичка, добавлен 17.01.2018Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020- 56. Электроснабжение
Назначение подстанций, принципы их построения. Электромагнитные приводы, их применение, устройство, конструкции. Приводы масляных выключателей, состав их основных узлов. Структура электростанций, основные их типы. Электрические аппараты, их классификация.
курсовая работа, добавлен 11.11.2013 Аберрации как характеристика качества оптической системы. Разработка эффективных методов измерения параметров оптических деталей. Определение астигматизма и кривизны поля изображения. Рассмотрение способов оценки качества изображений оптических систем.
реферат, добавлен 17.05.2015Рассмотрение возможностей применения универсального опорного спектра в адаптивном методе опорного изображения для улучшения качества радиотепловых изображений миллиметрового диапазона волн, использующего известную аппаратную функцию оптической системы.
статья, добавлен 30.10.2018Физические причины дисимметрии живых систем. Физическая суть ориентированного объема в оптической активности и фазовых переходах 3 рода и условий, обуславливающих градиент давления в трансформации замкнутой системы термодинамики в открытую систему.
статья, добавлен 27.02.2019Начальный угол поворота ведущего звена. Метод размыкания кинематической цепи. Древовидная структура кинематической цепи. Составление уравнения суммы моментов сил, приложенных к звену, при условии его равновесия. Определение угла направления силы.
реферат, добавлен 10.05.2015Исследование влияния точности оценки параметров асинхронного двигателя на наблюдаемую величину потока ротора и устойчивость системы управления. Структурная схема электропривода с векторным управлением. Особенности ограничения точности оценки параметров.
статья, добавлен 25.08.2020Расчет заданной электрический цепи при синусоидальном входном воздействии. Оценка точности расчета методом баланса мощностей. Построение векторной диаграммы токов и напряжений. Анализ переходных процессов в цепи при ступенчатом входном воздействии.
реферат, добавлен 30.08.2012Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Ограничение возможностей регистрации самосветящихся объектов пределами глубины резкости оптической системы, строящей изображение частиц. Существенное расширение глубины регистрируемой сцены. Выявление геометрических и статистических параметров объектов.
статья, добавлен 06.06.2018Разработка оптического сенсора с заданными свойствами, имеющего взрывобезопасное исполнение, которое достигается применением оптической схемы измерения. Анализ чувствительности и селективности элементов на основе газохромных пленок WO 3 /Pd и NіOOH.
статья, добавлен 29.07.2016Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Предложены формулы расчета геометрической и дифракционной составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифрового микроскопа. Отличия в расчете составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифровой и визуальной микроскопии.
статья, добавлен 29.01.2019- 69. Исследование цепи постоянного тока методом узловых напряжений и методом эквивалентного генератора
Экспериментальное подтверждение расчёта цепей постоянного тока. Метод двух узлов, узловых напряжений и метод эквивалентного генератора напряжения. Построение потенциальной диаграммы напряжения участков цепи. Вычислительные и инструментальные погрешности.
лабораторная работа, добавлен 12.11.2015 Необходимое условие интерференции волн, их когерентность. Наблюдение интерференции света. Методы и приборы, используемые для получения когерентных лучей. Исследование картины интерференции с помощью колец Ньютона. Формула оптической разности хода.
курсовая работа, добавлен 21.11.2013Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Выбор ионно-оптической системы для источника квазимонохроматического рентгеновского излучения, состоящей из двух дублетов электростатических квадрупольных линз. Рассмотрение двух вариантов запитывания линз, обеспечивающих стигматическую фокусировку.
статья, добавлен 11.09.2013Особенности измерения силы тока и удельного сопротивления проводника в электрической цепи. Показатели средней абсолютной погрешности физических приборов. Зависимость силы тока от сопротивления по закону Ома, значение диаметра проволоки проводника.
лабораторная работа, добавлен 01.11.2015Анализ конструкции встроенного электромагнитного привода механического тормоза электродвигателей. Разработка технических решений, повышающих использование материала обмоточного провода. Применение двух секций обмотки с разными сечениями проводников.
статья, добавлен 30.05.2018