Основы сканирующей зондовой микроскопии
Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
Подобные документы
Выявление противоречий в оценке разрешающей способности электронных микроскопов и установление её величины, близкой к реальной. Определение расстояния между протоном и электроном атома водорода в момент пребывания его на любом энергетическом уровне.
лекция, добавлен 05.02.2019Создание надежных методов расчета пристеночных слоев вблизи тел, обтекаемых низкотемпературной плазмой, в широком диапазоне изменения числа Кнудсена. Разработка теории нестационарного зонда. Анализ методов зондовой диагностики плазменных потоков.
автореферат, добавлен 02.03.2018Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014Характеристика основных источников влияния на узел связи. Описание амплитудно-временных форм воздействующих на аппаратуру связи и ее узел электропитания импульсов перенапряжений и токов. Расчет спектра воздействующих импульсов и защитного заземления.
курсовая работа, добавлен 10.02.2019Основные электроприемники и особенности режимов их работы. Режим работы сети с резонансно-заземленными нейтралям. Заземляющие устройства и меры электробезопасности. Маркировка и области применения установочных проводов. Элементы конструкции кабелей.
учебное пособие, добавлен 05.12.2014Сущность, задачи огнеупорных материалов, их процесс классификации. Определение его плотности. Порядок изучения видов пористости. Определение массы пропитанного образца, плотности воды при температуре 20°С. Расчет массы насыщенного жидкостью образца.
лабораторная работа, добавлен 07.10.2015Метод определения перемещений, основанный на вычислении потенциальной энергии деформации. Задача нахождения перемещений точек упругой системы по направлению действия приложенных к этой системе внешних сил. Обобщенная расчетная модель к теореме Кастильяно.
лекция, добавлен 22.10.2014Применение зондов из вольфрамовой проволоки в сканирующих туннельных микроскопах. Рассмотрение метода электрохимического травления в растворе щелочи. Погружение в электролит кольцевого электрода. Изменение напряжения на зонде в процессе травления.
статья, добавлен 02.04.2014Метод определения перемещений точек балки, основанный на вычислении потенциальной энергии деформации. Теорема Кастильяно, ее применение для нахождения перемещений точек упругой системы по направлению действия приложенных к этой системе внешних сил.
лекция, добавлен 30.07.2013Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Условия взаимодействия рабочего органа объемного рыхлителя с грунтом. Вертикальные составляющие усилий, действующие на элементы рабочего органа, способствующие подъему и рыхлению грунта. Анализ силовых воздействий на рыхлитель, его режущие элементы.
статья, добавлен 19.05.2018Характеристики, устройство, виды и принцип работы измерительных преобразователей. Физические основы их работы и применение в системах автоматического контроля или регулирования. Анализ конкретной структурной схемы САР, ее характеристики и описание работы.
курсовая работа, добавлен 16.12.2009Общее состояние исследований в области синтеза и моделирования структуры и электронного строения неуглеродных нанотрубок. Основные геометрические характеристики тубулена. Применение метода сканирующей электронной микроскопии для синтеза нанотрубок.
реферат, добавлен 20.01.2014Рассмотрены основные проблемы, возникающие при выборе аппаратов защиты электродвигателей от аварийных режимов работы. Автором предложены наиболее распространенные устройства защиты и проведена их классификация с кратким описанием каждого класса.
статья, добавлен 06.12.2018Устройство автотрансформаторов, элементы автотрансформатора и их принцип действия. Защита от внешних замыканий, результирующее сопротивление и расчеты. Составление схемы замещения, использование дифференциального принципа для защиты трансформаторов.
курсовая работа, добавлен 02.04.2023Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Анализ углеродных материалов, полученных методом электронной сканирующей микроскопии. Образование при пиролизе толуола углеродных нанотрубок, форма и размер которых зависят от давления в системе. Материал, полученный восстановлением двуокиси углерода.
статья, добавлен 03.12.2018Сущность и значение релейной защиты электрических сетей, история развития и основные требования к ней. Повреждения и ненормальные режимы работы энергосистемы, методика проврки ее исправности. Релейная защита подстанций и принципы их безперебойной работы.
отчет по практике, добавлен 10.05.2015Признаки защиты, получаемые путем обработки цифровых сигналов микропроцессорными средствами релейной защиты и автоматики. Селективная идентификация режима работы электрооборудования электрических сетей, электроэнергетических и систем электроснабжения.
статья, добавлен 19.12.2017Изучение физической сути явлений электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса. Рассмотрение их использования в медико-биологических исследованиях. Описание устройства и принципа работы спектрометров ЭПР, метода спинового зонда.
презентация, добавлен 17.12.2016Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Электронно-оптическая система как совокупность электродов, магнитов, проводников, обтекаемых током. Характеристика основных направлений электронной микроскопии. Методы просвечивающей и растровой микроскопии. Принципиальная оптическая схема микроскопа.
реферат, добавлен 20.11.2016Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Проектирование электроснабжения и электрооборудования цеха обработки корпусных деталей. Расчет силовой электрической нагрузки. Выбор мощности трансформаторов, аппаратов защиты (автоматов и предохранителей). Проверочный расчет заземляющего устройства.
курсовая работа, добавлен 27.11.2014