Адаптивна поляриметрія послідовного зондування однорідних анізотропних об’єктів

Розгляд структури характеристичної матриці узагальненого вимірювального рівняння в рамках методу послідовного зондування. Аналіз впливу недосконалостей елементів поляриметра на величини індивідуальних похибок параметрів Стокса і елементів матриці Мюллера.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.