Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхоньмонокристалів GaAs І Si
Розробка методики для контролю геометричного стану слабкорельєфної поверхні підкладинок методом багатокутової еліпсометрії. Дослідження чутливості еліпсометричного методу до визначення геометричних і оптичних параметрів квантово-розмірних структур.
Подобные документы
Дослідження оптичних властивостей поверхонь малих тіл внутрішнього та зовнішнього поясів Сонячної системи. Визначення закономірностей в розподілі різних типів поверхні та орбітальних параметрів. Фізико-хімічна структура внутрішньої частини поясу Койпера.
автореферат, добавлен 30.08.2014Аналіз умов збудження й поширення поверхневих плазмових поляритонів в багатошарових твердотільних системах. Визначення геометричних, статистичних параметрів мікрорельєфу профільованих поверхонь з різною морфологією, їх вплив на умови плазмового резонансу.
автореферат, добавлен 25.04.2014Фізичні умови формування обвідних спектрів багатопроменевої інтерференції. Визначення параметрів одношарових непровідних плівково-поверхневих структур при нормальному проходженні променем світла меж поділів. Принцип побудови інтерференційного сенсора.
автореферат, добавлен 27.12.2015Фізичні властивості низькорозмірних напівпровідникових гетероструктур. Дослідження морфологічного переходу від двомірного псевдоморфного росту до трьохмірного в InxGa1-xAs/GaAs наноструктурах. Комбінаційне розсіювання світла в InAs/Al(Ga)Sb структурах.
автореферат, добавлен 30.10.2015Дослідження взаємозв’язку змін мікрорельєфу поверхні з особливостями оптичних властивостей модифікованого іонним бомбардуванням поверхневого шару металевих модельних об’єктів. Визначення впливу поверхневих шарів на оптичні властивості вибраних систем.
автореферат, добавлен 27.07.2015- 31. Епітаксіальні надгратки та квантові структури з монохалькогенідів свинцю, олова, європію та ітербію
Теоретичне встановлення закономірностей та ефектів, пов’язаних з переходом до низьковимірного стану епітаксіальних надграток з халькогенідних напівпровідників з невідповідністю грат суміжних шарів. Електричні, оптичні та магнітні властивості надграток.
автореферат, добавлен 29.08.2014 Розробка нових акусто-оптичних методик дослідження об’ємних монокристалів та сучасних низькорозмірних структур - напівпровідникових гетеропереходів, квантових ям та мікрокристалітів. Спостереження нових порогових акусто-оптичних ефектів у твердих тілах.
автореферат, добавлен 23.11.2013Взаємозв’язок між морфологією та ефективними оптичними параметрами композитних гетеросистем з нанорозмірними металевими та діелектричними складовими. Адсорбція молекул з газових середовищ. Використання способів та методів поляритонної еліпсометрії.
автореферат, добавлен 30.07.2015Розробка аналітичних і експериментальних методів визначення модового складу поля випромінювання круглих оптичних волокон і температурної залежності набігу фаз власних мод круглих оптичних волокон. Обертальний ефект Доплера в маломодових оптичних волокнах.
автореферат, добавлен 23.08.2014Дослідження оптичних властивостей однокомпонентних та багатокомпонентних газових середовищ, а також залежності показника заломлення від параметрів стану газу в багатокомпонентних сумішах. Аналіз оптичних та теплових процесів для вимірювання витрати газу.
автореферат, добавлен 01.08.2014Розробка нового методу Фур'є-інфрачервоної спектроскопії для реєстрації малої кількості біологічних молекул та визначення їхнього конформаційного стану. Квантово-хімічні розрахунки геометрії та енергії стабілізації комплексів фрагменту ДНК-нанотрубка.
автореферат, добавлен 25.08.2015Побудова комп'ютеризованої інформаційно-вимірювальної системи контролю стану електромережі й обліку електроспоживання. Розробка алгоритму розрахунку режимів роботи електричної схеми розподільної мережі. Оцінка чутливості пристрою контролю струмів.
автореферат, добавлен 10.10.2018Адаптація методів двокристальної високороздільної Х-променевої дифрактометрії для діагностики короткоперіодних надграток. Проведення комплексу високороздільних дифрактометричних досліджень структурних та деформаційних характеристик багатошарових структур.
автореферат, добавлен 14.09.2014Встановлення та пояснення оптичних властивостей пористого кремнезему. Побудова моделей адсорбційних центрів на поверхні пор. Вивчення тонких металевих плівок, осаджених на поверхню кремнезему лазерним методом. Оптичні параметри осадженої плівки.
автореферат, добавлен 27.02.2014Розгляд групи ефектів збільшення інтенсивності оптичних процесів поблизу шорсткої поверхні або металів. Властивості електромагнітних хвиль і локальних коливань. Аналіз біоорганічних молекул у агрегатному стані. Механізми підсилення в ефекті "SEIRA".
автореферат, добавлен 10.09.2014Системи векторного керування асинхронним електроприводом. Моделі та функціональні схеми контролю параметрів асинхронних двигунів. Алгоритми контролю параметрів АД, що основані на зрівноваженні. Схема системи векторного керування з контролем параметрів АД.
автореферат, добавлен 30.07.2015Розробка пристроїв для реалізації схеми двокристального спектрометру. Оцінка структурних змін і параметрів можливих дефектів в імплантованих фосфором приповерхневих шарах пористого кремнію. Дослідження будови поверхні методом атомно-силової мікроскопії.
автореферат, добавлен 28.07.2014Розробка способів створення тонких рідких прошарків і методики контролю їх товщини. Умови формування приповерхневих структурованих шарів в надтонких прошарках немезогенів. Вплив мікроструктури поверхні підкладки на параметри епітропної фази немезогенів.
автореферат, добавлен 30.07.2015Опис методу обчислення конфігурації ближнього поля поверхні напівпровідника з неоднорідним розподілом носіїв заряду під нею. Створення методик обраховування параметрів поверхні - коефіцієнта дифузії, часу релаксації, швидкості поверхневої рекомбінації.
автореферат, добавлен 26.09.2015Дослідження впливу електричної компоненти надвисокочастотного поля на спектр електронного спінового резонансу домішки Mn у кристалах GaAs. Розрахунок електронної структури та параметрів надтонкої взаємодії для ряду дефектів у SiC і кремнієвих матеріалах.
автореферат, добавлен 25.08.2014Аналіз геометричних параметрів траєкторії руху вершини зуба фрези при обробці профілю внутрішньої конічної різі замкового типу. Розрахунок граничних геометричних параметрів фрези залежно від параметрів оброблюваної різі. Умови технологічного забезпечення.
статья, добавлен 29.07.2016Встановлення зв'язку між топологічними характеристиками різних типів поляризаційних сингулярностей. Розробка нових методів фізичного моделювання різних типів оптичних сингулярностей і дослідження таких штучних оптичних особливостей у сучасній фізиці.
автореферат, добавлен 24.06.2014Спектроскопія амплітуди і фази світла, відбитого та пропущеного одношаровою плоскопаралельною плівкою. Визначення характеристик інтерферограм через значення коефіцієнтів відбиття і пропускання світла плівкою в екстремумах смуг інтерференції Фабрі-Перо.
автореферат, добавлен 28.07.2014Вивчення основних підходів до визначення параметрів глибоких рівнів у напівпровідниках та приладах на їх основі. Розробка автоматизованого релаксаційного спектрометра глибоких рівнів, орієнтованого на дослідження сучасних напівпровідникових приладів.
автореферат, добавлен 21.11.2013Елементний склад і розподіл елементів по глибині для плівок SiOX у залежності від методу їх формування та механізми впливу технологічних параметрів отримання на їх властивості. Вплив домішки азоту на формування структур із кремнієвими нанокластерами.
автореферат, добавлен 26.09.2015