Методы визуализации поверхности
Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
Подобные документы
Рассмотрение способа увеличения длины волоконно-оптического канала связи квантово-криптографической системы. Техническая сторона физического ограничения длины волоконно-оптической линии связи. Способы увеличения длины волоконно-оптического канала связи.
статья, добавлен 07.08.2020Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019История возникновения, применение и предназначение микроскопа, характеристика и отличительные черты его видов. Принцип построения простого и сложного микроскопа, ход лучей в приборе. Замечание о максимальном увеличении микроскопа, предел его разрешения.
реферат, добавлен 23.04.2017Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Анализ влияния внедрения физических и химических методов на развитие экспериментальной биологии. Физические основы растровой электронной микроскопии. Оптическая спектроскопия. Метод изотопных индикаторов. Наблюдение спектральных линий в твердых телах.
реферат, добавлен 05.06.2015Разработка растровой электронной микроскопии с целью исследования наномасштабов. Особенности и принцип работы атмосферного растрового электронного микроскопа ClairScope, его преимущества по сравнению с оптическим микроскопом. Новые приборы фирмы ASPEX.
реферат, добавлен 20.10.2013Исследование аналитических методов, используемых для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Специфика применения масс-спектрометрии.
статья, добавлен 29.01.2019Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
лекция, добавлен 12.08.2015Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Понятие и структура (плоские зеркала, отражающие призмы) центрированной оптической системы. Построение хода луча произвольного направления в тонкой собирающей линзе и изображения предметов. Определение фокусного расстояния и оптической силы линзы.
доклад, добавлен 12.03.2012- 37. Дисперсия света
Основы классической электронной теории. Виды и способы наблюдения дисперсии световых волн. Схема оптического прибора для визуального наблюдения спектра излучения. Изучение закона М. Бугера и метода Д. Рождественского. Применение интерферометра П. Жамена.
реферат, добавлен 01.10.2015 Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Получение качественней или количественной информации об окружающем нас мире как основная функция оптического прибора. Схема взаимного расположения оптических деталей оптической системы. Основные виды оптических приборов. Особенности классификации луп.
реферат, добавлен 03.10.2018Основные характеристики интернационального термоядерного реактора. Принцип действия ветряных электростанций. Методы преобразования энергии солнечной радиации в постоянный электрический ток. Составные части дизельного или бензинового электроагрегата.
статья, добавлен 06.08.2015Виды устройств для преобразования энергии солнца в тепловую. Конструкция и элементы плоского солнечного коллектора. Схема и принцип работы вакуумных трубок. Снижение теплопотерь помещений. Методы повышения коэффициента полезного действия гелиостанций.
статья, добавлен 26.04.2019Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Характеристика наноструктуры ферромагнетик/материал с большим спин-орбитальным взаимодействием. Магнитооптические эффекты. ЭЭК в проходящем свете. Перспективные магнитные наноструктуры для создания различных энергоэффективных спинтронных устройств.
курсовая работа, добавлен 07.12.2019Рассмотрение длины волны света в опыте Ллойда. Определение ширины интерференционных полос в отраженном свете. Расстояние между линзой и экраном. Интенсивность света при прохождении через поляроид и никель. Максимальная плотность энергии излучения.
контрольная работа, добавлен 04.06.2014История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013Методы измерения углов между плоскими полированными гранями твердых тел. Показатель преломления вещества, методы измерения. Дисперсия вещества, методы определения. Особенности устройства, оптическая схема гониометра и анализ методики работы с ним.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Контактные методы измерения температуры. Оптическая, радиационная, мультиспектральная пирометрия. Приборы, установки и методы исследования. Охлаждаемые, неохлаждаемые и мультиспектральные тепловизоры. Анализ источников погрешностей и путей их снижения.
дипломная работа, добавлен 05.01.2018