Электронная микроскопия. Исследование надмолекулярной структуры полимеров
Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
Подобные документы
Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014- 77. Исследование локальной атомной и электронной структуры наностержней AlN: Fe методами XANES и DFT
Наноструктурированный AlN – полупроводник с широкой энергетической щелью. Объяснение происхождения ферромагнетизма в легированном атомами Fe полупроводнике. Экспериментальное значение Фурье-трансформанты. Анализ зарядовых состояний атомов по Бейдеру.
статья, добавлен 30.05.2017 - 78. Релейная защита
Комплект защиты фидера контактной сети тяговой подстанции и структурная схема его электронного комплекта. Структурная схема комплекта электронной защиты. Первичные и вторичные параметры срабатывания защит фидеров подстанции и поста секционирования.
курсовая работа, добавлен 14.02.2014 Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020- 80. Моделирование гетерогенного синтеза полимеров с учетом их конформационной и диффузионной подвижности
Принципы конформационно-зависимого синтеза полимеров. Методы получения и результаты моделирования функциональных макромолекул. Привитая конформационно-зависимая сополимеризация. Моделирование синтеза белковоподобных сополимеров. Межфазная поликонденсация.
автореферат, добавлен 02.03.2018 Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Характеристика, особенности интерферометра Номарского. Процесс распределения интерференционных линий. Пространственное распределение электронной плотности. Применение интерферометрических методов для диагностики плазмы. Снимок с интерференционной картины.
статья, добавлен 11.07.2018Электронная теория проводимости металлов Друде. Закон Джоуля-Ленца с точки зрения классической электронной теории. Тепловое движения ионов металла. Законы идеального газа, число столкновений электронов с ионами решетки, удельная электропроводность.
лекция, добавлен 14.03.2014Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Изотермическое установившееся течение аномально вязких жидкостей между параллельными пластинами. Сущность реологического степенного уравнения для движения между пластинами. Характеристика капиллярной вискозиметрии, специфические эффекты течения полимеров.
контрольная работа, добавлен 11.05.2015- 86. Зворыкин Владимир Кузьмич, изобретение электронного микроскопа и передающей телевизионной трубки
Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.
реферат, добавлен 02.12.2014 Резонансное рентгеновское рассеяние как основа метода исследования атомной и электронной структуры кристаллов, чувствительного к их локальным свойствам. Магнетит - базовый материал для создания соединений с высокими магниторезистивными свойствами.
автореферат, добавлен 01.05.2018Большие скорость и энергия: основные свойства электрона. Понятие электронного облака (атомная орбиталь), его виды. Проблема определения местоположения электронов в пространстве. Уровни электронной оболочки. Правила заполнения электронами атомной орбитали.
презентация, добавлен 28.08.2014Методика расчета электронной плотности и потенциала в кристаллической решетке со структурой алмаза по экспериментальным значениям интегральной интенсивности рентгеновских дифракционных максимумов. Карты распределения электронной плотности в кремнии.
статья, добавлен 27.05.2018История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Разработка оптико-электронной системы контроля соосности на базе двух ретрорефлекторов. Анализ погрешностей системы, проведение исследований в лабораторных условиях. Соотношение требуемого значения линейного размера пикселя от яркости ПИД и прямого тока.
статья, добавлен 07.12.2018Особенности процесса химического распыления полимеров под действием атомарного кислорода. Методы защиты материалов от разрушения атомарным кислородом. Математическое моделирование процесса эрозии. Расчет эрозии полимерных материалов методом Монте-Карло.
дипломная работа, добавлен 01.09.2018Квантовохимические расчеты электронной структуры и геометрии электронно-возбужденных молекул. Силы осциллятора электронно-колебательных переходов в молекуле бензола. Установление связи спектров поглощения со структурой молекулы и ее конформацией.
реферат, добавлен 06.03.2011Расчет энергетической зонной структуры, полной и локальной парциальной плотности состояний. Пространственное распределение плотности электронного заряда 2Н-SnSе2. Теоретико-групповой анализ для установления трансформационных свойств волновых функций.
статья, добавлен 30.01.2016Предложены формулы расчета геометрической и дифракционной составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифрового микроскопа. Отличия в расчете составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифровой и визуальной микроскопии.
статья, добавлен 29.01.2019Описание популярных современных методов MNDO, AM1 и PM3. Параметризация, модифицирование и отличия метода MNDO. Основной успех AM1 по отношению к MNDO - способность описывать водородные связи и давать значительно лучшие значения энергий активации реакций.
реферат, добавлен 10.01.2017Структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения и особенности получения. Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Просвечивающая электронная и автоионная микроскопия. Квантовое ограничение. Туннельные эффекты.
учебное пособие, добавлен 03.03.2017Гипотезы строения аморфных тел. Макроскопические свойства аморфных материалов, их отличие от кристаллических. Изотропность физических свойств аморфных тел. Основные особенности стеклообразного состояния вещества. Способы получения аморфных материалов.
реферат, добавлен 18.09.2013Создание новых нанокомпозитных гибридных систем для инкапсулирования, адресной доставки и контролируемого высвобождения доставляемых веществ в водных средах на основе липидов, новых функциональных амфифильных молекул, полимеров и проводящих наночастиц.
статья, добавлен 05.11.2018Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015