Глубина резко изображаемого пространства в цифровом микроскопе
Предложены формулы расчета геометрической и дифракционной составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифрового микроскопа. Отличия в расчете составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифровой и визуальной микроскопии.
Подобные документы
Изучение закономерностей образования дифракционной картины в электронном микроскопе. Исследование способов получения дифракционных картин от монокристаллов и поликристаллов. Анализ проиндицированных электронограмм от монокристалла и поликристалла.
лабораторная работа, добавлен 26.07.2015Измерение ширины щели и толщины нити с помощью дифракционной картины. Описание, специфика установки и методика измерения, рассмотрение приближенного расчета дифракционной картины по методу зон Френеля. Идентичность дифракционных картин от щели и нити.
лабораторная работа, добавлен 12.09.2019Рассмотрение устройства амплитудной и фазовой дифракционной решетки; особенности спектров, получаемых с ее помощью. Экспериментальное определение угловой дисперсии и разрешающей способности в различных порядках спектра фазовой дифракционной решетки.
методичка, добавлен 13.08.2013Рассмотрение области пространства, в котором существует электрическое поле. Определение разности потенциалов. Изучение эквивалентных схем источников энергии. Описание закона Ома. Характеристика применения законов Кирхгофа к расчету электрических цепей.
учебное пособие, добавлен 27.09.2017Описание технологии изготовления кремниевой дифракционной бинарной (двухуровневой) линзы и полипропиленовой киноформной дифракционной линзы для терагерцового диапазона спектра. Исследование дифракционной линзы в пучке импульсно-периодического лазера.
статья, добавлен 08.11.2018Изучение совокупности явлений, сопровождающихся нарушением законов геометрической оптики при распространении волн в средах с явно выраженными неоднородностями. Расчет периода решетки, максимума света и определение углов дифракции для составляющих.
практическая работа, добавлен 12.11.2018Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019- 83. Динамика сложного теплового взаимодействия нефтяных и газовых скважин с многолетнемерзлыми породами
Разработка физико-математическая модели и метода расчета температуры нефти в скважине и температурного поля многолетнемерзлых пород околоскважинного пространства. Изучение тепловых полей многолетнемерзлых пород при взаимном влиянии двух скважин.
автореферат, добавлен 01.05.2018 Применение метода конечных объемов для расчета электрического поля пространственно-однородной трехмерной среде. Построение расчетной сетки на основе разбиения пространства, известного как триангуляция Делоне с применением в расчетной схеме ячеек Вороного.
статья, добавлен 02.02.2019Виды несимметрии в трехфазных цепях. Сопротивления схем замещения для токов различных последовательностей. Построение векторных диаграмм. Расчёт методом симметричных составляющих цепи с симметричной нагрузкой при несимметрии питающего напряжения.
методичка, добавлен 07.04.2016Вклад опытов Френеля в формирование представлений о свете. Анализ формулы для расчета геометрической тени. Составление уравнений, в которых координаты любой точки световой окружности были бы функциями времени. Изменение направления движения фотонов.
статья, добавлен 05.02.2019Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.
курсовая работа, добавлен 03.05.2019Истечение жидкости через отверстия, насадки и короткие трубы. Основные формулы и типы задач для расчета трубопроводов. Гидравлический удар. Удельная энергия сечения, критическая глубина, критическое состояние потока. Расчет каналов замкнутого сечения.
методичка, добавлен 29.08.2013Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014Динамика внутренних гравитационных волн в экспоненциально стратифицированных средах бесконечной глубины. Качественные особенности динамики плоских волновых пакетов внутренних гравитационных волн. Отличия акустических и электромагнитных колебаний.
статья, добавлен 19.04.2018Аппроксимация зависимостей концентраций от глубины выгорания для каждого радионуклида с помощью полиномиальной функции. Расчет отклонения величин остаточного тепловыделения по аппроксимационной зависимости от результатов, рассчитанных по MCU-PD.
статья, добавлен 03.10.2019Свойства симметричных составляющих тока и напряжений различных последовательностей в функциональных устройствах. Сопротивления симметричной трехфазной цепи для токов различных последовательностей. Расчет фазных токов при соединении нагрузки в треугольник.
лекция, добавлен 30.03.2017Причины возникновения переходных процессов и их последствия. Переходные процессы при нарушении симметрии трехфазной цепи. Метод симметричных составляющих, использование метода симметричных составляющих для анализа несимметричных коротких замыканий.
реферат, добавлен 19.05.2023- 94. Дифракция света
Явление дифракции света, ее виды. Проникновение световых волн в область геометрической тени, их объяснение с помощью принципа Гюйгенса. Дифракция света на круглом экране и круглом отверстии. Процесс дифракции Фраунгофера на одной щели, формулы расчета.
реферат, добавлен 12.04.2013 Обоснование формулы для расчета энергетической эффективности ТЭЦ. Отличия двухпродуктового термодинамического цикла от однопродуктовых, реализуемых на теплоэлектроцентрали. Расположение характеристик турбины для различных энергетических характеристик.
статья, добавлен 30.01.2017Анализ влияния составляющих фона многопроволочной газовой пропорциональной камеры на величину рабочего фона прибора. Проведение исследования альфа-излучения образцов материалов микроэлектроники в зависимости от их состава и геометрической формы.
автореферат, добавлен 26.06.2018Понятие дифракционной решетки, ее основные характеристики, условие образования главных максимумов и минимумов для ее щелей. Изучение явления дифракции света и определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки. Порядок проведения измерений.
лабораторная работа, добавлен 17.05.2010Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014режим, который устанавливается после окончания переходного процесса (принуждённый режим) с целью нахождения принуждённых составляющих токов и напряжений. Расчёт свободных составляющих. Начальные значения переходной величины и её первой производной.
курсовая работа, добавлен 06.04.2023Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019