Рентгеновский микроанализ
Краткая история разработки рентгеновского микроанализатора. Рассмотрение видов и методов регистрации рентгеновского спектра и их сущности. Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа. Примеры применения растровой электронной микроскопии.
Подобные документы
Анализ проблемы количественного описания изменений формы кривой спектральной плотности случайного процесса или спектра мощности тока. Характеристика преимуществ комплексной спектральной оценки и анализ примеров применения технической диагностики.
статья, добавлен 13.01.2020Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Рассмотрение возможностей применения универсального опорного спектра в адаптивном методе опорного изображения для улучшения качества радиотепловых изображений миллиметрового диапазона волн, использующего известную аппаратную функцию оптической системы.
статья, добавлен 30.10.2018Дж. Томсон как лауреат Нобелевской премии по физике 1906 года. Основные научные достижения Ф. Ленарда. Открытие Г. Мозлеем связи между частотой спектральных линий характеристического рентгеновского излучения и атомным номером излучающего элемента.
презентация, добавлен 28.09.2014- 105. Открытие рентгеновского и радиоактивного излучений. Естественная и искусственная радиоактивность
Открытие радиоактивного излучения, его свойства и Токсикологическая характеристика. Энергия, излучаемая радием. Альфа-, бета- и гамма-лучи. Схема разделения радиоактивных лучей магнитным полем. Естественная и искусственная радиоактивность, радон.
реферат, добавлен 07.07.2009 Образование коллоидных частиц в природном синем галите. Спектроскопия оптического поглощения, люминесценция, свечение минералов. Кинетика образования F-центров в галите под действием рентгеновского излучения. Модель роста окрашенных кристаллов галита.
реферат, добавлен 23.04.2010Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014История оптики и измерительных приборов, особенности их практического применения. Основные положения теории Гюйгенса и волновые свойства света, анализ работы спектроскопа. Истоки ядерной физики, развитие методов регистрации излучений (альфа, бета, гамма).
реферат, добавлен 28.01.2015Алгоритм для исследования различных типов взаимодействия фотонов ионизирующего излучения с материалами многокомпонентных объектов в трехмерной геометрии. Интенсивность и пространственное распределение трансформированного ионизирующего излучения.
статья, добавлен 28.10.2018Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Определение понятия рентгенодифракционного анализа — одного из дифракционных методов исследования структуры вещества. Ознакомление с дифракцией рентгеновских лучей на образце перовскита. Рассмотрение и характеристика специфики лауэграммы монокристалла.
презентация, добавлен 22.10.2021Рассмотрение основных акустических методов измерения параметров жидкости в потоке. Применение способа измерения величины дисперсии спектра турбулентных шумов с целью корректирования значения скорости звука в жидкости и определения скорости потока.
статья, добавлен 15.03.2013Изучение природы дифракционного изображения дислокаций. Рассмотрение дифракционного контраста, формируемого в дальнем поле дислокаций. Механизмы формирования изображения ближнего поля дислокаций. Роль амплитудных эффектов в образовании изображения.
лекция, добавлен 21.03.2014Примеры сплошного, линейчатого спектра. Модель "Постулаты Бора". Спектр угольной дуги и испускания паров молекулы иода. Спектры поглощения, их примеры. Спектры звезд, открытие гелия. Спектральный анализ, метод определения состава вещества по спектру.
презентация, добавлен 22.01.2011Анализ результатов исследования зависимости спектров рентгеновского поглощения растворов хлоридов меди (II) и кобальта от времени приготовления данных растворов. Описание зависимости спектров от кислотности раствора при добавлении соляной кислоты.
статья, добавлен 29.06.2017Методики регистрации солнечных нейтрино радиохимическими детекторами. Характеристики работы низкофоновых газовых детекторов ионизирующих излучений. Исследование формы спектра 14С. Применение импульсных ионных камер для регистрации редких альфа-распадов.
автореферат, добавлен 10.10.2018Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.
научная работа, добавлен 18.05.2012Краткая научная история шкалы фотонных излучений. Анализ схемы эксперимента по формированию магнитного поля электронами, движущимися по проводу. Параметры различных участков спектра электромагнитных излучений. Закон излучения абсолютно черного тела.
статья, добавлен 04.02.2019Определение и характеристика относительного уменьшения интенсивности излучения в элементарном слое. Расчет атомного коэффициента ослабления рентгеновских лучей. Исследование процесса ослабления низкоэнергетичной части спектра в рентгеновской трубке.
презентация, добавлен 22.10.2021Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
реферат, добавлен 27.11.2016Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Общее состояние исследований в области синтеза и моделирования структуры и электронного строения неуглеродных нанотрубок. Основные геометрические характеристики тубулена. Применение метода сканирующей электронной микроскопии для синтеза нанотрубок.
реферат, добавлен 20.01.2014Вычисление энергетического спектра и общего уровня интенсивности сложного звука. Определение уровня громкости методами Флетчера и Стивенса. Сопоставительный анализ двух методов определения уровней громкости сложного звука, выводы по условию их применения.
курсовая работа, добавлен 05.08.2011Длины волн рентгеновских лучей, используемых в практических целях. Спектральные линии характеристического спектра рентгеновских лучей. Состояние атома с вакансией во внутренней оболочке (его начальное состояние). Частота колебания рентгеновских лучей.
реферат, добавлен 10.01.2017Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020