Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

Исследование аналитических методов, используемых для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Специфика применения масс-спектрометрии.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.