Растровая электронная микроскопия
Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
Подобные документы
Изучение устройства и принципа действия электронного осциллографа. Наблюдение траекторий движений, представляющих собой результат взаимно перпендикулярных гармонических колебаний кратных частот. Определение неизвестных частот по методу фигур Лиссажу.
лабораторная работа, добавлен 05.05.2015Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010- 28. Виды микроскопии
Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013 Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Исследование физического процесса формирования фотона. Физический процесс образования электронного нейтрино в атоме. Понятие электронного захвата. Доказательство отсутствия в природе слабого взаимодействия. Переход свободного нейтрона в атом водорода.
статья, добавлен 27.08.2013Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Исследование основных свойств резины на основе эпихлоргидринового каучука, модифицированного углеродными нанотрубками. Изучение элементного состава, полученного электронными микрофотографиями образцов при различных масштабах на электронном микроскопе.
статья, добавлен 31.03.2019Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Рассмотрение композитной шаровой системы, состоящей из концентрических, вложенных друг в друга сфер. Динамическая поляризуемость шарового нанокомпозита с учетом вырожденности электронного газа. Изучение случаев отсутствия вырождения электронного газа.
статья, добавлен 30.01.2018Структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения и особенности получения. Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Просвечивающая электронная и автоионная микроскопия. Квантовое ограничение. Туннельные эффекты.
учебное пособие, добавлен 03.03.2017Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Методы расчета надежных источников питания (преобразователей частоты) для мощных высоковольтных ускорителей электронов трансформаторного типа, исходя из геометрических размеров ускорителя и принятых величин максимальной энергии тока электронного пучка.
автореферат, добавлен 30.01.2018Проектирование электронного устройства с измерительным усилителем напряжения, выходной сигнал которого подключается к одному из двух выходов устройства. Изучение методики разработки устройства измерения частоты сигнала, усиливаемого с помощью усилителя.
курсовая работа, добавлен 31.10.2017Принцип действия и устройство пролетного клистрона. Определение величины коэффициента взаимодействия электронного потока с резонатором. Шунтирующая проводимость электронного потока. Определение числа резонаторов и геометрии тороидального резонатора.
курсовая работа, добавлен 31.01.2017Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Формирование наноструктурных состояний в материалах с эффектом памяти формы. Металлографический анализ поверхностных наноструктурированных слоев на электронном микроскопе сверхвысокого разрешения. Особенности формирования структуры в ПМСЭПФ TiNi.
статья, добавлен 13.11.2018Физика явления электронного парамагнитного резонанса, основные параметры его спектров. Магнитные взаимодействия в спиновых системах. Свойства атомов с магнитными ядрами. Применение электронного парамагнитного резонанса в радиационной химии, фотохимии.
реферат, добавлен 26.11.2008Изучение влияния неупорядоченности узлов решетки-матрицы на основное состояние одномерного электронного газа. Рассмотрение термодинамических свойств газовой системы. Характерный беспорядок положений узлов решетки-матрицы при нарушении симметрии газа.
статья, добавлен 30.01.2016Модернизация прибора Camebax МВХ-1. Требования к приборам аналогичного класса. Разработка методик для исследования химико-физических изменений в материалах при их эксплуатации на тепловых электрических станциях, в околоземном космическом пространстве.
автореферат, добавлен 08.11.2018Определение удельного сопротивления раствора электролита. Особенности электрического сопротивления металлов. Процесс фокусировки электронного пучка магнитным полем, кaлибровка термопары. Снятие вольтамперной характеристики полупроводникового диода.
дипломная работа, добавлен 14.09.2017Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013