Методы определения концентрации точечных дефектов в кристаллических материалах

Методы исследования в условиях термодинамического равновесия. Параллельное измерение длины и периода при нагреве. Позитронно-аннигиляционная спектроскопия, ее цели. Определение концентрации N3-дефектов по измерениям спектров рентгенолюминисценции алмаза.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.