Расчет среднего арифметического погрешностей измерения. Оптические характеристики измерительного микроскопа
Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.
Подобные документы
Исследование конструкции туннельного микроскопа. Анализ упругих свойств звена манипулятора горизонтальных перемещений. Оценка величины отклонений иглы при действии периодических возмущений на основании измерительного блока, при колебаниях основания.
статья, добавлен 28.10.2018Определение дисперсии случайной величины и вычисление среднеквадратичного отклонения среднего арифметического. Поиск абсолютной погрешности для трех значений коэффициента надежности с помощью таблицы Стьюдента. Определение времени собственной реакции.
лабораторная работа, добавлен 09.10.2015Рассмотрение теория избыточных измерений случайных физических величин и ее философских аспектов. Математические функции преобразования измерительного канала общего вида. Решение задачи избыточных измерений случайных физических величин разных классов.
статья, добавлен 21.06.2016Расчет систематических и случайных погрешностей при измерении удельного сопротивления проволоки. Применение методов обработки большого числа экспериментальных данных при измерении сопротивлений. Закономерности измерении интенсивности радиационного фона.
методичка, добавлен 12.02.2016Рассмотрение основных характеристик измерений. Способы получения результата в учебной физической лаборатории. Сущность понятия и виды погрешностей измерений. Влияние систематических погрешностей и грубых промахов на полученные в эксперименте результаты.
контрольная работа, добавлен 18.09.2021Физические измерения и классификация их погрешностей. Гистограммы распределения случайных величин, его дисперсии. Алгоритм обработки данных измерений по выборке, совместные измерения. Метод наименьшего квадрата и нахождение регресионных зависимостей.
дипломная работа, добавлен 11.10.2012Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Наблюдения, полученные в процессе измерения физической величины, оценка случайной погрешности измерений. Прямые измерения емкости конденсатора. доверительные границы не исключённых систематических погрешностей. Измерение мощности постоянного тока.
контрольная работа, добавлен 28.08.2010Погрешности измерений и их типы. Оценка систематической (приборной) и случайной погрешности. Понятие доверительного интервала и доверительной вероятности. Методика расчета погрешностей прямых и косвенных измерений на примере определения объема цилиндра.
лабораторная работа, добавлен 29.12.2011Общие сведения о теплотехнических измерениях и метрологии. Принцип действия и строение разных типов приборов для измерения теплотехнических величин и для специальных измерений. Особенности вычисления погрешностей измерений и класса точности прибора.
курс лекций, добавлен 19.06.2014История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Постоянные, переменные, векторные и скалярные физические величины. Понятие абсолютной и относительной погрешности. Алгоритм введения физической величины. Измерение физических величин с помощью штангенциркуля и пуговицы, определение их погрешностей.
лабораторная работа, добавлен 10.06.2013Характеристика особенностей систематических, случайных погрешностей и промахов. Изучение законов вращательного движения с помощью маятника Обербека. Основной закон динамики вращательного движения. Определение отношения удельных теплоемкостей газа.
лабораторная работа, добавлен 01.05.2016Анализ погрешностей измерения электрического поля методом электронно-лучевого зонда, возникающих в результате аберрационных искажений зондирующего электронного луча. Степень возмущения траектории электронов зондирующего луча под действием электричества.
статья, добавлен 28.07.2013Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Выявление основных структурных и схемотехнических аспектов построения аппаратных средств преобразования сигналов тензометрических датчиков. Исследования и анализ основных метрологических характеристик. Особенности путей снижения погрешностей измерения.
статья, добавлен 02.02.2019Расчет косвенного измерения количества тепла, переносимого газом в единицу времени, и определение его абсолютной и относительной погрешности. Построение математической модели зависимости методической погрешности от температуры измеряемой газовой среды.
курсовая работа, добавлен 10.11.2015Изучение принципов построения многофункционального микропроцессорного измерительного преобразователя на примере АЕТ-411. Анализ функций и технических характеристик измерительного преобразователя. Программное обеспечение измерительного преобразователя.
лабораторная работа, добавлен 31.10.2017Методы и приборы для получения качественных характеристик фотонных кристаллов. Полуконтактный, бесконтактный и контактный режим работы атомно-силового микроскопа. Принцип действия конфокального микроскопа. Формирование электронно-оптических изображений.
курсовая работа, добавлен 06.10.2017Ознакомление с методами поверки средств измерений. Изучение назначения, принципа мостового метода измерений. Определение метрологических характеристик поверяемого моста. Принципы поверки, обработки результатов измерения и оценивания погрешностей.
лабораторная работа, добавлен 10.12.2019Сущность и физическое обоснование измерения как процесса сравнения интересующей нас физической величины с соответствующим эталоном или производной от эталона. Их типы: прямые и косвенные. Причины возникновения погрешностей, а также критерии их оценки.
методичка, добавлен 27.05.2015Классификация систематических погрешностей по характеру изменения во времени и причинам возникновения. Методы устранения постоянных погрешностей. Способ последовательных разностей, дисперсионный анализ. Исключение погрешностей путем введения поправок.
презентация, добавлен 13.08.2013- 48. Способы уменьшения среднеквадратической погрешности при импульсном измерении скорости звука в воде
Повышение точности измерения скорости звука в воде путем проведения физических и математических экспериментов. Уменьшение среднеквадратических погрешностей измерения скорости звука импульсным методом. Влияние ошибки замеров на тип фильтра нижних частот.
статья, добавлен 30.07.2020 Характеристика устройств, преобразующих, преломляющих, отражающих излучение областей спектра. Назначение и свойства базовых оптические элементов: линз, призм, зеркал, фильтров. Конструкции и лабораторные задачи оптических приборов микроскопа и телескопа.
реферат, добавлен 25.12.2023Датчик как первый элемент измерительного канала и основной источник электрического сигнала. Метрологические характеристики сенсоров. Виды погрешностей измерений. Градуировка датчиков, пределы их применения. Чувствительность и быстродействие датчиков.
реферат, добавлен 18.03.2013