Атомно-силова мікроскопія
Дослідження методу атомно-силової мікроскопії як одного із видів скануючої зондової мікроскопії. Вивчення фізичних основ, принципу та режимів роботи зондових датчиків. Система керування АСМ при роботі кантилевера в контактному та безконтактному режимі.
Подобные документы
Розробка пристроїв для реалізації схеми двокристального спектрометру. Оцінка структурних змін і параметрів можливих дефектів в імплантованих фосфором приповерхневих шарах пористого кремнію. Дослідження будови поверхні методом атомно-силової мікроскопії.
автореферат, добавлен 28.07.2014Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Створення математичної моделі фотоакустичної мікроскопії твердого тіла з внутрішніми неоднорідностями з п'єзоелектричною реєстрацією. Особливості розробки оптимальної конструкції п'єзоперетворювача для поліпшення основних технічних характеристик ФАМ.
автореферат, добавлен 25.02.2014Побудова схеми фазових змін системи Bi/Si(111) та дослідження структури фаз з атомною роздільною здатністю. Розроблення нової методики із застосуванням Bi/W вістер в скануючому тунельному мікроскопові для дослідження атомів в кутових ямах реконструкції.
автореферат, добавлен 27.04.2014- 6. Дослідження топографії та атомної структури поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалів In4Se3
Методами скануючих тунельної, атомно-силової мікроскопій та дифракції повільних електронів на відбивання досліджено топографію, кристалографію та атомну структуру поверхонь сколювання шаруватих кристалів In4Se3, одержаних шляхом сколювання in situ.
статья, добавлен 13.10.2016 Исследование способов придания краям графена атомно-гладких форм и химической функционализации. Перспективность производных графена с атомно-гладкими и химически функционализированными краями в качестве материалов для новой техники и технологий.
статья, добавлен 17.08.2021З’ясування причин анізотропії віддзеркалення електронів проводимості від реальної поверхні вольфраму з орієнтацією. Розробка методів літографічної модифікації поверхні Si у надвисокому вакуумі. Методика отримання надгострих вольфрамових вістрів.
автореферат, добавлен 18.11.2013Физический эффект атомно-эмиссионного спектрального анализа. Построение схемы проведения атомно-эммисионного спектрального анализа. Применение метода фотометрии пламени. Электрическая дуга постоянного тока. Высокочастотная индуктивно-связанная плазма.
реферат, добавлен 04.03.2017Энергетическое состояние атома, квантовые числа. Устройство атомно-эмиссионного спектрофотометра. Уравнение Ломакина-Шайбе. Атомно-абсорбционный анализ. Устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра. Качественный и количественный анализ проб.
презентация, добавлен 31.08.2017Физические основы атомно-абсорбционного метода. Принципиальная схема измерения поглощения света. Лоренцевское уширение. Способы измерения атомного поглощения. Различия методов атомной абсорбции и атомной эмиссии. Источники резонансного излучения.
реферат, добавлен 07.09.2011Створення кінетичної моделі процесів атомізації в електротермічній атомно-абсорбційній спектрометрії, яка адекватно описуватиме атомно-абсорбційний сигнал в реальних неізотермічних умовах. Розроблення методики визначення основних модельних параметрів.
автореферат, добавлен 23.08.2014Одержання даних про структуру ядер шляхом вивчення атомно-ядерних ефектів (в процесі внутрішньої конверсії). Резонансні (електронні містки) і нерезонансні (двохквантовий розпад) процеси при розсіюванні конверсійних електронів в атомній оболонці.
автореферат, добавлен 12.07.2014Вирішення проблеми встановлення закономірностей фізичних процесів низькотемпературного формування структури приповерхневих шарів твердих тіл під впливом атомно-іонних потоків. Структурні властивості матеріалів. Створення комплексу математичних моделей.
автореферат, добавлен 28.09.2014Проблеми встановлення закономірностей фізичних процесів низькотемпературного формування структури приповерхневих шарів твердих тіл під впливом атомно-іонних потоків. Комплекс математичних моделей для комп’ютерного моделювання процесів структуроутворення.
автореферат, добавлен 29.01.2016Розробка методики вимірювання крайових кутів змочування для конденсованих плівок металів і сплавів з використанням просвічуючої мікроскопії. Вивчення змочування в острівцевих плівках металів у залежності від розміру частинок і товщини плівок-підкладок.
автореферат, добавлен 28.08.2014Одержання методом реактивного магнетронного розпилення плівок різних фаз оксиду. Дослідження будови та мікроструктури плівок Bi2O3 за допомогою рентгенофазового аналізу, оптичної та електроннооптичної мікроскопії і специфіка їх температурної стабільності.
автореферат, добавлен 29.07.2014Підвищення чутливості та точності вимірювань атомно-абсорбційного спектрофотометра за рахунок використання вертикального капілярного електротермічного атомізатора. Розроблення способів зменшення нерівномірності розповсюдження аналізованої проби.
автореферат, добавлен 30.07.2014Дослідження фазового складу структури, фазових перетворень, фізичних властивостей перовскітів із застосуванням електричних та магнітних полів, рентгеноструктурного аналізу, електронної мікроскопії. Теоретичні моделі для точкових і протяжних дефектів.
автореферат, добавлен 24.02.2014Изучение атомно-абсорбционной спектроскопии как метода количественного элементного анализа, основанного на измерении поглощения атомным паром монохроматического излучения. Эмиссионный спектр паров натрия. Закон Бера-Бугера-Ламберта, правила Уолша.
презентация, добавлен 12.11.2017- 21. Технологія нанесення захисних покриттів на основі оцінок характеристик структур епоксикомпозитів
Вплив ступеню зшивання у зовнішніх поверхневих шарах на адгезійну та когезійну міцність епоксидних композитних матеріалів. Аналіз структури матриці навколо наповнювача на основі світлової мікроскопії. Схема нанесення захисного покриття вузлів обладнання.
статья, добавлен 29.11.2016 Розроблення методики комп`ютерної побудови зображень поверхонь з дефектами в атомно-силовому мiкроскопi в режимах постiйної сили i висоти сканування. Вивчення впливу радiуса вiстря i режимiв на роздiльну здатнiсть, контраст зображень та висоти зближення.
автореферат, добавлен 15.07.2014Дослідження першопричин неоптимальності потокорозподілу в електроенергетичних системах у процесі передачі та розподілу електроенергії. Розробка методу формування законів оптимального керування та координації керувальних впливів локальних адаптивних САК.
автореферат, добавлен 30.07.2014Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Понятие и особенности применения атомно-абсорбционных спектрометров, их достоинства и недостатки. Анализ эффективности работы при обдуве аргоном, зависимости массы графита атомизатора от количества нагреваний. Оценка износа контактов, трубки и чашки.
статья, добавлен 23.10.2010