Методы исследования и диагностика наносистем
Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.
Подобные документы
Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019- 28. Генерация рентгеновского излучения при взаимодействии быстрых электронов с мозаичными кристаллами
Влияние совершенства структуры кристаллов на характеристики рентгеновского излучения, генерируемого при взаимодействии электронов средних энергий с кристаллами. Сопоставление характеристик излучения совершенных и мозаичных кристаллов в сфере медицины.
автореферат, добавлен 26.03.2018 Анализ понятия наноматериалов. Отличие свойств малых дисперсных частиц от свойств массивного материала. Изучение наноматериалов в зависимости от характерных размеров структурных элементов, химического состава и распределения фаз, физических явлений.
реферат, добавлен 28.12.2019Изучение условий возникновения рентгеновского излучения, способов его обнаружения и областей применения в промышленности. Изучение методов дифракционного и спектрохимического анализа. Описание технических параметров и принципа работы рентген-аппаратов.
курсовая работа, добавлен 19.01.2014Исследование и анализ углов отражения от плоскостей кристалла Pt, соответствующих дифракционным максимумам 3-ого порядка для характеристического рентгеновского излучения Cu. Определение относительной интенсивности максимума для указанных плоскостей.
контрольная работа, добавлен 16.08.2017Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Понятие, назначение светотехники и история ее развития. Типы источников оптического излучения, их принципы и классификация. Электрические параметры источников света. Характеристика распределения силы излучения. Спектр излучения люминесцентной лампы.
реферат, добавлен 15.04.2017Фотоионизация - процесс перевода электрона при поглощении кванта излучения из связанного состояния в делокализованное для конденсированных сред. Характеристика физической модели образования дальней тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения.
статья, добавлен 26.10.2018Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Устройство рентгеновской трубки. Спектр, коротковолновая граница и нулевое распределение мощности тормозного рентгеновского излучения. Переход одного вида материи в другой и их структурные уровни, сущность реакции аннигиляции и рождения пары электронов.
контрольная работа, добавлен 22.03.2016Открытие рентгеновского излучения, особенности его воздействия. Возникновение рентгеновского излучения при взаимодействии электронов, движущихся с большими скоростями, с веществом. Рентгеновская и гамма-дефектоскопия, медицинская рентгенодиагностика.
курсовая работа, добавлен 30.05.2013Молекулярные эффекты рентгеновского излучения. Повреждение биомолекул химически активными продуктами радиолиза воды. Влияние радиоактивного облучения на молекулу ДНК. Исследование механизма хромосомных изменений при первичном и вторичном эффекте.
реферат, добавлен 22.11.2014Особенности воздействия рентгеновского излучения с большой степенью поглощения на конструкцию микроэлектронного устройства. Анализ моделей расчета тепловых и термомеханических эффектов. Моделирование термомеханических напряжений в полупроводниках.
отчет по практике, добавлен 09.04.2019Методы и принципы измерений, используемые в физических лабораториях при изучении физико-химических систем. Учет погрешностей, измерения электрических сигналов и давлений. Измерение температуры и световых потоков, источников и приемников излучения.
учебное пособие, добавлен 19.02.2013Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Разработан и экспериментально проверен макет широкодиапазонного спектрографа рентгеновского излучения на базе цилиндрически изогнутого зеркала. Математическое обеспечение прибора, не имеющие на момент создания зарубежных и отечественных аналогов.
автореферат, добавлен 31.10.2018Рассмотрение устройства амплитудной и фазовой дифракционной решетки; особенности спектров, получаемых с ее помощью. Экспериментальное определение угловой дисперсии и разрешающей способности в различных порядках спектра фазовой дифракционной решетки.
методичка, добавлен 13.08.2013Определение физического предела разрешения оптических систем при учете волновой природы излучения. Картина дифракции на диафрагме и распределение интенсивности света на экране. Теория Аббе (интересный прием определения разрешающей силы микроскопа).
лекция, добавлен 18.10.2012Явления рентгеновского излучения и сферы его применения. Устройство рентгеновской трубки. Дифракция рентгеновских лучей. Эффективная эквивалентная доза облучения. Влияние рентгеновского излучения на организм человека. Применение рентгеновских лучей.
научная работа, добавлен 21.11.2018Анализ поглощения рентгеновского излучения веществом. Особенность рассеяния фотоэлектрона. Основная методика выделения дальней тонкой структуры спектроскопии. Суть моделирования экспериментальных спектров. Характеристика определения валентного состояния.
практическая работа, добавлен 29.11.2016Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Особенности рентгеновского излучения как электромагнитных волн, история его открытия. Энергетические диапазоны рентгеновского излучения. Биологическое воздействие на ткани живых организмов. Лучевая болезнь, лучевые ожоги и злокачественные опухоли.
презентация, добавлен 17.11.2014Общие понятия о системах единиц. Методы измерений и их основные единицы. Роль измерений в развитии автоматического управления. Выбор необходимой размерности единиц измерения параметров минерального вещества и правила замены одних единиц другими.
лекция, добавлен 17.09.2015Алгоритм для исследования различных типов взаимодействия фотонов ионизирующего излучения с материалами многокомпонентных объектов в трехмерной геометрии. Интенсивность и пространственное распределение трансформированного ионизирующего излучения.
статья, добавлен 28.10.2018