Отказы в межсоединениях интегральных схем вызванные

Исследование основных факторов, влияющих на механизм разрушения металлизации интегральных схем из-за электромиграции. Исследование линий металлизации на разных стадиях разрушения их электромиграцией с помощью просвечивающего электронного микроскопа.

Подобные документы

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.