Интегральные оценки
Квадратичная интегральная оценка с учетом производной. Вычисление квадратичных интегральных оценок. Использования квадратичных ошибок на конкретных примерах. Определение показателей качества переходного процесса, их оптимизации по квадратичной оценке.
Подобные документы
- 76. Повышение точности оценок параметров контрольной выборки малого объёма при распределении Вейбулла
Анализ правила выборочного контроля эквивалентной оперативной характеристики, базирующейся на распределении Вейбулла. Расчетные формулы и таблица оценки точности вычисления прогнозируемого брака по предложенной методике и действующим нормативам.
статья, добавлен 28.02.2016 Характеристики биполярных интегральных транзисторов, их элементы, назначение и область применения. Разновидности интегральных резисторов, их параметры и конструкции. Конфигурации интегральных диффузионных конденсаторов, их конструирование и формирование.
реферат, добавлен 22.02.2009Синтез системы управления гидравлическим серводвигателем. Оценка устойчивости системы автоматического регулирования по критериям Ляпунова, Гурвица, Михайлова, Найквиста. Построение частотных и переходных характеристик. Вычисление показателей качества САР.
курсовая работа, добавлен 21.05.2020Оценка точности астатического варианта системы в установившемся режиме. Проверка устойчивости исходной системы. Логарифмический критерий устойчивости. Расчет области устойчивости скорректированной системы. Минимизация квадратичной интегральной оценки.
контрольная работа, добавлен 03.06.2017Методы получения оценок параметров. Постоянный оцениваемый параметр, форма сигнала. Оптимальная оценка амплитуды сигнала, несмещенная оценка, ее дисперсия. Интервальные оценки параметров сигналов, оценка параметров многомерной функции распределения.
курсовая работа, добавлен 14.04.2011Моделирование системы автоматического управления, определение показателей качества. Проверка ОУ на управляемость и наблюдаемость. Синтез цифрового САУ с использованием методов переменного коэффициента усиления и структурно-параметрической оптимизации.
курсовая работа, добавлен 22.10.2017Разработка топологии гибридной схемы широкополосного усилителя К174УВ1. Технология гибридных интегральных микросхем. Параметры, определяющие выбор конструкции и материал пленки. Этапы технологического процесса изготовления гибридных интегральных схем.
контрольная работа, добавлен 24.09.2012Компьютерное моделирование интегральных цифровых приборов. Структурная схема счетчика, эскиз топологии и топологические размеры. Параметры транзисторов и модели вентилей. Расчет быстродействия триггеров. Определение межсоединений и паразитных емкостей.
курсовая работа, добавлен 22.10.2017Анализ возможности применения нелинейно преобразованного стохастического "авторегрессионного условного гетероскедастического" процесса для повышения структурной скрытности передаваемой информации. Предложение метода оценки показателей качества модели.
статья, добавлен 26.07.2016Классификация интегральных тензопреобразователей давления. Изучение технологических этапов изготовления интегральных тензопреобразователей. Принципы размещения тензорезисторов на мембранах полупроводниковых интегральных тензопреобразователей давления.
курсовая работа, добавлен 30.07.2015Оценка результатов измерений коэффициента ошибок при роботе телекоммуникационных систем. Назначение гармонических сигналов, их измерения, определение качества каналов тональной частоты методом шумовой загрузки. Измерения в цифровых системах передачи.
контрольная работа, добавлен 21.03.2016Оценка метрологической надежности средств неразрушающего контроля теплофизических свойств объектов с учетом температуры и влажности окружающей среды. Определение зависимости параметров элементной базы от времени и от внешних дестабилизирующих воздействий.
автореферат, добавлен 01.09.2018Задачи и структура отдела микроэлектроники. Анализ процесса производства и контроля качества микрополосковых СВЧ плат. Принципиальная схема тактового генератора. Изучение технологического маршрута изготовления толстопленочных интегральных микросхем.
отчет по практике, добавлен 16.02.2015Законы коммутации переходных процессов. Определение выражения для токов классическим и операторным методами. Определение практической длительности переходного процесса. Построение графика переходных процессов, расположенных один за другим по оси времени.
автореферат, добавлен 16.10.2017Обзор роли тонкопленочной технологии в производстве интегральных схем. Тонкопленочная металлизация полупроводниковых приборов и интегральных схем. Факторы, влияющие на свойства тонких пленок. Тонкопленочные конденсаторы, пленки тантала и его соединений.
реферат, добавлен 08.12.2012Расчет пропускной способности и устойчивости сети связи. Определение количества диспетчеров и линий спецсвязи. Характеристики оперативности, эффективности радиосвязи. Вычисление высот подъема антенн. Оценка качества связи. Автоматизация систем управления.
контрольная работа, добавлен 23.11.2014Рассмотрение алгоритмов получения оценок среднего значения частотно-временных параметров на примере аддитивной смеси гармонического сигнала и случайного узкополосного процесса. Развитие погрешностей на основе теории обобщённого корреляционного анализа.
статья, добавлен 04.11.2018Анализ параметров математической модели погрешностей блока чувствительных элементов бесплатформенной инерциальной навигационной системы на основе обработки измерений первичных датчиков. Влияние ошибок выставки на точность оценки параметров модели.
статья, добавлен 28.10.2018Понятие и методы технологического контроля при изготовлении интегральных схем. Особенности пооперационного, визуального контроля и тестовых интегральных микросхем. Основные виды контрольных испытаний: параметрические, функциональные, диагностические.
реферат, добавлен 01.09.2013Оценка стойкости библиотечных компонентов комплементарной структуры металл-оксид-полупроводник интегральных схем. Расчет компонентов в структуре систем автоматизированного проектирования сверхбольших интегральных схем. Анализ результатов расчета вентиля.
статья, добавлен 28.04.2017Технология получения керамики. Требования к подложкам микросхем. Конструктивно-технологические особенности толстопленочных интегральных микросхем. Схема процесса изготовления плат тонкопленочных гибридных интегральных схем. Сущность скрайбирования.
курсовая работа, добавлен 03.12.2010Полупроводниковые технологии и современные интегральные микросхемы. Изучение закона Мура. Схема традиционного планарного транзистора. Структура терагерцевого транзистора. Бесконтактная диагностика микросхем. Аспекты развития микропроцессорной техники.
реферат, добавлен 15.11.2012Статистический анализ технологического процесса экструзии с применением корреляционно-спектрального анализа ввиду невозможности использования детерминированных критериев и методов оптимизации управления в системе. Стохастические свойства оборудования.
статья, добавлен 19.12.2017Классификация случайных антенн, примеры реализации. Роль случайных антенн при обеспечении информационной безопасности. Тестовый расчет без учета ошибок. Моделирование с учетом ошибок. Кластерный способ учета корреляционных связей между ошибками.
дипломная работа, добавлен 07.08.2018- 100. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
Прогнозирование отказов металл-оксид полупроводников интегральных микросхем в период старения в условиях воздействия низкоинтенсивного ионизирующего излучения на основе использования ускоренных испытаний при повышенной температуре. Результаты испытаний.
диссертация, добавлен 02.08.2018