Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
Подобные документы
Исследование основных свойств резины на основе эпихлоргидринового каучука, модифицированного углеродными нанотрубками. Изучение элементного состава, полученного электронными микрофотографиями образцов при различных масштабах на электронном микроскопе.
статья, добавлен 31.03.2019Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018Закономерности дефектообразования в легированных и нелегированных полупроводниковых материалах методами просвечивающей электронной микроскопии. Расчет энергии дефекта упаковки. Контроль стойкости полупроводниковых материалов к образованию дефектов.
автореферат, добавлен 26.07.2018Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Способы оценки траекторных интегралов фейнмановского типа. Определение свойств и параметров корпускулярных пучков, формируемых атомными линзами различных конфигураций. Моделирование схем использования атомных линз в электронной микроскопии и голографии.
автореферат, добавлен 02.03.2018Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018Рассмотрение и характеристика особенностей процесса увеличения активной поверхности углеродных волокон для получения большей удельной емкости и электропроводности. Ознакомление с основными подходами и методами изучения морфологии поверхности композитов.
статья, добавлен 05.12.2018Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016- 37. Виды микроскопии
Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.
реферат, добавлен 14.12.2013 Моделирование образования кластеров методом Монте-Карло. Формирование кластеров железа, методом химического парофазного осаждения, с использованием в качестве источника катализатора ферроцена, пиролиз которого осуществлялся при различных условиях.
автореферат, добавлен 02.08.2018Применение композитов, на основе модифицированных наночастиц матриц различной природы в промышленности. Анализ принятых материалов с целью идентификации состояния компонентов и диагностики свойств, применение спектроскопии комбинационного рассеяния света.
статья, добавлен 09.04.2019Разработка метода изготовления печатных транзисторов из углеродных нанотрубок и нового типа электронного переключателя. Уникальные технологии, созданные специалистами и исследователями различных компаний. Возможные применения разработанных технологий.
реферат, добавлен 29.05.2017Роль процесса растворения углерода и его выделения на различных гранях каталитической частицы никеля в процессе роста углеродной нити. Анализ влияния внутренних Ван-дер-Ваальсовых взаимодействий на спектральные свойства нанотрубок и их агломерацию.
автореферат, добавлен 02.03.2018Анализ влияния внедрения физических и химических методов на развитие экспериментальной биологии. Физические основы растровой электронной микроскопии. Оптическая спектроскопия. Метод изотопных индикаторов. Наблюдение спектральных линий в твердых телах.
реферат, добавлен 05.06.2015Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.
научная работа, добавлен 18.05.2012Рассмотрение физических свойств и применения алмаза. Лазерное наноструктурирование алмаза. Изучение особенностей производства нанокристаллических пленок. Описание основ создания нового оптического материала на основе одностенных углеродных нанотрубок.
презентация, добавлен 04.05.2015Краткая история разработки рентгеновского микроанализатора. Рассмотрение видов и методов регистрации рентгеновского спектра и их сущности. Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа. Примеры применения растровой электронной микроскопии.
лекция, добавлен 21.03.2014Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Изучение тонких образов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, их отражение на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры.
реферат, добавлен 27.11.2016Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Изучение стабильных структур новых углеродных наноматериалов. Геометрия углеродных наноструктур и их механические и тепловые характеристики при постоянной температуре. Исследование их свойств и принципы применения в наноэлектронике и наномеханике.
автореферат, добавлен 29.10.2018