Производство полупроводниковых приборов

Технологический маршрут производства полупроводниковых компонентов. Изготовление полупроводниковых пластин. Установка кристаллов в кристаллодержатели. Сборка и герметизация полупроводниковых приборов. Проверка качества и электрических характеристик.

Подобные документы

  • Пластическая релаксация напряжений несоответствия. Исследование механизмов зарождения и распространения дислокаций несоответствия в полупроводниковых гетеросистемах. Влияние ориентации подложки на морфологию и дефектообразование в плёнках СaF2 и GeSi.

    дипломная работа, добавлен 07.06.2011

  • Технология изготовления, принцип действия, физические процессы в полупроводниковых диодах. Расчёт вольтамперной характеристики пробивного напряжения электронно-дырочного перехода. Основные особенности использования диодных структур в интегральных схемах.

    курсовая работа, добавлен 31.05.2014

  • Этапы проектирование полупроводниковых интегральных микросхем. Составление фрагментов топологии заданного уровня. Минимизация тепловой обратной связи в кристалле. Основные достоинства использования ЭВМ при проектировании топологии микросхем и микросборок.

    презентация, добавлен 29.11.2013

  • Вольтамперная характеристика выпрямительного диода на постоянном токе для прямой ветви. Схема диода Шоттки с осциллографом на переменном токе. Изучение диодных ограничителей с нулевыми пороговым значением. Схема диодных ограничителей со стабилитронами.

    лабораторная работа, добавлен 08.06.2023

  • Расчёты показателей надёжности изделий электронной техники при заданных условиях. Защита микросхем от внешних дестабилизирующих факторов: температуры и влажности. Обеспечение теплового режима работы интегральных микросхем (гибридных и полупроводниковых).

    курсовая работа, добавлен 19.03.2012

  • Интегральные микросхемы на транзисторах со структурой металл - диэлектрик - полупроводник. Принципы работы, конструкция и классификация транзисторов данного вида. Четыре типа транзисторов. Вспомогательные элементы микросхем. Применение охранных колец.

    реферат, добавлен 22.02.2009

  • Физические принципы функционирования электронных приборов. Дефекты реальных кристаллов. Искажение кристаллической решетки в твердых растворах внедрения и замещения. Принцип работы биполярных транзисторов. Поверхностные явления в полупроводниках.

    контрольная работа, добавлен 04.10.2010

  • Исследование и анализ существующих методов измерения комплексных характеристик четырехполюсников сверхвысокой частоты. Общая характеристика и особенности использования приборов, использующихся для измерения комплексных характеристик данных приборов.

    курсовая работа, добавлен 30.06.2014

  • Описание электрических и эксплуатационных характеристик ваттметра, его устройства, назначения и принципа действия. Определение требований к типу и условиям производства прибора. Разработка конструктивной и технологической схем сборки и монтажа изделия.

    курсовая работа, добавлен 10.01.2011

  • Анализ современного состояния работ, посвященных исследованию неустойчивостей тока в полупроводниковых структурах. Исследование влияния формы контактных площадок на параметры токовых колебаний в мезапланарных структурах на основе высокоомного GaAs.

    дипломная работа, добавлен 18.07.2014

  • Подбор и краткое описание приборов для реализации информационной цепи и управляющей цепи, определение технических характеристик и возможностей данных приборов. Составление структурной и функциональной схемы автоматизации, спецификации оборудования.

    контрольная работа, добавлен 12.03.2010

  • Сборка простейших электрических цепей. Навыки использования электроизмерительных приборов. Назначение, характеристики и принцип действия триггеров. Универсальный способ построения D-триггера из синхронного RS-триггера. Вариант схемы "прозрачной защелки".

    лабораторная работа, добавлен 21.11.2014

  • Типы конструкций объективов оптических приборов. Общие требования к сборке объективов. Основные типы объективов в зависимости от точности центрирования линз. Этапы сборки объектива. Сборка объектива без последующей юстировки. Реальный объектив, искажения.

    реферат, добавлен 17.11.2008

  • Типы оборудования и компоновка аудиосистемы. Классификация оборудования и выбор схемы установки компонентов. Установка компонентов. Подключение и настройка усилителей. Установка музыкальных компонентов. Экономические затраты. Требования безопасности.

    курсовая работа, добавлен 29.10.2008

  • Анализ приборов для ультразвукового контроля сварных труб, на Челябинском трубопрокатном заводе. Технологический цикл контроля сварных швов. Анализ системной магистрали ISA. Обоснование функциональной схемы блока управления ультразвуковым дефектоскопом.

    дипломная работа, добавлен 15.07.2010

  • Типовые средства автоматизации и контроля технологических процессов. Устройство и работа измерительных преобразователей. Принцип работы пневматических и электрических вторичных приборов. Приемы и методы ремонта контрольно-измерительной аппаратуры.

    курсовая работа, добавлен 10.04.2014

  • Основные типы SMT-сборок. Технологический процесс сборки ПП на основе THT-технологии. Формовка круглых выводов элементов. Ручная и полуавтоматическая установка компонентов. Пайка волной припоя, селективная и ручная пайка. Технология монтажа в отверстия.

    курсовая работа, добавлен 10.12.2011

  • Принципы действия приборов для измерения электрического тока, напряжения и сопротивления; расчет параметров многопредельного амперметра магнитоэлектрической системы и четырехплечего уравновешенного моста постоянного тока; метрологические характеристики.

    курсовая работа, добавлен 18.06.2012

  • Технологический процесс сборки объектива, механическая обработка . Сборка двухлинзовых крупногабаритных объективов. Контроль качества и юстировка объективов телескопических систем. Предел разрешения и качество изображения точечного источника света.

    реферат, добавлен 17.11.2008

  • Разработка и описание задач метрологической лаборатории, их сущность и роль. Разработка приборов лаборатории и методик их поверки. Характерные неисправности установки У300 и методы их устранения. Проведение поверки манометром грузопоршневым типа МП-60.

    курсовая работа, добавлен 27.02.2009

  • Общие сведения и классификация методов и приборов СВЧ цепей. Основные методы и средства измерений параметров СВЧ цепей. Обобщенная структурная схема измерителя (анализатора). Измерительные направленные ответвители. Скалярные анализаторы цепей.

    реферат, добавлен 23.01.2009

  • Измерение оптических характеристик телескопических систем. Измерение увеличения телескопических систем. Измерение увеличения по линейному увеличению. Оценка качества изображения телескопических и микроскопических систем. Определение визуальной разрешающей

    реферат, добавлен 11.12.2008

  • Автоматическая поверка стрелочных измерительных приборов линейных перемещений. Принцип действия функциональных основных компонентов. Область возможных схемных решений. Реализация функциональных компонентов. Устройство генератора тестовых сигналов.

    контрольная работа, добавлен 04.02.2011

  • Разработка и описание задач метрологической лаборатории, их сущность и роль. Разработка приборов лаборатории и методик их поверки. Характерные неисправности установки У300 и методы их устранения. Проведение поверки манометром грузопоршневым типа МП-60.

    курсовая работа, добавлен 27.02.2009

  • Технологический процесс изготовления круглой пластины средней точности и линз средней точности. Шлифование, полировка. Операция по совмещению геометрической и оптической осей линзы. Центрирование по прибору. Фасетирование линз. Изготовление призм.

    реферат, добавлен 14.12.2008

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.