Методы световой и электронной микроскопии

Подобные документы

• 11. Оптическая микроскопия. История развития

  История микроскопа - прибора для получения увеличенного изображения объектов, не видимых невооруженным глазом. Методы световой микроскопии. Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Методы микроскопического исследования металлов.
  
  реферат, добавлен 10.06.2009
  

• 12. Атомно-силовая микроскопия

  Решение проблемы увеличения разрешающей способности микроскопов без разрушения или изменения исследуемого образца. История появления зондовой микроскопии. Атомно-силовой микроскоп и его конструктивные составляющие, обработка полученной информации.
  
  реферат, добавлен 19.12.2015
  

• 13. Тепловыделение в электроустановках

  Характеристики тепловыделения в электроустановках. Расчет теплового состояния трансформатора и выпрямителя. Основы устройства систем охлаждения. Особенности электронной и ионной поляризации. Тепловое действие электрического и электромагнитного поля.
  
  контрольная работа, добавлен 27.05.2014
  

• 14. Методы диагностики наноструктур

  Взаимодействие зонда и исследуемой поверхности с использованием обратной связи. Методы постоянного туннельного тока и постоянной высоты для получения изображения рельефа поверхности. Принципы атомно-силовой оптической и магнитно-силовой микроскопии.
  
  реферат, добавлен 18.04.2016
  

• 15. Атомно-силовая микроскопия. Принцип работы

  Общие сведения об атомно-силовой микроскопии, принцип работы кантилевера. Режимы работы атомно-силового микроскопа: контактный, бесконтактный и полуконтактный. Использование микроскопа для изучения материалов и процессов с нанометровым разрешением.
  
  реферат, добавлен 09.04.2018
  

• 16. Особенности электронной литографии при низких ускоряющих напряжениях

  Представление об основах литографии. Установки изготовления образцов. Параметры коррекции распределения дозы, чувствительность резиста. Основы электронной литографии при низком ускоряющем напряжении. Оценка эффективного диаметра электронного луча.
  
  курсовая работа, добавлен 18.11.2012
  

• 17. Рассеяние электронной плотности в металлах и ионных кристаллах по рентгенографическим данным

  Свойства объектов и методы измерения электронной плотности по упругому рассеянию. Экспериментальные методы исследования комптоновского рассеяния. Атомно-рассеивающий фактор, распределение радиальной электронной плотности в литии по комптоновским профилям.
  
  дипломная работа, добавлен 06.06.2011
  

• 18. Интерференция света

  Объяснение явления интерференции. Развитие волновой теории света. Исследования Френеля по интерференции и дифракции света. Перераспределение световой энергии в пространстве. Интерференционный опыт Юнга с двумя щелями. Длина световой волны.
  
  реферат, добавлен 09.10.2006
  

• 19. Световая микроскопия

  Виды световых микроскопов, их комплектация. Правила использования и ухода за микроскопом. Классификация применяемых объективов в оптических приборах. Иммерсионные системы и счетные камеры световых микроскопов. Методы контрастирования изображения.
  
  реферат, добавлен 06.10.2014
  

• 20. Доменные структуры для тестирования в магнитосиловой микроскопии

  Сущность визуализации процесса намагничивания. Структура доменных стенок в областях нахождения пикселей. Основные свойства перовскитоподобных манганитов A1-xBxMnO3. Влияние высокого давления на структуру манганита Pr1-xSrxMnO3 с щелочноземельным металлом.
  
  контрольная работа, добавлен 22.06.2010
  

• главная
• рубрики
• по алфавиту
• вернуться в начало страницы
• вернуться к подобным работам