Методы световой и электронной микроскопии

Подобные документы

• 1. Электронная микроскопия как средство изучения строения металлов и сплавов

  Основы сканирующей электронной микроскопии. Методические особенности электронно-микроскопического исследования металлических расплавов. Особенности микроскопов, предназначенных для исследования структуры поверхностных слоев металлических расплавов.
  
  реферат, добавлен 11.05.2013
  

• 2. Специальные приемы микроскопии биологических объектов

  Измерение размеров малых объектов. Метод фазового контраста. Понятие об электронной оптике. Создание электронного микроскопа. Опыты по дифракции электронов. Исследования поверхностной геометрической структуры клеток, вирусов и других микрообъектов.
  
  презентация, добавлен 12.05.2017
  

• 3. Растровый электронный микроскоп

  Электронно-микроскопический метод исследования. Физические основы растровой электронной микроскопии. Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование. Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним.
  
  курсовая работа, добавлен 04.05.2011
  

• 4. Основы сканирующей зондовой микроскопии

  Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Сканирующие элементы, защита зондовых микроскопов от внешних воздействий. Стабилизация термодрейфа положения зонда над поверхностью. Формирование и обработка изображений. Атомно-силовая микроскопия.
  
  курсовая работа, добавлен 17.12.2014
  

• 5. Наноматериалы и наноустройства

  История развития сканирующей туннельной микроскопии. Рассмотрение строения фуллеренов, фуллеритов, углеродных нанотрубок. Характеристика термодинамической модели зарождения и роста кластеров. Изучение магнитных свойств наносистемы оксидов железа.
  
  курсовая работа, добавлен 07.06.2010
  

• 6. Исследование биологических объектов с помощью методов атомно-силовой микроскопии

  Сканирующий туннельный микроскоп, применение. Принцип действия атомного силового микроскопа. Исследование биологических объектов – макромолекул (в том числе и молекул ДНК), вирусов и других биологических структур методом атомно-силовой микроскопии.
  
  курсовая работа, добавлен 28.04.2014
  

• 7. Измерение состава сплава висмут-сурьма по длине слитка после направленной кристаллизации методом энергодисперсионного зондирования электронным пучком

  Разработка методики количественного определения состава образцов рентгеноспектральным микроанализом. Физические основы растровой электронной микроскопии. Использование зависимости интенсивности линий от ускоряющего напряжения. Методы детектирования.
  
  курсовая работа, добавлен 16.10.2014
  

• 8. Оптические методы НК. Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии

  Оптический диапазон спектра. Теоретические основы оптических методов НК. Световые колебания. Классификация оптических методов НК. Дискретный спектр излучения газов и жидкостей. Непрерывный спектр собственного излучения твёрдых тел с разной температурой.
  
  реферат, добавлен 15.01.2009
  

• 9. Атомный силовой микроскоп

  Создание атомного силового микроскопа, принцип действия, преимущества и недостатки. Методы атомно-силовой микроскопии. Технические возможности атомного силового микроскопа. Применение атомно-силовой микроскопии для описания деформаций полимерных пленок.
  
  курсовая работа, добавлен 14.11.2012
  

• 10. Сканирующая зондовая микроскопия

  Теоретические основы сканирующей зондовой микроскопии. Схемы сканирующих туннельных микроскопов. Атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.
  
  дипломная работа, добавлен 16.08.2014
  

• главная
• рубрики
• по алфавиту
• вернуться в начало страницы
• вернуться к подобным работам