Основы сканирующей зондовой микроскопии
Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
Подобные документы
Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010- 30. Сверхпроводники
Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.
реферат, добавлен 01.12.2013 Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.
реферат, добавлен 29.05.2012Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Принцип действия и области применения технологии трехмерного лазерного сканирования. Конструктивные особенности и методы данной технологии. Технические характеристики и состав оборудования сканирующей системы. Примеры отечественных и зарубежных аналогов.
контрольная работа, добавлен 03.05.2016Полупроводниковые фотоэлектрические преобразователи как эффективные устройства для превращения энергии солнечной радиации в электрическую энергию. Исследование термических свойств перовскитов. Фазовый переход между кубической и тетрагональной структурой.
статья, добавлен 22.03.2019Общее состояние исследований в области синтеза и моделирования структуры и электронного строения неуглеродных нанотрубок. Основные геометрические характеристики тубулена. Применение метода сканирующей электронной микроскопии для синтеза нанотрубок.
реферат, добавлен 20.01.2014Изобретение микроскопа, претенденты на звание изобретателя. Как инструмент в дальнейшем развивался и усовершенствовался. Проблема хроматической аберрации. Основные детали, которые и в настоящее время входят в состав современного оптического микроскопа.
статья, добавлен 29.09.2019Анализ углеродных материалов, полученных методом электронной сканирующей микроскопии. Образование при пиролизе толуола углеродных нанотрубок, форма и размер которых зависят от давления в системе. Материал, полученный восстановлением двуокиси углерода.
статья, добавлен 03.12.2018История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013- 45. Основы оптики
Описание устройства цифрового фотоаппарата, его особенности. Ход лучей света и аккомодация, устройство фотопленки, "глаза". Исправление дефектов зрения. Строение и принцип действия лупы, телескопа, микроскопа. Спектр излучения солнца, цветное зрение.
презентация, добавлен 04.08.2014 Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Ознакомление с требованиями правил по безопасной эксплуатации оборудования и трубопроводов атомных энергетических установок. Изучение фрактографии поверхности разрушения образцов с помощью растровой микроскопии. Исследования отработавшего металла.
статья, добавлен 06.02.2015Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014