Основы сканирующей зондовой микроскопии

Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.

Подобные документы

  • Оптическая индикатриса кристаллов различных сингоний. Устройство микроскопа, его поверки. Естественный и поляризованный свет, преломление лучей, устройство призмы Николя. Изучение оптических свойств кристаллов. Определение силы двойного лучепреломления.

    курсовая работа, добавлен 18.05.2010

  • Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.

    статья, добавлен 30.11.2018

  • Исследование электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы сканирующего зондового микроскопа. Основная область применения СТМ. Изготовление тонких атомногладких острий-зондов и их диагностика.

    презентация, добавлен 29.09.2013

  • Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.

    статья, добавлен 27.05.2018

  • Предложены формулы расчета геометрической и дифракционной составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифрового микроскопа. Отличия в расчете составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифровой и визуальной микроскопии.

    статья, добавлен 29.01.2019

  • Применение электрических машин постоянного тока. Преимущества двигателей постоянного тока перед другими типами электродвигателей. Устройство машин постоянного тока. Принцип действия генераторов независимого возбуждения и последовательного возбуждения.

    презентация, добавлен 24.06.2020

  • Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.

    презентация, добавлен 11.03.2013

  • Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.

    лабораторная работа, добавлен 22.03.2015

  • Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.

    реферат, добавлен 14.12.2013

  • Предназначение растрового электронного микроскопа как прибора для получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, информации о строении и свойствах приповерхностных слоев. Получение изображений в отраженных электронах.

    курсовая работа, добавлен 03.05.2019

  • Управление морфологическими параметрами массивов наночастиц Au, получаемых на поверхности тонких пленок ZnO методом импульсного лазерного напыления с дальнейшим отжигом в инертной атмосфере. Особенность повышения максимума плазмонного поглощения.

    статья, добавлен 29.06.2017

  • Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.

    автореферат, добавлен 02.08.2018

  • Сущность процесса газификации древесины, протекающего в газогенераторных установках. Схема работы и принципиальное устройство газогенераторного котла. Применяемое оборудование в газогенераторных котлах, преимущества и перспективы их использования.

    статья, добавлен 16.03.2019

  • Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.

    научная работа, добавлен 18.05.2012

  • Определение электрической долговечности и пробивной напряженности полимерных диэлектрических пленок при различных напряжениях на образце и при различных скоростях его возрастания. Кинетические закономерности электрического пробоя изучаемых пленок.

    автореферат, добавлен 02.03.2018

  • Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.

    лабораторная работа, добавлен 05.04.2020

  • Принципы измерения линейного размера структурных единиц наноматериалов. Дифракционный предел разрешающей способности человеческого глаза, увеличение простейшего, оптического, туннельного и флуоресцентного микроскопа. Виды рентгеновского излучения.

    лекция, добавлен 12.08.2015

  • Полимерные кантилеверы и сенсоры на их основе. Метод создания тонких полимерных пленок. Точность определения кантилеверного отклонения. Сканирующая зондовая атомно-силовая микроскопия, как мощный инструмент изучения поверхностей исследуемых объектов.

    курсовая работа, добавлен 25.12.2015

  • Энергетическое состояние атома, квантовые числа. Устройство атомно-эмиссионного спектрофотометра. Уравнение Ломакина-Шайбе. Атомно-абсорбционный анализ. Устройство атомно-абсорбционного спектрофотометра. Качественный и количественный анализ проб.

    презентация, добавлен 31.08.2017

  • Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.

    реферат, добавлен 02.12.2014

  • Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.

    статья, добавлен 29.01.2019

  • Понятие плоскополяризованного света. Оптическая индикатриса кристаллов разных сингоний, принципы изучения их свойств. Устройство и поверка микроскопа. Ход лучей через систему поляризатор-кристалл-анализатор. Простые формы и комбинации кристаллов.

    реферат, добавлен 06.03.2013

  • Изучение свойств тонких линз. Определение фокусного расстояния собирающих и рассеивающих линз. Устройство оптических приборов и хода лучей в них. Работа с компьютерной моделью лупы, микроскопа, глаза, трубы Кеплера, линзы, ее принципы и закономерности.

    лабораторная работа, добавлен 12.11.2011

  • Исследование химико-физических процессов и продуктов горения. Использование молекулярно-пучковой зондовой масс-спектрометрии для диагностики пламени в диапазоне вакуумного ультрафиолета. Преимущества установки с синхротронным излучением ВУФ диапазона.

    статья, добавлен 08.11.2018

  • Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.

    контрольная работа, добавлен 16.09.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.