Методы и приборы для исследования структуры наночастиц и наноматериалов
Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
Подобные документы
Характеристика особенностей атомно-шероховатых поверхностей и атомно-гладких граней роста кристалла. Изучение вида объекта-микрометра под микроскопом. Рассмотрение снимков роста кристалла, полученных с помощью цифрового микроскопа Intel Play QX-3.
лабораторная работа, добавлен 22.03.2015Изучение рассеивания излучения на объекте методом исследования структуры материалов. Описание процесса распределения электронной плотности в элементарной ячейке кристалла бензола спроецированное на плоскость. Открытие структуры нуклеиновых кислот.
статья, добавлен 15.03.2014Изучение принципов работы просвечивающего электронного микроскопа и идентификации веществ по их дифракционным картинам. Гипотеза Де Бройля о наличии у частиц вещества волновых свойств. Расчет электронограммы, дифракционная картина на кристаллах никеля.
лабораторная работа, добавлен 28.05.2015Методы и приборы измерения температуры, электрического сопротивления, массы, плотности и давления. Характеристики, свойства и применение дилатометра, дифференциально сканирующего калориметра, весов с приставкой, универсальной разрывной машины, автоклава.
отчет по практике, добавлен 22.11.2015Рассмотрение истории создания сканирующего зондового микроскопа. Изучение микрофлоры воды с помощью микроскопии. Туннельный эффект зонда - квантовое явление проникновения микрочастицы из одной доступной области движения в другую, отделённую барьером.
реферат, добавлен 14.12.2015Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010- 35. Зворыкин Владимир Кузьмич, изобретение электронного микроскопа и передающей телевизионной трубки
Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.
реферат, добавлен 02.12.2014 Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.
презентация, добавлен 11.03.2013Описание основных этапов исследования и расчёта объективов для спектральной когерентной томографии. Характеристика приведенных методов расчета киноформа, а также новой методики расчета гибридных и линзовых объективов. Примеры рассчитанных объективов.
статья, добавлен 07.12.2018Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Сферы применения оптики. Методы контроля на этапе изготовления детали. Техника для измерения радиуса кривизны оптических стекол. Характеристика интерференционного изучения стекол. Определение радиуса кривизны с помощью автоколлимационного микроскопа.
презентация, добавлен 28.12.2015Физическая ошибка Даламбера. Вопрос о физической сути фотонного излучения. Противоречие уравнения Шредингера главному критерию теоретической достоверности – аксиоме Единства. Показатели разрешающей способности микроскопа, сканирующего молекулы бензола.
статья, добавлен 04.02.2019Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019Исследования физических свойств магнитных наноструктур различного типа. Рост исследований, посвященных изучению процессов намагничивания массивов из магнитных наночастиц различной формы (круглых, эллиптических, крестообразных) и магнитных нанокомпозитов.
курсовая работа, добавлен 23.09.2020Моделирование туннельного тока в металл-оксид-полупроводниковых транзисторах, являющихся основой элементов флеш-памяти. Влияние затворного и стокового напряжения, толщины туннельного окисла транзистора на распределение плотности туннельного тока.
статья, добавлен 21.06.2018Методы диагностики силового электрооборудования для повышения надежности его работы. Особенности повышения надежности работы электрических сетей. Проблемы диагностики электрооборудования. Распределение плотности отказов высоковольтного оборудования.
статья, добавлен 21.06.2016Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Понятие и особенности применения атомно-абсорбционных спектрометров, их достоинства и недостатки. Анализ эффективности работы при обдуве аргоном, зависимости массы графита атомизатора от количества нагреваний. Оценка износа контактов, трубки и чашки.
статья, добавлен 23.10.2010Анализ понятия наноматериалов. Отличие свойств малых дисперсных частиц от свойств массивного материала. Изучение наноматериалов в зависимости от характерных размеров структурных элементов, химического состава и распределения фаз, физических явлений.
реферат, добавлен 28.12.2019Построение кумулятивной кривой случайных погрешностей. Вычисление среднего арифметического и погрешности измерения. Расчет на интервале значения функции Гаусса. Методика вычисления оптических и метрологических характеристик измерительного микроскопа.
контрольная работа, добавлен 16.09.2013Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
курсовая работа, добавлен 08.12.2014