Методы и приборы для исследования структуры наночастиц и наноматериалов
Принципы и основные этапы исследования структуры наномателов с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Механизм определения работы выхода материала, а также плотности его состояний. Условия и особенности применения атомно-силового микроскопа.
Подобные документы
Исследование элементного состава вещества с помощью спектральных методов. Этапы процесса спектрального анализа. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой. Особенности применения портативных анализаторов для экспрессионного анализа.
презентация, добавлен 31.10.2017Исследование путей создания магнитоуправляемых наноматериалов для применения в биологии и медицине. Требования к наночастицам: отсутствие агломерации, пассивировация оборванных связей на поверхности. Баланс изменения объемной и поверхностной энергии.
курс лекций, добавлен 12.08.2015Расчет энергетической зонной структуры, полной и локальной парциальной плотности состояний. Пространственное распределение плотности электронного заряда 2Н-SnSе2. Теоретико-групповой анализ для установления трансформационных свойств волновых функций.
статья, добавлен 30.01.2016Исследования по созданию многослойных вращающихся кулоновских структур. Механизмы выброса частиц из структуры. Многослойные структуры с дифференциальным вращением слоев. Динамика четырехслойной структуры. Множественные решения в неустойчивой структуре.
дипломная работа, добавлен 26.10.2018Методы создания вакуума, измерения давления, электрических сигналов, температуры и световых потоков. Принципы учета погрешностей измерений. Источники и приемники оптического излучения. Спектральные приборы. Характерные особенности диспергирующих систем.
учебное пособие, добавлен 19.02.2013Анализ поглощения рентгеновского излучения веществом. Особенность рассеяния фотоэлектрона. Основная методика выделения дальней тонкой структуры спектроскопии. Суть моделирования экспериментальных спектров. Характеристика определения валентного состояния.
практическая работа, добавлен 29.11.2016Новые дополнительные правила отбора для мультипольных переходов в ядрах при использовании ядерной симметрии. Особенности упрощения вычисления матричных элементов переходов с их помощью, а также способы исследования некоторых тонкостей ядерной структуры.
статья, добавлен 24.09.2013Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Характеристика устройств, преобразующих, преломляющих, отражающих излучение областей спектра. Назначение и свойства базовых оптические элементов: линз, призм, зеркал, фильтров. Конструкции и лабораторные задачи оптических приборов микроскопа и телескопа.
реферат, добавлен 25.12.2023Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
реферат, добавлен 15.04.2016Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Типы систем: механические, динамические, термодинамические, открытые, энергодинамические и реальные. Определение нестационарного состояния системы методами "Теории реальных систем" с учетом контактных взаимодействий, нестационарных необратимых процессов.
статья, добавлен 07.07.2021Изображение хода лучей в рефрактометре. Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа и преломления жидкостей с помощью рефрактометра. Зависимость показателя преломления среды от угла падения, длины волны падающего света и температуры.
методичка, добавлен 13.08.2013Основы метрологического обеспечения. Особенности электрических измерений. Виды, средства и методы определения физической величины. Основные классы погрешностей измерений и обработка результатов. Электроизмерительные приборы непосредственной оценки.
курс лекций, добавлен 26.10.2012Разработка командного файла для моделирования структуры силового диода в программе DESSIS. Результаты моделирования с помощью программы INSPECT. Схематическая структура диода с алюминиевой металлизацией и медными элементами корпуса и термоэлектродами.
курсовая работа, добавлен 20.11.2016Энергетические зоны примесей и дефектов. Локализация электронных состояний на дефекте структуры. Теория туннельного эффекта. Прохождение частицы сквозь потенциальный барьер. Туннелирование электронов в твёрдых телах. Работа квантового транзистора.
контрольная работа, добавлен 23.04.2024Типы систем: механические, динамические, термодинамические, открытые, энергодинамические и реальные. Ошибочность существующих методов описания замкнутых систем реальных систем, основанных на методах классической механики и механики сплошной среды.
статья, добавлен 25.06.2021Определение плотности материала конуса. Устройство и принцип измерения линейных размеров тел штангенциркулем и микрометром. Определение абсолютной погрешности при прямых и косвенных измерениях. Расчет плотности однородных тел. Измерения с помощью нониуса.
лабораторная работа, добавлен 06.01.2014Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Рассмотрение возможности определения физико-механических свойств материалов с помощью исследования функции распределения пор по эквивалентным гидравлическим радиусам. Вероятности и частоты появления соответствующие допускаемому при расчетах критерия.
статья, добавлен 12.01.2018Основные правила Хунда. Спектральные методы как наиболее распространеный вид исследования элементного состава вещества. Атомно-эмиссионная спектрометрия (АЭС) с индуктивно связанной плазмой. Основные узлы приборов в АЭС: оптический блок, компьютер и др.
презентация, добавлен 19.09.2017Основные статические и динамические КВЧ-методы исследования метаболических частот, которые вызывают изменение электропроводности биосред с различной концентрацией воды. Описание результатов воздействий низкоинтенсивных КВЧ-волн на клеточные структуры.
статья, добавлен 28.07.2017История открытия и способы описания структуры нового класса твердых тел — квазикристаллов. Экспериментальные исследования их структуры методом просвечивающей электронной микроскопии. Отличия от кристаллических тел и особенности наноквазикристаллов.
статья, добавлен 23.12.2013Знакомство с оптической схемой микроскопа, анализ конструктивных составляющих. Лупа как простейший оптический прибор, рассмотрение сфер использования. Общая характеристика очков с рассеивающими линзами. Особенности уголовного и линейного уравнения лупы.
реферат, добавлен 22.12.2014- 75. Тепловизоры
Понятие тепловизора как устройства для наблюдения за распределением температуры исследуемой поверхности. Особенности функционирования тепловизора, его структурная схема и основные принципы работы. Технические характеристики сканирующего тепловизора.
статья, добавлен 09.05.2018