Работа растрового электронного микроскопа для анализа наноразмерных структур
Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
Подобные документы
Структура оптической системы оптико-электронного прибора. Способы борьбы с внутриприборными засветками в оптической системе. Атермализация и ахроматизация оптической системы оптико-электронного прибора путем выбора надлежащих оптических материалов.
лекция, добавлен 17.11.2018Расчет туннельного тока, проходящего через иглу туннельного микроскопа. Измерение рельефа поверхности с помощью туннельного микроскопа. Оценка размеров конца иглы. Изменения в монохромном изображении, к которым приводит учет радиуса закругления иглы.
статья, добавлен 28.10.2018Физическая ошибка Даламбера. Вопрос о физической сути фотонного излучения. Противоречие уравнения Шредингера главному критерию теоретической достоверности – аксиоме Единства. Показатели разрешающей способности микроскопа, сканирующего молекулы бензола.
статья, добавлен 04.02.2019Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Метод получения термостабильной компоненты инжекционно стимулированного отрицательного заряда в МДП-структурах. Особенности влияния электронного облучения заряда, локальных неоднородностей МДП-структур на процессы. Способ изготовления МДП-приборов.
автореферат, добавлен 31.03.2018Электрофизические свойства порошков нитрида лития, способы его получения и области применения. Основы теории электронного парамагнитного резонанса. Исследование парамагнитной системы образцов нитрида лития, выращенных в процессе изменения давления.
курсовая работа, добавлен 08.10.2017Электронный усилитель как устройство, предназначенное для повышения мощности входного электрического сигнала до номинального значения. Анализ принципов построения усилительных каскадов. Особенности разработки и расчета электронного усилителя мощности.
курсовая работа, добавлен 20.05.2021Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014Характеристика принципа действия аналогового и дискретного электронного вольтметра, прибора для измерения напряжения. Исследование составляющих электронного вольтметра: преобразователя переменного напряжения, усилителя и магнитоэлектрического индикатора.
реферат, добавлен 03.02.2011Основы геометрической оптики, приближенный метод построения изображений в оптических системах. Преломление и отражение света на сферической поверхности линзы. Практическое вычисление показателя преломления стекла при помощи лабораторного микроскопа.
методичка, добавлен 22.11.2012Изучение устройства поляризационного микроскопа и методики работы на нем, определение осности и оптического знака кристаллов. Измерение угла между оптическими осями двуосных кристаллов. Явления в кристаллах, вырезанных перпендикулярно оптической оси.
лабораторная работа, добавлен 05.04.2020Изучение физической сути явлений электронного парамагнитного резонанса и ядерного магнитного резонанса. Рассмотрение их использования в медико-биологических исследованиях. Описание устройства и принципа работы спектрометров ЭПР, метода спинового зонда.
презентация, добавлен 17.12.2016Моделирование динамики электронного потока в реверсивной области циклотронного преобразователя с учетом проникающего поля коллектора. Режимы преобразования и рекуперации кинетической энергии интенсивного электронного пучка в предколлекторной области.
статья, добавлен 03.11.2018Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014Проектування прожектора лазерного растрового підсвічування, який базується у блоці з пружного матеріалу розмірами 100х100 мм, та в якому розміщені 10 напівпровідникових лазерів ІЧ-випромінювання. Керування розбіжним віялом світлових пучків лазерів.
статья, добавлен 29.10.2016Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011Принцип действия и устройство пролетного клистрона. Определение величины коэффициента взаимодействия электронного потока с резонатором. Шунтирующая проводимость электронного потока. Определение числа резонаторов и геометрии тороидального резонатора.
курсовая работа, добавлен 31.01.2017Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018- 44. Влияние плазменных волн пространственного заряда электронного потока на излучение Смита-Парселла
Особенности изменения диаграмм направленности (ДН) и других характеристик дифракционного излучения (ДИ) от статических и динамических параметров электронного потока (ЭП) (тонкая структура ДИ). Влияние плазменных волн ЭП на ДН излучения Смита-Парселла.
реферат, добавлен 23.10.2010 Физика явления электронного парамагнитного резонанса, основные параметры его спектров. Магнитные взаимодействия в спиновых системах. Свойства атомов с магнитными ядрами. Применение электронного парамагнитного резонанса в радиационной химии, фотохимии.
реферат, добавлен 26.11.2008Изучение устройства и принципа действия электронного осциллографа. Наблюдение траекторий движений, представляющих собой результат взаимно перпендикулярных гармонических колебаний кратных частот. Определение неизвестных частот по методу фигур Лиссажу.
лабораторная работа, добавлен 05.05.2015Исследование физического процесса формирования фотона. Физический процесс образования электронного нейтрино в атоме. Понятие электронного захвата. Доказательство отсутствия в природе слабого взаимодействия. Переход свободного нейтрона в атом водорода.
статья, добавлен 27.08.2013- 48. Увеличение электрической прочности ускоряющего промежутка электронного источника при наличии пучка
Разработка плазменной электронной пушки. Создание плазменного источника электронов в комбинации полого катода и плоского ускоряющего промежутка для генерации электронного пучка в форвакуумном диапазоне давлений. Использование математической модели.
реферат, добавлен 26.01.2017 Особенности разработки клистронов. Предложен отказ от модели одномерного движения электронов и использование нового 3D принципа образования электронных сгущений в неоднородном магнитном поле без предварительной модуляции продольной скорости электронов.
статья, добавлен 03.11.2018Модель пучковой системы, позволяющая с малыми погрешностями рассчитывать характеристики процессов для малых и больших разбросов энергии электронов в пучке. Зависимость времени развития неустойчивости от ширины спектра релятивистского электронного пучка.
статья, добавлен 27.07.2016