Работа растрового электронного микроскопа для анализа наноразмерных структур

Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.

Подобные документы

  • Разработка методики расчета и выбора геометрических параметров двигателя и режимов работы когенерационной установки в соответствии с переменной теплопроизводительностью котельной для получения максимальной годовой выработки электрической энергии.

    автореферат, добавлен 02.05.2018

  • Измерения физических величин. Определение характеристик движения тела вокруг неподвижной оси. Ознакомление с устройством и работой электронного осциллографа. Наблюдение фигур Лиссажу. Исследование явления интерференции света, его практическое применение.

    методичка, добавлен 30.04.2014

  • Описание устройства цифрового фотоаппарата, его особенности. Ход лучей света и аккомодация, устройство фотопленки, "глаза". Исправление дефектов зрения. Строение и принцип действия лупы, телескопа, микроскопа. Спектр излучения солнца, цветное зрение.

    презентация, добавлен 04.08.2014

  • Силы, действующие на заряженную частицу в электромагнитном поле. Закон сохранения энергии. Движение частицы в однородном, постоянном магнитном поле. Действие пространственного заряда на электронный пучок. Характеристики и параметры реального диода.

    реферат, добавлен 11.08.2014

  • Описание основных методов исследования растительной, животной клетки и других объектов. Изучение характеристик, особенностей применения, преимуществ и недостатков различных разновидностей светового, электронного и поляризационного методов микроскопии.

    реферат, добавлен 14.12.2013

  • Роль электроники в развитии электронного приборостроения и микроэлектроники. Физические основы полупроводниковых приборов. Конструкция сплавных, диффузионных, планарных и точечных диодов. Конструкция сплавного и планарного биполярного транзистора.

    учебное пособие, добавлен 09.07.2013

  • Классификация оптических приборов. Составные части и принцип действия фотоаппарата. Принцип получения изображения с помощью глаз. Дефекты зрения. Проекционный и диаскопический, эпископический и эпидиаскопический аппараты. История развития микроскопа.

    презентация, добавлен 11.03.2013

  • Квантовые поправки к проводимости двумерных структур на основе GaAs. Определение области проводимостей, в которой теория квантовых поправок количественно согласуется с экспериментальными данными. Неомическая проводимость двумерного электронного газа.

    автореферат, добавлен 08.02.2013

  • Способы резервирования, характерных для энергетического оборудования. Повышение надежности объекта введением избыточности. Вычисление вероятности безотказной работы и средней наработки до отказа электронного устройства. Скользящее резервирование.

    контрольная работа, добавлен 26.04.2015

  • Исследование особенностей Nano-технологии, с помощью которой человек может управлять частицами и системами молекул при создании nano-структур с определенными свойствами. Характеристика принципа действия сканирующего атомно-силового микроскопа с зондом.

    реферат, добавлен 29.05.2012

  • Устройство и порядок работы электронного осциллографа. Принцип отображения формы исследуемого напряжения на экране электронно-лучевой трубки. Группы и схемы соединения обмоток трансформатора. Меры защиты при аварийном состоянии электроустановок.

    шпаргалка, добавлен 20.01.2010

  • Устройство и принцип работы тепловой трубы. Выбор теплоносителя по критерию инертность при взаимодействии с материалом корпуса и капиллярной структуры. Капиллярная структура на основе металловойлока. Охлаждение элементов электронного оборудования.

    контрольная работа, добавлен 15.10.2013

  • Формирование научных взглядов на строение материи. История исследования строения атома. Описание распределения плотности электронного заряда в квантовой механике. Современные космологические модели Вселенной. Теории происхождения Солнечной системы.

    контрольная работа, добавлен 13.11.2017

  • Формирование правильного изображения объекта как главная задача любой оптической системы. Определение сущности и основных групп аберрации. Проведение исследования способности объектива создавать раздельные изображения близко расположенных мелких деталей.

    лабораторная работа, добавлен 24.03.2019

  • Изучение свойств тонких линз. Определение фокусного расстояния собирающих и рассеивающих линз. Устройство оптических приборов и хода лучей в них. Работа с компьютерной моделью лупы, микроскопа, глаза, трубы Кеплера, линзы, ее принципы и закономерности.

    лабораторная работа, добавлен 12.11.2011

  • Результаты экспериментального исследования прохождения сильноточного импульсного пучка электронов длительностью около 200 нс и энергией до 200 кэВ через прямую и изогнутую стеклянные трубки. Поворот пучка, движущегося в изогнутой стеклянной трубке.

    статья, добавлен 27.07.2016

  • Физические основы метода кажущегося сопротивления, его интерпретация и применение. Электрический каротаж нефокусированными зондами. Прямая задача для сред с плоскопараллельными границами раздела. Методы электронного каротажа фокусированными зондами.

    реферат, добавлен 17.05.2015

  • Особенности современной и грамотной водоподготовки на ТЭЦ. Режимы работы фильтра химической подготовки воды. Разработка проекта, переводящего фильтр в необходимый режим работы. Перевод фильтра из режима фильтрации в режим взрыхления и регенерации.

    статья, добавлен 09.04.2016

  • Работа турбогенератора в режиме синхронного компенсатора с присоединенной турбиной. Перевод гидрогенератора в режим синхронного компенсатора. Ограничение режимов работы генератора. Потери активной мощности, обусловленные реактивной нагрузкой генераторов.

    методичка, добавлен 03.03.2018

  • Сверхтонкие YBCO пленки с Тс выше 77К. Контакты сверхпроводника с ферромагнетиком. Использование буферного слоя между подложкой и пленкой. Метод лазерного распыления мишени. Исследования ранних стадий роста пленок с помощью атомно-силового микроскопа.

    реферат, добавлен 01.12.2013

  • Определение сущности нанотехнологии. Рассмотрение преимуществ сканирующего туннельного микроскопа – устройства, позволяющего исследовать вещество на атомном уровне. Ознакомление со стадиями золь-гель метода. Анализ процесса ионного обмена и диализа.

    курсовая работа, добавлен 29.10.2017

  • Описание оптико-электронного устройства, включающего в себя два полупроводниковых лазера, коллимирующих и отражающих оптику. Проведение исследования сканеров, осуществляющих сканирование лазерного луча и позволяющих получить плоский световой растр.

    статья, добавлен 27.02.2018

  • Оптико-электронные приборы: определение, обобщенные схемы и методы работы. Сравнение оптико-электронных приборов с визуальными оптическими и радиоэлектронными приборами. Исторический очерк и перспективы развития оптико-электронного приборостроения.

    лекция, добавлен 17.11.2018

  • Изучение функций нейтральной квазичастицы. Особенности проявления экситона как одной из черт спектра поглощения. Характеристика квант коллективного внутримолекулярного или электронного возбуждения с деформацией решётки. Проявление полярона в спектре.

    реферат, добавлен 10.08.2015

  • Исследование электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. Принцип работы сканирующего зондового микроскопа. Основная область применения СТМ. Изготовление тонких атомногладких острий-зондов и их диагностика.

    презентация, добавлен 29.09.2013

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.