Атомно-силовая микроскопия
Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Подобные документы
Вирішення проблеми встановлення закономірностей фізичних процесів низькотемпературного формування структури приповерхневих шарів твердих тіл під впливом атомно-іонних потоків. Структурні властивості матеріалів. Створення комплексу математичних моделей.
автореферат, добавлен 28.09.2014Экспрессная оценка загрязнения окружающей среды антропогенными факторами. Атомно-абсорбционный анализ определения элементного состава образцов. Совмещение процессов озоления и атомизации. Возможности ААС С-600 при проведении элементного анализа проб.
статья, добавлен 23.10.2010Техническое описание метода определения удельного электрического сопротивления графита в диапазоне высоких температур от 1000 до 3300 K (ниже температуры сублимации) с использованием электротермического атомизатора атомно-абсорбционного комплекса.
статья, добавлен 26.10.2010Проблеми встановлення закономірностей фізичних процесів низькотемпературного формування структури приповерхневих шарів твердих тіл під впливом атомно-іонних потоків. Комплекс математичних моделей для комп’ютерного моделювання процесів структуроутворення.
автореферат, добавлен 29.01.2016Розроблення методики комп`ютерної побудови зображень поверхонь з дефектами в атомно-силовому мiкроскопi в режимах постiйної сили i висоти сканування. Вивчення впливу радiуса вiстря i режимiв на роздiльну здатнiсть, контраст зображень та висоти зближення.
автореферат, добавлен 15.07.2014Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Основные эксплуатационные характеристики для атомно-абсорбционных спектрометров (ААС). Способ определения границ аналитического времени жизни (АВЖ) графитовых трубчатых печей. Пределы аналитического времени жизни на примере элемента медь и печей.
реферат, добавлен 23.10.2010Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Изучение взаимодействия электронного пучка с поверхностью. Рассмотрение принципов работы современного сканирующего зондового микроскопа. Зондовая микроскопия в исследованиях вирусов, дезоксирибонуклеиновой кислоты и белковых комплексов бактерий.
статья, добавлен 20.07.2014Конфокальная микроскопия — метод оптической микроскопии, обладающий значительным контрастом по сравнению с микроскопами классической схемы. История развития, принцип работы и пространственное разрешение в конфокальной микроскопии; области применения.
реферат, добавлен 13.04.2017Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Особенность развития и становления атомной энергетики в мире. Создание международных организаций по контролю эксплуатации существующих и строительства новых реактивных станций. Оценка изменений в географии ядерного энергетического цикла общества.
контрольная работа, добавлен 14.05.2017Рассмотрение устройства растрового электронного микроскопа. Особенности взаимодействия электронного пучка с веществом на поверхности мишени-образца. Изучение основных механизмов формирования и обработки изображения в растровом электронном микроскопе.
лекция, добавлен 21.03.2014Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
презентация, добавлен 11.12.2016- 43. Влияние условий конденсации ионно-плазменного потока на структуру и свойства покрытий нитрида титана
Физические методы получения покрытий в вакууме. Процесс конденсации с ионной бомбардировкой. Получение субмикрокристаллических плёночных систем на основе соединений титана с азотом, исследование атомно-кристаллической структуры и микротвердости плёнок.
автореферат, добавлен 31.03.2018 Определение сущности спектрального анализа. Характеристика особенностей атомно-эмиссионного спектрального анализа. Рассмотрение источников возбуждения спектров: пламени, электрической дуги постоянного тока, высокочастотной индуктивно-связанной плазмы.
курсовая работа, добавлен 05.06.2016Основы изучения спектра электромагнитного излучения атомов, анализ дисперсии света. Сущность второго постулата Бора, методика измерений в эмиссионной фотометрии пламени. Понятие атомно-абсорбционной спектроскопии, лазер как оптический квантовый генератор.
презентация, добавлен 08.10.2015История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Понятие и виды электронной микроскопии. Схема устройства растрового электронного микроскопа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Анализ методов исследования надмолекулярной структуры аморфных и кристаллизующихся полимеров.
доклад, добавлен 07.02.2012Ознакомление с основными положениями теории тепловых явлений, в которых не учитывается атомно-молекулярное строение тел. Сущность и принципы закона сохранения энергии. Изучение содержания, свойств и применения первого и второго законов термодинамики.
реферат, добавлен 23.12.2013Рассмотрение взаимодействия между физическим объектом и измерительным устройством в квантовой механике. Корпускулярно-волновой дуализм, гипотеза Луи де Бройля. Определение длин волн и скоростей электронов. Современная электронная микроскопия в физике.
реферат, добавлен 10.08.2015Характеристика основных свойств и производства водорода. Анализ разработки модульного гелиевого реактора для генерации электричества с использованием прямого газотурбинного цикла. Обобщение применения водорода в ракетостроении и в переработке нефти.
статья, добавлен 03.11.2010