Атомно-силовая микроскопия
Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
Подобные документы
Встановлення фізичних механізмів низькотемпературної пластичної деформації ряду нових кристалічних матеріалів. Виявлення особливостей поведінки (аномалій) їх механічних характеристик, обумовлених перебудовами атомно-кристалічної та електронної структури.
автореферат, добавлен 29.04.2014Исследование электронных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел. История создания работы сканирующего туннельного микроскопа. Объекты анализа и методы их подготовки. Микроскопии ближнего поля, расширение области применения.
реферат, добавлен 02.11.2014- 78. Дослідження топографії та атомної структури поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалів In4Se3
Методами скануючих тунельної, атомно-силової мікроскопій та дифракції повільних електронів на відбивання досліджено топографію, кристалографію та атомну структуру поверхонь сколювання шаруватих кристалів In4Se3, одержаних шляхом сколювання in situ.
статья, добавлен 13.10.2016 Анализ хронологии развития микроскопии. Строение и принцип работы оптического микроскопа. Исследование контраста изображения и разрешающей способности прибора с сильно увеличивающими стеклами. Особенность измерения размеров микроскопических объектов.
реферат, добавлен 29.05.2016Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Розгляд питання сучасного стану, теорії і практики холодного ядерного синтезу. Холодний ядерний синтез, як передбачувана можливість здійснення ядерної реакції синтезу в хімічних (атомно-молекулярних) системах без значного нагрівання робочої речовини.
статья, добавлен 02.11.2018Эволюция структуры атомно чистой поверхности в процессе воздействия на образец в условиях сверхвысокого вакуума. Использование методов электронной дифракции и спектроскопии для изучения дефектных структур в нанометровом поверхностном слое твердого тела.
дипломная работа, добавлен 02.03.2018Характеристика сущности и возможностей методов рентгеновской топографии. Рассмотрение примеров применения рентгеновских топографических методов, выявление их преимуществ и недостатков. Механизмы формирования контраста на рентгеновских топограммах.
лекция, добавлен 21.03.2014Физическая природа рентгеновского излучения. История открытия. Биография В.К. Рентгена. Применение рентгеновского излучения человеком. Использование излучения в обыденной жизни, производстве и рентгеновская микроскопия. Применение в медицине и астрономии.
научная работа, добавлен 25.01.2020Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
курсовая работа, добавлен 08.12.2014- 87. Электронная микроскопия углеродных нанотрубок и нановолокон и автоэлектронные эмиттеры на их основе
Исследование различных типов углеродных нанотрубок методами электронной микроскопии высокого разрешения (ВРЭМ), растровой электронной микроскопии (РЭМ) и электрофизическими методами. Анализ использования ОСНТ@ПУ в качестве элементов наноэлектроники.
автореферат, добавлен 02.08.2018 Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Модернизация прибора Camebax МВХ-1. Требования к приборам аналогичного класса. Разработка методик для исследования химико-физических изменений в материалах при их эксплуатации на тепловых электрических станциях, в околоземном космическом пространстве.
автореферат, добавлен 08.11.2018Некоторые понятия векторного анализа. Силовая характеристика электростатического поля. Закон Кулона. Теорема Остроградского-Гаусса. Потенциальность поля. Взаимодействие движущихся зарядов. Вектор магнитной индукции. Примеры использования силы Лоренца.
курс лекций, добавлен 05.07.2013Энергетическая эффективность работы силового потенциала топливного газа при применении двухпоточной схемы детандер-генераторного агрегата с параллельным распределением газового потока между цилиндрами в составе утилизационной турбодетандерной установки.
статья, добавлен 27.05.2018Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Общие понятия, история, первый изобретатель, недавние достижения в разработке оптического микроскопа. Применение в науке и технике, устройство и основные элементы оптической системы. Специализированные виды микроскопов: назначение и возможности.
доклад, добавлен 13.03.2011История возникновения и развития ближнепольной оптики. Принцип действия и основные узлы микроскопа. Схема сканирования зондом изучаемого образца. Физические явления, лежащие в основе механизма образования изображения. Уравнения Максвелла и Шредингера.
учебное пособие, добавлен 28.12.2013Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Дж. Томсон как лауреат Нобелевской премии по физике 1906 года. Основные научные достижения Ф. Ленарда. Открытие Г. Мозлеем связи между частотой спектральных линий характеристического рентгеновского излучения и атомным номером излучающего элемента.
презентация, добавлен 28.09.2014Изучение принципиальных схем и функционального назначения цветовых и радиационных пирометров. Ознакомление с законами Планка, Вина и Стефана-Больцмана, предназначенными для измерения температуры. Устройство и принципы работы тепловизорных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 19.12.2011Оценка пространственной разрешающей способности оптической системы микроскопа. Использование оптимальной линейной пространственной фильтрации цифрового изображения полуплоскости для измерения функции рассеяния линии типовых оптических систем микроскопов.
статья, добавлен 29.01.2019