Особенность закона Мура и масштабирования интегральных схем
Характеристика экспансии и следствия закона Мура. Анализ нового технологического процесса, представленного корпорацией Intel. Сущность традиционного планарного транзистора. Формирование емкости на затворе. Особенность бесконтактной диагностики микросхем.
Подобные документы
Анализ основных эффектов и причин воздействия космического излучения на электронную аппаратуру. Исследование влияния одиночных сбоев на работу цифровых устройств, поиск методов защиты. Определение обобщенного критерия надежности для интегральных схем.
статья, добавлен 28.04.2017Характеристика организации труда на предприятии. Сущность технологического оборудования на рабочем месте. Маркировка и особенности корпусов SMD-компонентов. Анализ поверхностного монтажа на печатных платах. Сборка конструкций радиоэлектронной аппаратуры.
отчет по практике, добавлен 03.05.2015Суть задач оптимального управления и математического описания целевой функции. Особенность разработки простейших локальных систем правления. Анализ интегральных оценок качества переходного процесса. Оптимизация статики и режимов многомерных объектов.
доклад, добавлен 22.07.2015Intel 8051 — однокристальный микроконтроллер гарвардской архитектуры, который был впервые произведен Intel в 1980 году, для использования во встраиваемых системах. Архитектура и пример выполнения работы микроконтроллера Intel 8051 в режиме прерываний.
контрольная работа, добавлен 25.02.2018Условия согласования интегрального малошумящего усилителя с источником сигнала, результаты моделирования зависимостей коэффициента передачи по напряжению и коэффициента шума от длины эмиттера биполярного транзистора и ширины затвора МОП транзистора.
статья, добавлен 15.08.2013Основные технологические этапы построения схемы И-НЕ на n-МОП транзисторах. Характеристика схемы нагрузочного и активного транзистора. Этапы расчета емкости перекрытия каналов. Особенности расчета схемы при помощи программы P-Spice, параметры схемы.
контрольная работа, добавлен 27.05.2012Анализ главных характеристик современных процессоров. Характеристика шестого поколения микроархитектуры центральных процессоров Intel Core. Изучение современных процессоров компании AMD. Сравнение характеристик современных процессоров AMD и Intel.
реферат, добавлен 21.04.2020Область применения, цель создания и задачи подсистемы САПР конструкторско-технологического назначения. Классификация, обозначение и условно-графическое изображение цифровых микросхем. Особенности применения КМОП микросхем. Работа с компилятором Visual C.
курсовая работа, добавлен 06.06.2010Анализ элементной базы (фотоприемники, излучатели, иммерсионная среда), процессов преобразования энергии, принципиальных возможностей, областей применения оптронов. Характеристика диодных, транзисторных, дифференциальных оптопар и интегральных микросхем.
курсовая работа, добавлен 16.12.2009История развития интегральных схем. Назначение, принцип работы, параметры, ведущие производители ПЛИС. Влияние развития ПЛИС на конструирование и технологию печатного узла. Разработка конструкции, удовлетворяющей требованиям целостности сигнала и питания.
методичка, добавлен 22.01.2016Особенности процесса построения интеллектуальных систем автоматизированного проектирования сверхбольших интегральных схем. Формирование символьного представления решения задачи канальной трассировки. Механизмы трассировки на основе роевого интеллекта.
статья, добавлен 19.01.2018Закон Мура, первый контроллер и архитектура МК 8051. Отслеживание выполнения программы по ее исходному тексту. Отображение данных в ассемблерных программах высокого уровня. Внутрисхемные эмуляторы и отладочные мониторы. Интегрирование среды разработки.
курсовая работа, добавлен 11.12.2010Рассмотрение основных методов масштабирования изображений. На основе методов, созданных ранее, обоснование дальнейшего направления развития метода итерационного масштабирования и очистки цифровых изображений. Методы итерационного преобразования.
реферат, добавлен 02.04.2019Разработка структурной схемы микропроцессорной системы на основе процессора Intel 8086, работающей в минимальном режиме. Создание функциональных схем модулей памяти и портов ввода/вывода; расчет адресного пространства. Алгоритм функционирования системы.
курсовая работа, добавлен 10.06.2013Проведение исследования компоновки отсека летательного аппарата. Особенность проектирования нового или модернизации существующего изделия. Расчет точной длины провода, с учетом всех огибающих поверхностей. Разработка различных типов электрических схем.
статья, добавлен 21.12.2019- 116. Применение метода токовых графов для схемотехнического проектирования цифровых интегральных схем
Исследование методики схемного проектирования цифровых интегральных схем с применением токовых графов. Преобразование логических функций. Токовый граф логического устройства и его электрическая принципиальная схема. Расчет напряжения питания микросхемы.
контрольная работа, добавлен 22.11.2010 Виды, методы и этапы технического контроля качества. Анализ закона РБ "О сертификации продукции, услуг и работ". Построение карты статистического контроля качества конденсатора методом средних арифметических величин в зависимости его номинальной емкости.
контрольная работа, добавлен 30.11.2017Сведения о продукции, выпускаемой предприятием. Общая схема технологии процесса изготовления изделия HV10. Теоретические основы метода выполнения диффузии, техника ее проведения и предъявляемые требования. Разработка магнитронного напыления алюминия.
отчет по практике, добавлен 08.08.2013Характеристики биполярных интегральных транзисторов, их элементы, назначение и область применения. Разновидности интегральных резисторов, их параметры и конструкции. Конфигурации интегральных диффузионных конденсаторов, их конструирование и формирование.
реферат, добавлен 22.02.2009Источник опорного напряжения как один из важных узлов систем стабилизации частоты, оказывающих большое влияние на точность их работы. Знакомство с основными источниками и особенностями опорного напряжения для интегральных схем стабилизации частоты.
статья, добавлен 02.02.2019Характеристика итерационного закона юстировочного позиционирования пространственного положения реперных точек составной зеркальной поверхности. Геометрическая модель многопанельного главного зеркала радиотелескопа с каркасно-ферменным основанием.
статья, добавлен 30.10.2018Принцип действия биполярного транзистора. Возникновение коэффициента усиления по напряжению с учётом конкретных схем включения транзистора: с общим эмиттером (ОЭ), с общим коллектором (ОК) и с общей базой (ОБ). Таблица сравнительных данных по этим схемам.
лекция, добавлен 01.09.2013Синтез корпусов микросхем микроконтроллеров. Особенность управления светодиодами. Начало работы в Atmel Studio 7.0. Исследование компиляции и отладки. Изучение программы управления светодиодной индикацией. Анализ цифровых сегментных индикаторов.
презентация, добавлен 10.04.2020Анализ исходных данных технологического задания и элементной базы, описание работы, расчет конструктивных показателей. Технологическая характеристика элементной базы и монтажного основания. Проектирование технологического процесса и выбор оборудования.
курсовая работа, добавлен 29.08.2010Обобщенная структурная схема тракта цифрового телевидения. Особенность преобразования аналогового сигнала в дискретный. Сущность передатчиков телевизионных станций. Формирование синхросигналов и тактовых импульсов. Анализ системы кодирования программ.
контрольная работа, добавлен 10.04.2017