Просвечивающая электронная микроскопия
Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
Подобные документы
Методы просвечивающей и растровой электронной, атомно-силовой микроскопии. Изучение строения и фрактальных характеристик массивов нано-/микрочастиц серебра, осажденных из аэрозоля и тумана на диэлектрические подложки (ядерные фильтры и кремний).
статья, добавлен 25.10.2018Способы оценки траекторных интегралов фейнмановского типа. Определение свойств и параметров корпускулярных пучков, формируемых атомными линзами различных конфигураций. Моделирование схем использования атомных линз в электронной микроскопии и голографии.
автореферат, добавлен 02.03.2018Закономерности дефектообразования в легированных и нелегированных полупроводниковых материалах методами просвечивающей электронной микроскопии. Расчет энергии дефекта упаковки. Контроль стойкости полупроводниковых материалов к образованию дефектов.
автореферат, добавлен 26.07.2018Изучение зависимости параметров тока пучка и его распределение вдоль длины колец от амплитуды магнитного поля вдоль оси системы и градиента спада поля. Исследование режима формирования сгустков электронного тока. Параметры радиального и осевого токов.
статья, добавлен 01.03.2017Типы сканирующих зондовых микроскопов. Схема работы сканирующего туннельного и атомно-силового микроскопа, достоинства и недостатки их использования. Конструкции оптического микроскопа в ближнем поле и сканирующего ближнепольного оптического микроскопа.
реферат, добавлен 04.04.2017Микрогеометрический анализ на основе оптической микроскопии. Приводы управления перемещениями узлов микроскопа и аппаратные решения, используемые при создании комплекса. Оценка погрешности кинематической цепи привода при перемещении предметного столика.
статья, добавлен 27.05.2018Изучение всемирной истории изобретения и усовершенствования микроскопов. Применение ахроматических линз. Анализ основ физики микроскопии. Описания основных процессов, протекающих в оптической системе микроскопа. Исследование классификации микроскопов.
статья, добавлен 22.12.2016Фундаментальные электронные явления в наноструктурах. Применение наноматериалов и нанотехнологий. Просвечивающая электронная микроскопия. Рентгеновская, инфракрасная и фотоэлектронная спектроскопия. Фуллерены и нанотрубки. Нанокластеры и нанокристаллы.
учебное пособие, добавлен 11.04.2013Результаты экспериментального исследования прохождения сильноточного импульсного пучка электронов длительностью около 200 нс и энергией до 200 кэВ через прямую и изогнутую стеклянные трубки. Поворот пучка, движущегося в изогнутой стеклянной трубке.
статья, добавлен 27.07.2016Понятие про вакуум и его свойства. Модель прибора вакуумной электроники, исследование электронной эмиссии. Электронно-лучевые приборы, движение электронов в газах. Основы зондовой микроскопии (туннельная микроскопия, зондовые сканирующие микроскопы).
контрольная работа, добавлен 26.01.2020Физические основы когерентной микроскопии. Изучение явлений самоорганизации и регуляции внутриклеточных процессов. Метод флуоресцентной микроскопии в сочетании с видеосъемкой. Оценка линейного оптического увеличения. Корреляционный и спектральный анализ.
реферат, добавлен 30.01.2014Определение удельного сопротивления раствора электролита. Особенности электрического сопротивления металлов. Процесс фокусировки электронного пучка магнитным полем, кaлибровка термопары. Снятие вольтамперной характеристики полупроводникового диода.
дипломная работа, добавлен 14.09.2017Моделирование динамики электронного потока в реверсивной области циклотронного преобразователя с учетом проникающего поля коллектора. Режимы преобразования и рекуперации кинетической энергии интенсивного электронного пучка в предколлекторной области.
статья, добавлен 03.11.2018Принципиальное устройство атомно-силового микроскопа. Исследование механических свойств полимерных пленок. Принцип действия туннельного микроскопа. Преимущества, недостатки и перспективы сканирующей зондовой микроскопии. Режимы сканирования поверхности.
реферат, добавлен 14.12.2014- 40. Линза. Виды линз
Предназначение и применение линз, построение оптических приборов с исправленной оптической аберрацией. Роль линз в офтальмологии, их основные виды. Использование диэлектрических линз в радиоастрономии и радарах. Специфика гравитационных и магнитных линз.
реферат, добавлен 11.05.2017 Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Современные представления о морфологии поверхности. Зондовые и оптические методы исследования поверхностного рельефа. Схема организации системы обратной связи зондового микроскопа. Получение информации о свойствах поверхности в электросиловой микроскопии.
статья, добавлен 30.11.2018Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Особенности разработки клистронов. Предложен отказ от модели одномерного движения электронов и использование нового 3D принципа образования электронных сгущений в неоднородном магнитном поле без предварительной модуляции продольной скорости электронов.
статья, добавлен 03.11.2018Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Структура оптической системы оптико-электронного прибора. Способы борьбы с внутриприборными засветками в оптической системе. Атермализация и ахроматизация оптической системы оптико-электронного прибора путем выбора надлежащих оптических материалов.
лекция, добавлен 17.11.2018Принципиальная электрическая схема и описание ее работы: основные блоки, функциональная и структурная схема САУ. Магнитный усилитель и его передаточная и частотная характеристики. Анализ устойчивости и определение граничного коэффициента усиления.
курсовая работа, добавлен 10.06.2011- 50. Релейная защита
Комплект защиты фидера контактной сети тяговой подстанции и структурная схема его электронного комплекта. Структурная схема комплекта электронной защиты. Первичные и вторичные параметры срабатывания защит фидеров подстанции и поста секционирования.
курсовая работа, добавлен 14.02.2014