Просвечивающая электронная микроскопия
Основные задачи и характеристики просвечивающей электронной микроскопии. Схема просвечивающего электронного микроскопа. Основные составные части и характеристики электронного пучка. Линзовая система осветителя и дефлектор. Аберрации электронных линз.
Подобные документы
Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.
научная работа, добавлен 18.05.2012Основные характеристики интернационального термоядерного реактора. Принцип действия ветряных электростанций. Методы преобразования энергии солнечной радиации в постоянный электрический ток. Составные части дизельного или бензинового электроагрегата.
статья, добавлен 06.08.2015Классификация электроннолучевых приборов. Устройство, принцип действия трубки с электростатическим управлением. Электростатическая фокусировка электронного луча. Магнитные фокусирующие линзы. Магнитная отклоняющая система. Конструкция отклоняющих катушек.
реферат, добавлен 13.10.2017Методы расчета надежных источников питания (преобразователей частоты) для мощных высоковольтных ускорителей электронов трансформаторного типа, исходя из геометрических размеров ускорителя и принятых величин максимальной энергии тока электронного пучка.
автореферат, добавлен 30.01.2018Изучение электронного конструктора "Знаток" и внедрение его в лабораторную работу. ВАХ (вольт-амперные характеристики) светодиодов, вольт-амперные характеристики по измеренным значениям I и U, расчет сопротивления резистора, гальванического элемента.
статья, добавлен 20.04.2019- 56. Тонкие линзы
Изучение свойств тонких линз. Определение фокусного расстояния собирающих и рассеивающих линз. Устройство оптических приборов и хода лучей в них. Работа с компьютерной моделью лупы, микроскопа, глаза, трубы Кеплера, линзы, ее принципы и закономерности.
лабораторная работа, добавлен 12.11.2011 Главный анализ непрерывного сканирования луча с помощью акустооптических дифракционных модуляторов. Особенность принципов действия оптической электроники. Основные характеристики устройства. Сущность работы дефлекторов с линейной частотной модуляцией.
доклад, добавлен 29.12.2014Физика явления электронного парамагнитного резонанса, основные параметры его спектров. Магнитные взаимодействия в спиновых системах. Свойства атомов с магнитными ядрами. Применение электронного парамагнитного резонанса в радиационной химии, фотохимии.
реферат, добавлен 26.11.2008Изучение структуры и элементного состава одно- и двухслойных конденсатов на основе высокотемпературных сверхпроводящих материалов, полученных из абляционной плазмы, инициированной импульсным лазерным воздействием. Метод растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 30.10.2010Модернизация прибора Camebax МВХ-1. Требования к приборам аналогичного класса. Разработка методик для исследования химико-физических изменений в материалах при их эксплуатации на тепловых электрических станциях, в околоземном космическом пространстве.
автореферат, добавлен 08.11.2018Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018История создания и принцип работы сканирующего туннельного микроскопа. Мюллер как изобретатель первого полевого ионного микроскопа. Особенности формирования изображения поверхности по методу постоянного туннельного тока и постоянного среднего расстояния.
курсовая работа, добавлен 10.12.2018Анализ углеродных материалов, полученных методом электронной сканирующей микроскопии. Образование при пиролизе толуола углеродных нанотрубок, форма и размер которых зависят от давления в системе. Материал, полученный восстановлением двуокиси углерода.
статья, добавлен 03.12.2018Этапы возникновения и принцип действия микроскопа. Физические закономерности получения изображения в микроскопии. Методы изучения движения электронов. Виды электронных микроскопов, особенности работы с ними. Пути преодоления дифракционного предела.
реферат, добавлен 29.09.2010- 65. Электродинамика
Понятие электродинамики и ее значение. Магнитное поле и его основные характеристики. Сущность закона электромагнитной индукции Фарадея-Ленца. Система уравнений Максвелла-Лоуренса, его виды. Электромагнитные волны, их основные характеристики и значение.
реферат, добавлен 26.12.2008 Виды транзисторных усилителей, основные задачи при их проектировании. Применяемые при анализе схем обозначения и соглашения. Статистические характеристики транзисторов. Статические и дифференциальные параметры транзисторов. Обратные связи в усилителях.
лекция, добавлен 09.04.2015Разработка методики прямого измерения сечения захвата радиоактивных ядер с помощью многосекционного детектора на основе спектрометрии множественности захватного гамма-излучения. Блок-схема детектора и электронного тракта. Параметры пучка нейтронов.
статья, добавлен 12.09.2013Условие эксплуатации и применения компонентов электронной техники. Основные параметры общих и специальных резисторов. Характеристики и параметры конденсаторов с диэлектрическим органическим изолятором. Разновидности и типы трансформаторов и дросселей.
учебное пособие, добавлен 21.12.2011Основные понятия квантовой электроники. Принципы усиления и генерации света. Свойства и характеристики лазерного излучения. Технология получения голографических изображений. Изучение аберрации и энергетики оптических систем. Типы современных лазеров.
учебное пособие, добавлен 10.07.2015Физические основы работы атомно-силового микроскопа. Силовое взаимодействие между зондом и поверхностью. Вид потенциала Ленарда-Джонса. Технология изготовления зондовых датчиков атомно-силовых микроскопов. Контактная атомно-силовая микроскопия.
реферат, добавлен 06.09.2015История открытия магнитно-силового микроскопа(МСМ): его устройство и принцип работы. МСМ исследования поверхности магнитного диска. Практическое применение магнитно-силового микроскопа: разработка и конструирование магнитных носителей информации.
презентация, добавлен 02.12.2014Большие скорость и энергия: основные свойства электрона. Понятие электронного облака (атомная орбиталь), его виды. Проблема определения местоположения электронов в пространстве. Уровни электронной оболочки. Правила заполнения электронами атомной орбитали.
презентация, добавлен 28.08.2014Рассмотрение взаимодействия между физическим объектом и измерительным устройством в квантовой механике. Корпускулярно-волновой дуализм, гипотеза Луи де Бройля. Определение длин волн и скоростей электронов. Современная электронная микроскопия в физике.
реферат, добавлен 10.08.2015Строение атома, их энергетические характеристики. Описание ядерной, современной квантово-механической модели атома и модели Бора. Закон Мозли, квантовые числа и атомные орбитали. Принципы электронного строения атомов, периодическая система элементов.
реферат, добавлен 25.05.2014Сущность схемы как конструкторского документа, на котором показаны составные части изделия и связи между ними. Характерные признаки их различных видов. Общие правила составления шифра и наименования. Принципы создания электрических схем, их задачи.
реферат, добавлен 21.04.2013