Методы электронной микроскопии
Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
Подобные документы
Способы оценки траекторных интегралов фейнмановского типа. Определение свойств и параметров корпускулярных пучков, формируемых атомными линзами различных конфигураций. Моделирование схем использования атомных линз в электронной микроскопии и голографии.
автореферат, добавлен 02.03.2018Краткая история разработки рентгеновского микроанализатора. Рассмотрение видов и методов регистрации рентгеновского спектра и их сущности. Принципы количественного рентгеноспектрального микроанализа. Примеры применения растровой электронной микроскопии.
лекция, добавлен 21.03.2014Рассмотрение сущности амплитудного и фазового контрастов. Технология формирования изображения в оптической системе. Анализ аберраций в электронном микроскопе. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения в физике твердого тела.
лекция, добавлен 21.03.2014Оптическая схема и принцип действия оптического микроскопа. Основные виды микроскопов, пределы их общего увеличения. Характеристика методов наблюдения при оптической микроскопии. Методы светлого (в отраженном свете) и темного (в проходящем свете) полей.
реферат, добавлен 15.09.2017Разработка методики подготовки атомно-силовой микроскопии (АСМ) зондов для выполнения электрических АСМ измерений и электрохимической литографии. Разработка методики выбора оптимальной силы взаимодействия "зонд-образец" для контроля процесса износа.
автореферат, добавлен 25.07.2018Измерения микро- и нанотвердости методом электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, особенности взаимосвязи тонкой субструктуры с изменением прочностных свойств однофазных и нанокомпозитных покрытий вблизи поверхности сопряжения с подложкой.
научная работа, добавлен 18.05.2012История возникновения и области применения микроскопа - оптического прибора для получения увеличенного изображения мелких объектов и их деталей, не видимых невооруженным глазом. Описание научных достижений, полученных с помощью микроскопической техники.
реферат, добавлен 27.12.2011Анализ углеродных материалов, полученных методом электронной сканирующей микроскопии. Образование при пиролизе толуола углеродных нанотрубок, форма и размер которых зависят от давления в системе. Материал, полученный восстановлением двуокиси углерода.
статья, добавлен 03.12.2018Исследование фосфорсодержащих соединений в качестве ингибиторов коррозии металлов в системах отопления и промышленного водоснабжения. Методы изучения морфологии оксидного слоя и его элементного состава методами растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 27.02.2017Оценка целесообразности применения метода фокусировки на объект в оптической микроскопии для определения высотных характеристик образца. Расчет разрешающей способности, погрешности измерений данного метода на основе данных, полученных на микроскопе Leica.
статья, добавлен 27.05.2018Изучение структуры и элементного состава одно- и двухслойных конденсатов на основе высокотемпературных сверхпроводящих материалов, полученных из абляционной плазмы, инициированной импульсным лазерным воздействием. Метод растровой электронной микроскопии.
статья, добавлен 30.10.2010Получение изображений двухфазных и нанопористых стекол методом конфокальной сканирующей лазерной микроскопии, которые свидетельствуют о наличии неоднородной структуры с разными оптическими свойствами. Процессы, происходящие в стеклах при термообработке.
статья, добавлен 30.11.2018Суть метода когерентной волноводной оптической микроскопии, основанный на явлении волноводного рассеяния света. Схема волноводного оптического микроскопа. Двумерные диаграммы рассеяния (функции отклика) волноводного оптического микроскопа в дальней зоне.
статья, добавлен 07.11.2018Изучение естественно-научных и естественно-научных смежных дисциплин. Определение микроскопии мазков крови с определением морфологических характеристик форменных элементов. Проведение исследования цены окулярного деления светового микроскопа "Микмед-5".
статья, добавлен 27.05.2023Принципы построения изображения объекта в ближнепольной оптической микроскопии. Современные схемы реализации микроскопа. Вид и изготовление зондов на основе оптического волокна. Применение фокусирующего зеркала для увеличения чувствительности излучения.
лекция, добавлен 28.12.2013Изобретение атомно-силового сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, основанного на взаимодействии зонда кантилевера с поверхностью образца. Кантилевер и особенности его работы. Биомедицинские приложения сканирующей зондовой микроскопии.
реферат, добавлен 16.09.2010Исследование влияния эффектов окружения на колебательные свойства индивидуальных углеродных нанотрубок. Рассмотрение идентифицированных методов электронной дифракции и микроскопии высокого разрешения. Зависимости частот радиальных дыхательных мод.
статья, добавлен 29.06.2017Схемы изменения ориентации свободных электронов в проводе под действием электрического импульса. Формирование импульсов электронов вдоль провода и излучение им фотонов в пространство. Схема передачи электронной информации в пространство и по проводам.
статья, добавлен 04.02.2019История открытия рентгеновских лучей и первые рентгеноскопические исследования. Возникновение и свойства рентгеновского излучения. Модели структур кристаллов по У. Брэггу. Сущность способов рентгеновской микроскопии: контактный и диффракционный.
реферат, добавлен 08.04.2013Физические основы и принцип работы атомно-силового микроскопа, его внутреннее устройство и главные компоненты. Анализ схемы зондового датчика, а также факторы, влияющие на его взаимодействие с поверхностью. Качественный вид потенциала Леннарда-Джонса.
реферат, добавлен 25.05.2020Понятия вероятности, плотности вероятности. Законы распределения случайных величин. Описание методик измерений распределения электронов в электронной радиолампе по скоростям. Расчет наиболее вероятной скорости электронов и температуры электронного газа.
методичка, добавлен 16.03.2015Предложены формулы расчета геометрической и дифракционной составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифрового микроскопа. Отличия в расчете составляющих глубины резко изображаемого пространства для цифровой и визуальной микроскопии.
статья, добавлен 29.01.2019Ознакомление с требованиями правил по безопасной эксплуатации оборудования и трубопроводов атомных энергетических установок. Изучение фрактографии поверхности разрушения образцов с помощью растровой микроскопии. Исследования отработавшего металла.
статья, добавлен 06.02.2015Анализ выражения для времени электрон – электронной релаксации, матричных элементов потенциала полной экранировки и динамической зависимости диэлектрической функции в 2D-электронной системе. Анализ пространственного распределения электронной плотности.
статья, добавлен 04.11.2018- 50. Увеличение электрической прочности ускоряющего промежутка электронного источника при наличии пучка
Разработка плазменной электронной пушки. Создание плазменного источника электронов в комбинации полого катода и плоского ускоряющего промежутка для генерации электронного пучка в форвакуумном диапазоне давлений. Использование математической модели.
реферат, добавлен 26.01.2017