Методы электронной микроскопии
Обзор истории микроскопии. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии. Оценка источников электронов. Определение вспомогательного оборудования для ОПЭМ и системы освещения. Анализ способов применения просвечивающего электронного микроскопа.
Подобные документы
- 51. Исследование особенностей распределения локальной проводимости на поверхности слоистых материалов
Создание пригодного к использованию цельнометаллического кантилевера из платиново-иридиевой проволоки, способного проводить ток. Сканирование графита и наблюдение за разные проводимости террас на поверхности. Методы сканирующей зондовой микроскопии.
контрольная работа, добавлен 03.05.2019 Описание основных принципов работы сканирующего зондового и атомного силового микроскопов. Характеристика ключевых методов исследования биологических и органических объектов и структур. Типовой анализ искажающих эффектов атомно-силовой микроскопии.
диссертация, добавлен 23.12.2013Методы расчета надежных источников питания (преобразователей частоты) для мощных высоковольтных ускорителей электронов трансформаторного типа, исходя из геометрических размеров ускорителя и принятых величин максимальной энергии тока электронного пучка.
автореферат, добавлен 30.01.2018Выбор источников света для системы общего равномерного освещения цеха и вспомогательных помещений. Светотехнический расчёт системы освещения и определение установленной мощности источников света в помещениях. Схема питания осветительной установки.
курсовая работа, добавлен 03.01.2014Принцип работы и характеристики современного телескопа. Фазово-контрастная микроскопия, ее применение для исследования живых и неокрашенных биологических объектов. Широкое распространение люминесцентной микроскопии. Некоторые виды современных микроскопов.
контрольная работа, добавлен 09.04.2019Исследования наномасштабных шероховатостей поверхности твердого тела методами сканирующей зондовой микроскопии и рентгеновской рефлектометрии. Разработка аппаратуры и СЗМ-методик регистрации локального фототока в фоточувствительных полупроводниках.
автореферат, добавлен 16.02.2018Взаимодействие электронного зонда с образцом. Принципиальные основы работы растрового электронного микроскопа. Особенности подготовки образцов и режимов исследования для получения максимальной разрешающей способности. Режим Y-модуляции; подавление шумов.
статья, добавлен 30.11.2018Использование математических моделей для расчета рассеянных световых полей в ближней зоне для эталонных поверхностей с нанометровым рельефом. Разработка алгоритмов обработки СЗМ изображений поверхности (вейвлет-преобразования, фрактальный анализ).
автореферат, добавлен 13.04.2018Анализ данных по примесному составу слитков мультикремния, выращенных при разных скоростных и тепловых режимах. Выявление разновидностей протяженных дефектов в мультикремнии методами селективного травления и разных видов микроскопии травления.
автореферат, добавлен 26.07.2018Разработка оптико-электронной системы контроля соосности на базе двух ретрорефлекторов. Анализ погрешностей системы, проведение исследований в лабораторных условиях. Соотношение требуемого значения линейного размера пикселя от яркости ПИД и прямого тока.
статья, добавлен 07.12.2018Большие скорость и энергия: основные свойства электрона. Понятие электронного облака (атомная орбиталь), его виды. Проблема определения местоположения электронов в пространстве. Уровни электронной оболочки. Правила заполнения электронами атомной орбитали.
презентация, добавлен 28.08.2014Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов, их сканирующие элементы (сканеры). Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца. Порядок формирования и обработки СЗМ изображений. Процесс защиты зондовых микроскопов от внешних воздействий.
учебное пособие, добавлен 18.05.2013Знакомство с основными особенностями моделирования САР освещенности динамической системы освещения на RGB-светодиодах. Общая характеристика способов повышения энергетической и биологической эффективности использования искусственных источников света.
статья, добавлен 20.05.2021Применение зондов из вольфрамовой проволоки в сканирующих туннельных микроскопах. Рассмотрение метода электрохимического травления в растворе щелочи. Погружение в электролит кольцевого электрода. Изменение напряжения на зонде в процессе травления.
статья, добавлен 02.04.2014Методические решения применения технологических ускорителей электронов для ядерных исследований. Средства адаптации радиационной установки ИЯИ НАН Украины с ускорителем электронов для исследований сечений электронного возбуждения изомерных состояний ядер.
статья, добавлен 22.08.2013Условие эксплуатации и применения компонентов электронной техники. Основные параметры общих и специальных резисторов. Характеристики и параметры конденсаторов с диэлектрическим органическим изолятором. Разновидности и типы трансформаторов и дросселей.
учебное пособие, добавлен 21.12.2011Характеристика автоматизированной системы управления хозяйством электрификации и электроснабжения. Анализ порядка ведения графической информации в базе данных. Создание электронной схемы плана контактной сети станции. Выбор типа артельной подвески.
дипломная работа, добавлен 26.09.2017Симметрия кристаллических веществ. Элементарная ячейка кубического кристалла. Статистика электронов. Основы классической электронной теории металлов. Физические процессы в проводниках. Назначение и определение датчиков температуры и радиаторов охлаждения.
учебное пособие, добавлен 24.06.2014Создание растрового электронного микроскопа (РЭМ) и его популярность у физиков, химиков, криминалистов. Развитие методов исследования, позволяющих объяснить явления, происходящие в микромире. Высокая яркость и эффективность использования электронов.
курсовая работа, добавлен 08.12.2014Выбор и расчет системы общего искусственного освещения в помещениях гальванического цеха, составление плана цеха с размещением светотехнического оборудования. Расчет электроснабжения системы освещения. Управление освещением и техническое обслуживание.
курсовая работа, добавлен 18.06.2014Измерение размеров микроструктур в субмикронном диапазоне. Измерение профиля полупроводниковых структур. Образование методической погрешности при контроле профиля элемента методом атомно-силовой микроскопии. Калибровки с применением мер малой длины.
реферат, добавлен 29.03.2020Оценка энергоэффективности светодиодного освещения автомобильных дорог. Замена централизованного электроснабжения на автономное от возобновляемых источников световой энергии. Система освещения с автономными источниками энергии на базе солнечных панелей.
статья, добавлен 10.10.2019Краткая характеристика проектируемого кафе. Расчет электрических нагрузок, освещения, системы компенсации реактивной мощности. Выбор электрической схемы, кабелей, электрических аппаратов и вспомогательного оборудования. Расчет токов короткого замыкания.
курсовая работа, добавлен 26.10.2023- 74. Зворыкин Владимир Кузьмич, изобретение электронного микроскопа и передающей телевизионной трубки
Краткая биография В.К. Зворыкина русско-американского инженера, изобретателя современного телевидения. История создания приемно-телевизионной трубки с электростатической фокусировкой. Особенности изобретения электронного микроскопа с Дж. Хиллиером.
реферат, добавлен 02.12.2014 Характеристика типов источников света и осветительных приборов. Описание вида и системы освещения. Выбор норм освещенности производственного помещения. Анализ особенностей аварийного и ремонтного освещения. Расчет системы питания осветительной сети.
курсовая работа, добавлен 30.05.2017