Как разработать IBIS-модели
Анализ и использование I/O Buffer Information Specification. Измерение вольтамперных характеристик, описание процесса проведения измерений на переменном токе. Разработка интегральных схем на основе моделирования из качественной аналоговой модели.
Подобные документы
Характеристика математической модели цифрового средства измерений, содержащего многошаговый аналого-цифровой преобразователь последовательных приближений (АЦП). Расчетные соотношения для оценки результата измерений с учетом особенностей построения АЦП.
статья, добавлен 18.07.2013Получение методом моделирования статических выходных и входных характеристик биполярного транзистора заданной марки. Исследование влияния температуры на данные характеристики. Расчет параметров транзистора, анализ их зависимости от тока в активном режиме.
контрольная работа, добавлен 14.02.2015Использование методов компьютерного моделирования при разработке и проектировании новых оптико-электронных систем (ОЭС). Разработка общей методологии (принципов и методов) компьютерного моделирования ОЭС. Методы оценки адекватности компьютерной модели.
автореферат, добавлен 04.02.2018Особенности процесса построения интеллектуальных систем автоматизированного проектирования сверхбольших интегральных схем. Формирование символьного представления решения задачи канальной трассировки. Механизмы трассировки на основе роевого интеллекта.
статья, добавлен 19.01.2018Принципы компьютерного моделирования схем на базе метода узловых потенциалов с использованием ступенчатой аппроксимации вольт-амперной характеристики диода. Разработка визуального обучающего конструктора. Пример моделирования диодно-резистивной схемы.
статья, добавлен 21.06.2018Особенности полевых транзисторов с изолированным затвором, которые используются в глубокоохлаждаемых фотоприемных устройствах. Разработка гибридной таблично-аналитической модели полевого транзистора для электронных симуляторов интегральных схем.
статья, добавлен 30.05.2017Анализ погрешностей информационно-измерительных систем АСУ ТП. Особенности функционирования компонентов измерительных каналов с учетом реальных условий эксплуатации. Стохастические модели погрешностей измерений на основе теории стохастических процессов.
монография, добавлен 25.04.2014Анализ параметров математической модели погрешностей блока чувствительных элементов бесплатформенной инерциальной навигационной системы на основе обработки измерений первичных датчиков. Влияние ошибок выставки на точность оценки параметров модели.
статья, добавлен 28.10.2018История развития программируемых логических интегральных схем (ПЛИС). Назначение и принцип работы ПЛИС, их производители. Влияние развития ПЛИС на конструирование и технологию печатного узла. Разработка рекомендации по установке ПЛИС на печатные платы.
монография, добавлен 09.02.2017Методика кластеризации функциональных характеристик операторов АСУ на основе дифференциальной модели обучения специального вида. Математическое описание процессов обучения операторов на основе дифференциальных моделей. Эффективность операционных средств.
статья, добавлен 02.09.2013Анализ моделей расчета характеристик надежности электронных компонентов. Обоснование выбора языка программирования и средств разработки. Аналитический расчёт параметров модели. Разработка программы и алгоритма. Спецификация интерфейса, состав программы.
дипломная работа, добавлен 19.08.2020Автоматизация процесса измерений в производстве деталей оборудования. Применение контактного щупа (резистивного прибора), точность проведения измерений. Наладка модульной системы OMM-2. Интерфейс OSI. Принцип действия координатно-измерительных машин.
контрольная работа, добавлен 20.02.2018Использование интегральных микросхем в радиоэлектронной аппаратуре. Назначение арифметически-логических интегральных схем. Классификация сумматоров, выбор и обоснование функциональной схемы. Расчет потребления мощности, быстродействия и надежности.
реферат, добавлен 06.03.2010Измерение частоты и интервалов времени с помощью электронно-счетного частотомера. Исследование метрологических характеристик вольтметра, осциллографа. Описание схем и приборов для измерения параметров элементов цепей с сосредоточенными постоянными.
методичка, добавлен 20.05.2015Роль тонкопленочной технологии в производстве интегральных схем. Тонкопленочная металлизация полупроводниковых приборов и интегральных схем. Фактор, влияющий на свойства тонких пленок. Процесс изготовления двухуровневой металлизации в системе А1-А1гОз-А1.
контрольная работа, добавлен 21.01.2017Анализ технического задания и разработка структурной, функциональной и принципиальной схем кодера PAL. Разработка конструкции и экспериментальное исследование характеристик устройства. Безопасность и экологичность проекта при разработке и эксплуатации.
дипломная работа, добавлен 25.10.2011Описание системологического подхода к исследованию параметров радиоэлектронных средств (РЭС). Структура табличного отображения переменных системы с течением времени. Критерии выбора параметров РЭС, использующихся для построения системологической модели.
статья, добавлен 14.01.2017- 43. Исследование вольтамперных характеристик выпрямительного диода и полупроводникового стабилитрона
Изучение принципа работы и исследование статистических вольтамперных характеристик выпрямительного диода и полупроводникового стабилитрона. Понятие электронно-дырочного перехода. Принцип действия, конструктивное выполнение и основные параметры диода.
методичка, добавлен 15.12.2014 Виды микрооптикоэлектромеханических систем. Анализ конструкции интегральных микромеханических зеркал с крестообразным и интегрированным внутренними подвесами. Разработка модели равновесия зеркальных элементов и ее использование при их проектировании.
статья, добавлен 30.05.2017Характеристика метода имитационного моделирования. Исследование функционирования системы массового обслуживания типа G/G/1/K. Сравнение результатов задержки сигнала на ожидание с помощью имитационного моделирования и с использованием аналитической модели.
контрольная работа, добавлен 12.12.2021Анализ нового метода измерения интегральных характеристик, основанный на формировании дополнительных сигналов, сдвинутых по фазе относительно основного, и сравнении мгновенных значений основного и дополнительных сигналов. Схема системы, реализующей метод.
статья, добавлен 28.01.2020Оптические показатели, подлежащие измерению в PON сетях широкополосного мультисервисного доступа. Рекомендации по выбору измерительного оборудования. Изучение схем измерений и тестирования связи. Практика проектирования пассивных оптических линий.
статья, добавлен 26.11.2017Функции, механические свойства и технические требования к подложкам интегральных микросхем. Определение суммарного припуска на механическую обработку и коэффициента использования материала. Ломка подложек на платы. Сущность процесса скрайбирования.
курсовая работа, добавлен 03.12.2010Разработка и характеристика электрических схем аналоговых устройств на основе биполярных и полевых транзисторов. Исследование принципов работы гибридных интегральных микросхем. Ознакомление с особенностями структурной схемы двухкаскадного усилителя.
курсовая работа, добавлен 06.02.2017Понятие интегральной микросхемы, разработка элементов совместимости материалов. Монтаж активных компонентов гибридной схемы, ее классификация в зависимости от процесса формирования пассивных элементов. Базовая технология создания полупроводниковых схем.
реферат, добавлен 01.02.2011