Как разработать IBIS-модели
Анализ и использование I/O Buffer Information Specification. Измерение вольтамперных характеристик, описание процесса проведения измерений на переменном токе. Разработка интегральных схем на основе моделирования из качественной аналоговой модели.
Подобные документы
Значение физической величины и ее измерение. Группы мер и измерительных приборов. Погрешности прямых многократных измерений. Основные положения метрологического обеспечения. Классификация электрорадиоизмерительных приборов. Измерение тока и напряжения.
курс лекций, добавлен 06.02.2014Проект модели устройства реализующего метод ввода по сечениям. Разработка принципиальной схемы и выбор элементной базы. Проектирование модели модуля сжатия и функциональных схем отдельных узлов. Расчет надежности устройства и выбор блока питания.
курсовая работа, добавлен 01.11.2012Роль тонкопленочной технологии в производстве интегральных схем и в процессе металлизации полупроводниковых приборов. Основные факторы, влияющие на свойства тонких пленок. Сущность подложки, основные виды и задачи. Тонкопленочные резисторы, конденсаторы.
реферат, добавлен 17.03.2013Проблема прогнозирования надежности радиоэлектронной аппаратуры. Анализ модели прогнозирования интенсивности отказов микросхем с точки зрения возможности разделения интенсивности отказов микросхемы на сумму напряженностей отречений кристалла и корпуса.
статья, добавлен 08.12.2018Классификационные признаки и назначение полупроводниковых выпрямителей. Исследование однофазных одно- и двухполупериодных схем выпрямления и сглаживающих LC-фильтров. Построение вольтамперных характеристик неуправляемого и управляемого выпрямителей.
лабораторная работа, добавлен 21.11.2017Новый метод определения интегральных характеристик, основанный на сравнении мгновенных значений гармонических сигналов и обеспечивающий сокращение времени измерения. Приводится схема системы, реализующей метод и результаты анализа погрешности квантования.
статья, добавлен 28.01.2020Изучение алгоритма индикации неисправностей и модели устройства контроля для строго самосинхронных схем. Анализ эффективности обнаружения однократных константных неисправностей. Описание основных направлений использования разработанной архитектуры.
статья, добавлен 28.02.2016Аппроксимация передаточной характеристики нелинейного элемента. Имитационное моделирование функционирования SDR-радиостанций. Методика определения параметров модели нелинейного элемента. Спектр двухтонового сигнала на выходе реального усилитель мощности.
статья, добавлен 02.04.2019Понятие и сущность средств измерений, их описание, отличительные черты и использование. Классификация средств измерений, их метрологические характеристики. Поверка и сертификация средств измерений, мера физической величины и измерительные приборы.
реферат, добавлен 02.07.2015Измерение температуры корпуса диода. Изготовление паза для размещения проводов. Изучение общего вида электронного термометра ТМ-977. Схема 20-ти ступенчатого источника стабильных токов. Сборка экспериментальной установки. Получение математической модели.
лабораторная работа, добавлен 02.05.2015- 61. Электроника
Материалы электронной техники и их электрофизические свойства. Полупроводниковые приборы: физические основы работы, параметры, модели, применение. Основы технологии микроэлектронных изделий и элементы интегральных схем. Приборы вакуумной электроники.
презентация, добавлен 23.01.2014 Разработкаи особенности метода построения модели потерь кадров в виде марковского канала с конечными состояниями. Характеристика и специфика метода построения модели потерь кадров в форме скрытой марковской модели с использование алгоритма Баума-Вэлша.
автореферат, добавлен 31.07.2018Модели целей для использования в цифровой имитационной математической модели, основанной на фацетном представлении поверхности летательного аппарата и использующей компьютерную программу 3D Studio Max для получения радиолокационных характеристик.
статья, добавлен 27.02.2019Применение в народном хозяйстве электронной цифровой вычислительной техники. Поколение ЭВМ на основе интегральных схем с большой степенью интеграции элементов (БИС). Микропроцессорные вычислительные машины на основе БИС. Структура микропроцессора.
реферат, добавлен 25.01.2016Влияние параметров межсоединений на динамические характеристики печатных плат, интегральных схем. Требования к оборудованию рабочих мест, освещенности. Уменьшение паразитной индуктивности проводников на печатной плате. Погонная емкость между проводниками.
дипломная работа, добавлен 30.07.2016Анализ основных эффектов и причин воздействия космического излучения на электронную аппаратуру. Исследование влияния одиночных сбоев на работу цифровых устройств, поиск методов защиты. Определение обобщенного критерия надежности для интегральных схем.
статья, добавлен 28.04.2017Классификация понижающих конверторов, их особенности и основные трудности реализации в СВЧ и КВЧ диапазонах. Исследование гибридной технологии многослойных интегральных схем на основе керамики с низкой температурой обжига — КНТО, ее использование.
статья, добавлен 27.02.2019Электрическая схема потенциометрического датчика. Использование ламельных потенциометрических датчиков для проведения грубых измерений. Статическая характеристика нереверсивного потенциометрического датчика. Нагрузка индуктивная с активной составляющей.
реферат, добавлен 21.04.2015Разработка современных элементов системы радиочастотной идентификации. Исследование архитектуры интегральной схемы со встроенной планарной антенной. Использование дополнительных синхронизирующих инверторов. Собственные частота и длина волны антенны.
статья, добавлен 28.05.2017Наноэлектроника – область современной электроники, занимающаяся разработкой физических и технологических основ создания интегральных электронных схем и устройств на их основе. Разработка электронных устройств со сверхмалыми размерами; методы их получения.
доклад, добавлен 23.03.2019Разработка модели процесса расходования ресурса радиоэлектронного средства (РЭС), основанного на термодинамическом описании физико-химического механизма явлений массопереноса. Оценка кинетики деградационных процессов и динамики ресурсных свойств РЭС.
статья, добавлен 14.01.2017Понятие и методы технологического контроля при изготовлении интегральных схем. Особенности пооперационного, визуального контроля и тестовых интегральных микросхем. Основные виды контрольных испытаний: параметрические, функциональные, диагностические.
реферат, добавлен 01.09.2013Обоснование необходимости определения суммарной погрешности рабочего и эталонного средств измерений при осуществлении контроля их метрологических характеристик. Рассмотрение применения контрольных карт Шухарта для контроля измерительного процесса.
статья, добавлен 30.09.2016Знакомство с моделями активных элементов и принципами построения приборов для измерения параметров активных элементов электрических цепей. Измерение вольтамперных характеристик полупроводниковых приборов. Расчет основных параметров в рабочем режиме.
лабораторная работа, добавлен 29.01.2015Технология получения керамики. Требования к подложкам микросхем. Конструктивно-технологические особенности толстопленочных интегральных микросхем. Схема процесса изготовления плат тонкопленочных гибридных интегральных схем. Сущность скрайбирования.
курсовая работа, добавлен 03.12.2010