Отказ, виды отказов и дефекты полупроводниковых приборов

Понятие отказа и неполадок. Обзор неразрушающих методов испытания элементов РЭА. Прогнозирование надежности ППП по уровню собственных шумов. Методы измерения НЧ шумов. Автоматизация измерения НЧ шумов полупроводниковых приборов и интегральных схем.

Подобные документы

  • Классификация автоматических систем регулирования. Характеристики и модели элементов и систем. Измерения технологических параметров. Государственная система приборов. Виды первичных преобразователей. Приборы для измерения температуры, сопротивления.

    методичка, добавлен 21.12.2015

  • Сравнение достоинств и недостатков электронных ламп и полупроводниковых приборов. Рассмотрение устройства электровакуумных и газоразрядных приборов. Изучение их классификации, обозначения и электрических параметров. Исследование электронно-лучевых трубок.

    лекция, добавлен 22.04.2015

  • Обоснование оцениваемых показателей надежности печатного узла. Модели прогнозирования эксплуатационной интенсивности отказов элементов. Коэффициенты электрической нагрузки элементов. Произведение расчета эксплуатационной интенсивности отказов элементов.

    курсовая работа, добавлен 14.02.2016

  • Физико-химические и технологические основы получения легированных анодных оксидных пленок кремния для создания элементов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Кинетика анодного окисления кремния и его соединений в легирующих электролитах.

    автореферат, добавлен 30.01.2018

  • Изучение активных полупроводниковых приборов, управляемых электрическим полем. История создания полевых транзисторов и их классификация. Исследование приборов с управляющим p-n-переходом и изолированным затвором. Схемы включения и область применения.

    реферат, добавлен 14.05.2015

  • Обзор методов (контактный, бесконтактный, люминесцентный) и приборов измерения температуры. Расчёт погрешности измерительного прибора. Моделирование печатной платы и схемы термоанемометра. Создание корпуса и компоновка основных узлов на лицевой панели.

    курсовая работа, добавлен 26.06.2015

  • Сравнительный анализ построения комбинированных формирователей сигналов на основе ФАПЧ и ЦСС. Выражения, определяющие относительную спектральную плотность мощности фазовых шумов системы ФАПЧ. Графики зависимостей фазовых шумов от частоты расстройки.

    статья, добавлен 29.06.2016

  • Понятие надежности технических устройств, ее основные параметры. Эксплуатационные свойства изделий с позиций обеспечения надежной работы, понятие работоспособности и отказа, классификация отказов. Структурная надежность аппаратуры и методы ее повышения.

    реферат, добавлен 17.12.2014

  • Создание spice-модели компонентов для моделирования схемы в среде Altium Designer. Определение параметров полупроводниковых приборов, индуктивных элементов и цифровых компонентов. Методика расчетов в процессе проектирования цифровых электронных схем.

    курсовая работа, добавлен 26.10.2017

  • История изобретения полупроводниковых приборов диода и транзистора, принципы их работы и дальнейшее применение. Разработка и появление интегральных микросхем, особенности их применения. Технологии изготовления элементной базы для электронной техники.

    реферат, добавлен 09.12.2015

  • Технологический цикл изготовления структур транзисторов, резисторов и конденсаторов при производстве полупроводниковых интегральных схем. Пример профиля структуры полупроводниковой ИС. Применение ИС вместо дискретных элементов электронных устройств.

    презентация, добавлен 23.09.2016

  • Движение электронов в вакууме в режиме объемного заряда. Электронно-оптические системы электронно-лучевых приборов. Газоразрядные приборы, основанные на использовании излучения плазмы. Физические основы полупроводниковых приборов. Квантовая электроника.

    учебное пособие, добавлен 06.09.2017

  • Анализ методики измерения параметров объектов телекоммуникаций ОТК на основе технологии виртуальных приборов которая опирается на методику выполнения прямых измерений с многократными независимыми наблюдениями и основные положения обработки результатов.

    статья, добавлен 15.08.2020

  • Измерение частоты и интервалов времени с помощью электронно-счетного частотомера. Исследование метрологических характеристик вольтметра, осциллографа. Описание схем и приборов для измерения параметров элементов цепей с сосредоточенными постоянными.

    методичка, добавлен 20.05.2015

  • Принципы построения функциональных и принципиальных схем автоматизации технологического оборудования и установок. Правила построения графических и буквенно-цифровых условных обозначений элементов схем. Характеристика приборов и средств автоматизации.

    методичка, добавлен 07.01.2014

  • Обзор цифровых сигнальных микроконтроллеров компании NXP, Freescale Semiconductor, Atmel Corporation. Разработка алгоритма программы проектируемого цифрового фильтра. Расчет мощности его собственных шумов. Цифровая обработка сигналов в активных фильтрах.

    курсовая работа, добавлен 11.12.2013

  • Математический анализ шумовых свойств системы фазовой автоподстройки частоты со смесителем в цепи обратной связи. Расчет спектральной плотности мощности шумов выходного сигнала. Шумовые характеристики выходного сигнала системы с конкретными параметрами.

    статья, добавлен 14.01.2017

  • Понятие и принцип работы аналоговых электроизмерительных приборов, их обобщённая структурная схема. Метрологические характеристики и параметры электроизмеритетельных приборов. Основные технические показатели средств измерения. Диапазон и предел измерений.

    реферат, добавлен 10.01.2013

  • Четырёхзондовый метод измерения удельного поверхностного сопротивления полупроводниковых подложек и тонких плёнок. Определение типа проводимости полупроводниковых подложек на оборудовании. Расчет тонкопленочных резисторов гибридной интегральной схемы.

    лабораторная работа, добавлен 26.03.2022

  • Анализ основных эффектов и причин воздействия космического излучения на электронную аппаратуру. Исследование влияния одиночных сбоев на работу цифровых устройств, поиск методов защиты. Определение обобщенного критерия надежности для интегральных схем.

    статья, добавлен 28.04.2017

  • Изучение устройства и назначения пассивных элементов электрических цепей: резисторы, конденсаторы, катушки индуктивности. Техническая характеристика полупроводниковых приборов с p–n переходом: диоды, стабилизаторы, варикап. Операционные схемы усилителей.

    курс лекций, добавлен 05.07.2013

  • Анализ методов уменьшения собственных шумов, пространственной селекции, сужения полосы пропускания для повышения чувствительности аппаратуры радионавигационных систем. Ограничения по исполнению адаптивных антенн. Схема корреляционного приёмника.

    статья, добавлен 29.04.2018

  • Проблема прогнозирования надежности радиоэлектронной аппаратуры. Анализ модели прогнозирования интенсивности отказов микросхем с точки зрения возможности разделения интенсивности отказов микросхемы на сумму напряженностей отречений кристалла и корпуса.

    статья, добавлен 08.12.2018

  • Параметры и виды полупроводниковых и гибридных интегральных микросхем. Создание плёночных ИМС. Основные характеристики микроэлектронных изделий. Методы, применяемые для формирования конфигураций проводящего, резистивного и диэлектрического слоев.

    реферат, добавлен 22.03.2013

  • Основные понятия состояния прибора: безотказность, ремонтопригодность, сохраняемость. Показатели надежности для восстанавливаемых и невосстанавливаемых приборов. Оценка показателей надежности прибора как сложного объекта. Надежность типовых конструкций.

    курс лекций, добавлен 02.08.2015

Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т.д.
PPT, PPTX и PDF-файлы представлены только в архивах.
Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке.